原因包括AI相关的电源管理芯片需求稳健增长挤占产能、部分消费类芯片客户担忧后续成本提高及产能被挤占而提前备货、部分巨头产能调整等。AI产业浪潮正深刻重塑全球半导体产能布局，伴随AI算力芯片的需求激增，台积电、三星等国际大厂纷纷将产能资源向先进制程倾斜，收缩成熟制程产能，进一步加剧了全球成熟制程供给缺口 [21]。例如，中芯国际已于2025...

  X射线无损检测技术与数字图像处理技术相结合，可以对器件内部连线进行高分辨率检测。安捷伦的市场占有率较高，典型产品有5DX系统。 [1]自动光学检测(AOI)技术是一种基于光学原理的检测技术，它通过精密仪器平台的运动、图像采集装置结合数字图像处理技术，对样品表面的缺陷进行检测，优点是检测速度较快。AOI设备是近几年在国内发展比较迅速，算得上...

  抛光过程随着集成电路(Integrated circuit,IC)制造技术的不断发展，芯片特征尺寸越来越小，互连层数越来越多，晶圆直径也不断增大。要实现多层布线，晶圆表面必须具有较高的平整度、光滑度和洁净度，而化学机械抛光(Chemical mechanical polishing, CMP)是目前***的晶圆平坦化技术，它与光刻、刻蚀、...

  1.聚（甲基）丙烯酸甲酯（PMMA）及其衍生物体系：这是**早开发的一种电子束光刻胶体系，此类光刻胶具有优异的分辨率、稳定性和低成本。它是由单体（MMA）聚合而成，MMA单体的分子量为100，组成聚合物分子链的单体数量可达到数千个，分子量为100000量级。PMMA聚合体的物理化学特性在很大程度上取决于分子量。形成PMMA聚合体的原子间共...

  一个比较有意义的光分解反应是发生在高分子侧链上的化学反应，与一般有机物的分解反应类似，但由于侧链上基团的分解反应可以使高分子链溶解性质发生明显变化，即可以通过控制曝光区域来实现对高分子的溶解性的控制。 [1]正性光刻胶与一般负性光刻胶不同，主要是邻重氮醌化合物。在曝光过程中，邻重氮醌化合物吸收能量引起光化学分解作用，经过较为复杂的反应过程...

  抛光过程随着集成电路(Integrated circuit,IC)制造技术的不断发展，芯片特征尺寸越来越小，互连层数越来越多，晶圆直径也不断增大。要实现多层布线，晶圆表面必须具有较高的平整度、光滑度和洁净度，而化学机械抛光(Chemical mechanical polishing, CMP)是目前***的晶圆平坦化技术，它与光刻、刻蚀、...

  1.光敏剂与肉桂酰基的能量水准必须满足TS1≥TC1。实验发现二者取接近值时效果比较好。2.光敏剂必须比肉桂酰基在更长波长区域内具有有效的吸收。3.被吸收的能量易于向三线态进行系间窜跃（系间窜跃的量子收率大） [47]。正性光刻胶在光照的情况下，高分子链主链可能发生断链或降解（聚合的逆反应）。光降解反应使高分子材料老化，机械性能变坏；从而...

  晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片，其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种，然后慢慢拉出，形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨，抛光，切片后，形成硅晶圆片，也就是晶圆。国内晶圆生产线以 8英寸和12英寸为主。 [1]晶圆的主要加工方式为片加工和批加工，即同时加工1片或多片晶圆。随着半导体特征尺寸越来越小，加工及测量设备越来越...

  制造半导体微芯片的大部分工作都需要在洁净室中进行，除了洁净室，整个制造过程还需要使用高纯度气体、化学品等材料，所使用的水为去离子水 [8]。空白晶圆被送入晶圆厂后，会经历一个极其繁复的“PVD、CVD、光刻、蚀刻、注入”循环，这个过程可能要重复上百次，耗时数月 [12]。半导体产业的商业模式主要分为垂直整合制造（IDM）、晶圆代工（Fou...

  4.聚对羟基苯乙烯及共聚物：聚对羟基苯乙烯（polyhydroxystyrene, PHS or PHOST）衍生物类体系有两大优点：（1）不会出现酸扩散现象，所以不会对光刻的分辨率、线边缘粗糙度以及灵敏度产生影响；（2）聚对羟基苯乙烯受EUV辐照后，二次电子产率比其他聚合物都要高，含有多苯环结构能够保证它在图形转移过程中具有较高抗蚀性。...

  在CMP过程中抛光头主要起以下作用：①对晶圆施加压力；② 带动晶圆旋转并传递转矩；③ 保证晶圆与抛光垫始终贴合良好，不掉片、碎片。此外，在**CMP装备中抛光头比较好能在不借助外界条件的情况下依靠自身结构夹持晶圆，以提高生产效率。 [3]分区压力抛光头是衡量CMP装备技术水平高低的重要因素。其**思想来自Preston模型，根据该模型。根...

  晶圆分为无图案晶圆（Bare Wafer）和图案晶圆（Patterned wafer），如图6所示。考虑两种晶圆的缺陷类型的出发点有些不同。晶圆表面的缺陷类型很多，既有可能是工艺产生也有可能材质本身的缺陷。采用不同的缺陷检测方式，可能会对缺陷进行不同的划分。综合考虑缺陷的物理属性和后面缺陷检测算法的针对性，缺陷可以简单地分为表面冗余物（颗...