2.聚（烯烃-砜）体系：聚（烯烃一砜）是一类高敏感度，高分辨率的用于电子束正性光刻胶成膜树脂，其中主链中的C-S键键能比较弱，为259.59 kJ/mol，所以在电子束曝光下易发生断裂，引起聚（烯烃-砜）主链的分解，使得分子量变小，选择适当的显影液，被曝光的低分子量部分溶解掉，未曝光的高分子量部分得以保留，形成正性图形。聚（烯烃一砜）相比...

  为防止晶圆在旋转过程中被甩出，抛光头必须具有保持环结构。在CMP技术的发展历程中出现过两种保持环：固定保持环和浮动保持环。由于固定保持环无法避免边缘效应，目前的主流CMP装备均采用了浮动保持环，通过对浮动保持环施加不同的压力可以调节晶圆与抛光垫的接触状态，从而有效改善边缘效应。 [3]由于保持环与抛光垫紧密贴合，必须在保持环底部设计一系列...

  晶圆制造过程中需要使用多种易燃、易爆、有毒的化学品和特种气体，如硅烷、磷烷、砷烷等，存在安全风险。历史上曾发生过因化学品或辐射暴露导致的员工健康事故，例如三星电子半导体工厂有员工罹患白血病，以及工厂发生有毒气体泄漏或辐射泄露事故。行业对此类风险有严格的管理和防护要求 [9]。半导体行业技能学习难度高，对学历和技术要求较高。晶圆代工行业竞争...

  1942年，英国Eisler发明印刷电路板 [39]，重铬酸盐感光材料作为光敏抗蚀剂用于制造印刷线路板。重铬酸在紫外光作用下还原成三价铬离子，三价铬离子可和水溶性聚合物中的羰基、胺基、羟基等作用形成不溶的配位络合物。 [10]1943年，美国杜邦公司提交了世界***份有关光引发剂的发明专利，尽管这种二硫代氨基甲酸酯化合物感光活性较低，后来...

  为防止晶圆在旋转过程中被甩出，抛光头必须具有保持环结构。在CMP技术的发展历程中出现过两种保持环：固定保持环和浮动保持环。由于固定保持环无法避免边缘效应，目前的主流CMP装备均采用了浮动保持环，通过对浮动保持环施加不同的压力可以调节晶圆与抛光垫的接触状态，从而有效改善边缘效应。 [3]由于保持环与抛光垫紧密贴合，必须在保持环底部设计一系列...

  在CMP过程中抛光头主要起以下作用：①对晶圆施加压力；② 带动晶圆旋转并传递转矩；③ 保证晶圆与抛光垫始终贴合良好，不掉片、碎片。此外，在**CMP装备中抛光头比较好能在不借助外界条件的情况下依靠自身结构夹持晶圆，以提高生产效率。 [3]分区压力抛光头是衡量CMP装备技术水平高低的重要因素。其**思想来自Preston模型，根据该模型。根...

  前面提到抛光头很重要的一个功能是夹持晶圆，实现晶圆在装卸工位与抛光工位之间的快速、可靠传输。在CMP技术的发展历程中出现过机械夹持、石蜡粘接、真空吸盘等多种夹持方式，但以上方式在效率、可靠性、洁净度等方面已无法满足**CMP装备的要求。 多区抛光头采用真空吸附方法夹持晶圆，基本原理如图2所示。首先对多区气囊施加正压，将气囊与晶圆之间的空气...

  1832年，德国人舒柯（G. Suckow）发现重铬酸盐在明胶等有机物中具有感光性。1839年，英国人庞顿（S. M. Ponton）首先将重铬酸盐用于照相研究。1850年，英国人塔尔博特（F. Talbot）将重铬酸盐与明胶混合后涂在钢板上制作照相凹版获得了成功。19世纪中叶，德国人格里斯（J. P. Griess）合成出芳香族重氮化合...

  1997年，Intel公司成立了包括AMD、Motorola、Micron、Infineon和IBM的EUV LLC，并与由LBNL、LLNL和SNL组成的国家技术实验室（VNL）签订了极紫外光刻联合研发协议（CRADA）。1998年，日本开始极紫外光刻研究工作，并于2002年6月成立极紫外光刻系统研究协会（EUVA） [44]。1962...

  晶圆（Wafer）是半导体制造过程中使用的一种薄片，通常由硅（Si）或其他半导体材料制成。晶圆是集成电路（IC）和其他微电子器件的基础，制造过程中会在晶圆上进行光刻、刻蚀、掺杂等工艺，以形成电路和器件。晶圆的尺寸通常以直径来衡量，常见的尺寸有200mm（8英寸）和300mm（12英寸），近年来也有更大尺寸的晶圆在研发中。晶圆的生产过程包括...

  晶圆代工，又称Foundry，是半导体产业链中的关键制造环节。该模式源于集成电路产业的专业化分工，代工厂（Foundry）专注于为无晶圆厂（Fabless）设计公司提供芯片制造服务，而不自行设计产品。行业具有技术密集、资本密集和进入壁垒高的特点。全球市场呈现高度集中格局，台积电、三星等处于**地位，并竞相推进2纳米及更先进的制程技术。中国...

  晶圆分为无图案晶圆（Bare Wafer）和图案晶圆（Patterned wafer），如图6所示。考虑两种晶圆的缺陷类型的出发点有些不同。晶圆表面的缺陷类型很多，既有可能是工艺产生也有可能材质本身的缺陷。采用不同的缺陷检测方式，可能会对缺陷进行不同的划分。综合考虑缺陷的物理属性和后面缺陷检测算法的针对性，缺陷可以简单地分为表面冗余物（颗...