当硅晶圆经过加工、制造形成硅太阳能电池后，由于pn结和费米能级的差异，导致载流子分离形成电压，进而有饱和电流、填充因子和光电转化效率等电性能参数直观反映并影响太阳能电池伏安特性。综上分析，硅晶圆的主要特性参数包括载流子参数。 [4]载流子分为多数载流子和少数载流子，包括电子和空穴。载流子扩散和漂移形成电流构成半导体器件传递信息的基础。载流...

  3.不饱和体系：若聚合物中含有双键，很容易在电子束照射下发生交联反应，因此常用的负性光刻胶如聚乙烯醇肉桂酸酯和叠氮-橡胶系光刻胶都可用来做负性电子束光刻胶，但灵敏度较低。烷基乙烯基醚和顺丁烯二酸酐共聚体的烯丙酯是一个灵敏度较高的负性电子束光刻胶（灵敏度可达4×10-8 C/cm2），而且稳定性好。另一种常用的负性胶是氯甲基苯乙烯的聚合物或...

  以KrF激光为光源的248 nm光刻，已可以生产256 M至1 G的随机存储器，其比较好分辨率可达0.15 μm，但对于小于0.15 μm的更精细图形加工，248 nm光刻胶已无能为力了，这时候需要193 nm（ArF激光光源）光刻。光刻技术从248 nm转变为193 nm时，由于以前的i线光刻胶、248 nm光刻胶由于含有苯环结构，在1...

  Foundry模式Foundry（晶圆代工厂）是专注于为其他公司（主要是Fabless公司）提供晶圆制造服务的专业工厂，不负责芯片设计 [2] [7] [10]。**企业有台积电（TSMC）、中芯国际（SMIC）、联华电子（UMC）、华虹集团、格罗方德（GlobalFoundries）等 [2]。晶圆代工厂正从单纯的晶圆产出向“设计基础设...

  供需格局的剧烈变化使得存储市场进入被称为“超级牛市”的阶段，供应商议价能力已达到历史比较高水平。多家存储芯片企业已相继公布扩产计划，由于产能释放需要时间周期，内存紧缺的状态可能还会维持一段时间 [15]。我们会听到几寸的晶圆厂，如果硅晶圆的直径越大，**著这座晶圆厂有较好的技术。另外还有scaling技术可以将电晶体与导线的尺寸缩小，这两...

  光刻胶主要应用于显示面板、集成电路和半导体分立器件等细微图形加工作业 [6]。光刻胶生产技术较为复杂，品种规格较多，在电子工业集成电路的制造中，对所使用光刻胶有严格的要求。 [2]1826年，法国人涅普斯（J. N. Niepce）较早发现了具有感光性的天然沥青，使用低黏度质量沥青涂覆玻璃板，预干后，置于相机暗盒内，开启曝光窗，经光学镜头...

  以KrF激光为光源的248 nm光刻，已可以生产256 M至1 G的随机存储器，其比较好分辨率可达0.15 μm，但对于小于0.15 μm的更精细图形加工，248 nm光刻胶已无能为力了，这时候需要193 nm（ArF激光光源）光刻。光刻技术从248 nm转变为193 nm时，由于以前的i线光刻胶、248 nm光刻胶由于含有苯环结构，在1...

  晶圆厂对无尘环境要求很高，制造半导体微芯片的大部分工作都需要在洁净室中进行，人员进入车间需要穿戴无尘服 [8-9]。由于生产设备需要24小时运转，晶圆厂普遍存在轮班作业制度，通常需要上夜班且基本实行三班倒 [9]。晶圆厂内的主要职业岗位包括工艺工程师（PE）、设备工程师（EE）、工艺整合工程师（PIE）、良率工程师（YE）、质量工程师（Q...

  X射线无损检测技术与数字图像处理技术相结合，可以对器件内部连线进行高分辨率检测。安捷伦的市场占有率较高，典型产品有5DX系统。 [1]自动光学检测(AOI)技术是一种基于光学原理的检测技术，它通过精密仪器平台的运动、图像采集装置结合数字图像处理技术，对样品表面的缺陷进行检测，优点是检测速度较快。AOI设备是近几年在国内发展比较迅速，算得上...

  压力控制系统通过气压方式对抛光头进行压力控制，其主要功能有：① 对晶圆和保持环进行压力加载；② 对抛光头抽负压以夹持晶圆；③ 检测各腔室是否漏气。 多区抛光头的压力控制原理如图3所示。抛光头气路的主要元件有气源、减压阀、电气比例阀、真空发生器、真空调压阀、两位三通阀、两位两通阀以及压力传感器等。抛光头共有五个压力腔室(Z1～Z5)，每个腔...

  纯度（Purity）指光刻胶必须在微粒含量、钠和微量金属杂质及水含量方面达到严格的标准要求 [40]。集成电路工艺对光刻胶的纯度要求是非常严格的，尤其是金属离子的含量。如由g线光刻胶发展到i线光刻胶材料时，金属Na、Fe和K离子的含量由10-7降低到了10-8 [4]。黏附性黏附性（Adherence）是表征光刻胶黏着于衬底的强度。主要衡...

  分层划片工艺，如图5所示。根据划片材料的厚度，在划片深度方向采用分层进给的方式进行划片。首先进行开槽划片，采用比较小的进给深度，以保证刀具受力小，降低刀具磨损，减小划片刀崩边，然后再划片到UV膜厚度1/2的位置。 [5]半导体工业对于晶圆表面缺陷检测的要求，一般是要求高效准确，能够捕捉有效缺陷，实现实时检测。较为普遍的表面检测技术主要可以...