2.紫外压印光刻胶：使用透明的模板，将预先制作好的带有微图形特征的硬模版压入常温下液态光刻胶中，用紫外光将光刻胶固化后抬起模板，从而将模板上的微特征转移到光刻胶上。按照光引发反应机理，可分为自由基聚合和阳离子聚合两大体系 [42]。光刻胶材料主要有甲基丙烯酸酯体系、有机硅改性的丙烯酸或甲基丙烯酸酯体系、乙烯基醚体系、环氧树脂体系等。 [3...

  前面提到抛光头很重要的一个功能是夹持晶圆，实现晶圆在装卸工位与抛光工位之间的快速、可靠传输。在CMP技术的发展历程中出现过机械夹持、石蜡粘接、真空吸盘等多种夹持方式，但以上方式在效率、可靠性、洁净度等方面已无法满足**CMP装备的要求。 多区抛光头采用真空吸附方法夹持晶圆，基本原理如图2所示。首先对多区气囊施加正压，将气囊与晶圆之间的空气...

  Fabless模式Fabless（无晶圆厂）模式是指企业*专注于集成电路的研发、设计和销售，而将晶圆制造、封装和测试等生产环节外包给专业的Foundry和OSAT厂商 [2] [7] [11]。例如，康希通信采用Fabless经营模式 [5]。演变与趋势Foundry模式正在演进，晶圆代工厂不再只是晶圆供应商，正转型为基础设施提供商。晶圆...

  晶圆代工指的是专门从事晶圆制造生产的企业，接受其他无晶圆厂芯片设计公司的委托，为其完成晶圆制造的环节。晶圆是制造半导体芯片的基础材料，通常是由硅制成的薄圆盘。半导体产业链通常包括芯片设计、晶圆制造、封装测试等主要环节，晶圆制造环节处于产业链的中游，起着承上启下的作用 [18]。半导体行业主要商业模式包括集成器件制造（IDM）、无晶圆厂（F...

  载流子浓度多数半导体器件为少数载流子器件，如硅太阳能电池。本文后续提到的载流子参数均为少数载流子参数。半导体在热平衡状态下，空穴和电子浓度相等，此时为稳态；当受到外部激励（光、电、热等能量激励）时，半导体处于非平衡状态，电子和空穴均增加，形成过剩载流子。载流子寿命（lifetime），是指过剩载流子平均存在时间，载流子浓度满足指数衰减规律...

  在全球晶圆代工产能不足的情况下，车用半导体受产能排挤影响***。2021年美国德州寒潮导致三星、恩智浦、英飞凌等公司晶圆厂停产 [14]。中国大陆晶圆代工产业正在经历从“追赶”到“并跑”的关键转型期。虽然在**的2纳米、3纳米制程上仍有差距，但在成熟制程、特色工艺、化合物半导体等领域，中国企业正在缩小差距甚至实现局部** [12]。202...

  扫描近场光学显微镜(SNOM)是利用被测样品表面附近近光场的特性，来探测其表面形貌。其分辨率可远远超过常规显微镜分辨率的限制(λ/2)。 [1]目前半导体工业中常用的成像检测方法主要包括自动光学检测、X射线检测、电子束检测等。扫描电子显微镜(SEM)是 1965 年发明的显微物体研究工具。SEM是用电子束去扫描样品，造成样品的二次电子发射...

  以KrF激光为光源的248 nm光刻，已可以生产256 M至1 G的随机存储器，其比较好分辨率可达0.15 μm，但对于小于0.15 μm的更精细图形加工，248 nm光刻胶已无能为力了，这时候需要193 nm（ArF激光光源）光刻。光刻技术从248 nm转变为193 nm时，由于以前的i线光刻胶、248 nm光刻胶由于含有苯环结构，在1...

  复旦大学陆雄等采用先激光开槽后机械刀片划片工艺划切low-k介质硅晶圆材料，相比于直接刀片划片，芯片结构完整且无金属层脱落、翻起现象，但工艺过程繁琐，划片成本高。Yu Zhang 等发现通过提高刀片旋转过程的阻尼比，一定程度上可降低刀具高速旋转过程中的振动现象，从而提高开槽性能，减小崩边尺寸，但是没有进行深入研究。 [5]单次划片，即一次...

  X射线光刻胶X射线对物质的化学作用类似电子束，X射线曝光时，X射线本身并不能直接引起光刻胶的反应，它的能量是消耗的光电子放射过程而产生低能电子束上。正是这些低能电子使光刻胶的分子离化，并激励产生化学反应，使光刻胶分子间的结合键解离，或键合成高分子，在某些显影液中变成易溶或不溶。X射线光刻胶和电子束光刻胶没有本质的区别 [40]，因此所有的...

  1.金属氧化物类型：其特点是金属氧化物的引入可以提高体系的吸光度，进而提高光刻的感光速度，另一方面金属氧化物可以提高体系的抗蚀能力，降低光刻胶的膜厚，进一步提高分辨率。 [22]2.化学增幅型光刻胶：即在传统化学增幅型光刻胶的基础上进行性能改进，如采用聚合物键合光致产酸剂（PBP，Polymer Bond PAG）改善线条边缘粗糙度（LE...

  抗蚀性（Anti-etching; Etching resistance）即光刻胶材料在刻蚀过程中的抵抗力。在图形从光刻胶转移到晶片的过程中，光刻胶材料必须能够抵抗高能和高温（>150℃）而不改变其原有特性 [4]。在后续的刻蚀工序中保护衬底表面。耐热稳定性、抗刻蚀能力和抗离子轰击能力 [5]。在湿法刻蚀中，印有电路图形的光刻胶需要连同硅...