1.光敏剂与肉桂酰基的能量水准必须满足TS1≥TC1。实验发现二者取接近值时效果比较好。2.光敏剂必须比肉桂酰基在更长波长区域内具有有效的吸收。3.被吸收的能量易于向三线态进行系间窜跃（系间窜跃的量子收率大） [47]。正性光刻胶在光照的情况下，高分子链主链可能发生断链或降解（聚合的逆反应）。光降解反应使高分子材料老化，机械性能变坏；从而...

  实验发现，在聚乙烯分子链上适当引入吸电子基团，如氧或氟原子可使透过率明显提高。例如：高氟化聚乙烯醇类似物或聚乙烯醇均在157 nm有很好的透过率。另外，硅聚合物，如硅氧烷等，在157 nm有良好的透过率。实验还发现任何π键体系在157 nm均有较强吸收，所以必须设计新的酸性基团，例如采用有推电子效应的共轭基团使负电荷稳定，还有利用诱导效应...

  以KrF激光为光源的248 nm光刻，已可以生产256 M至1 G的随机存储器，其比较好分辨率可达0.15 μm，但对于小于0.15 μm的更精细图形加工，248 nm光刻胶已无能为力了，这时候需要193 nm（ArF激光光源）光刻。光刻技术从248 nm转变为193 nm时，由于以前的i线光刻胶、248 nm光刻胶由于含有苯环结构，在1...

  三星2nm工艺良率已从2024年初的30%提升至2025年的50%-60%，并计划在2026年底提升全球月产能，且已获得高通、特斯拉等客户订单 [8]，其目标是在2025年实现2nm工艺的量产并在2027年量产1.4nm工艺 [15]。其位于美国得克萨斯州泰勒市的先进制程晶圆厂的大规模量产预计将延迟至2027年初。三星电子预计从2026年...

  芯联集成是中国大陆主要的MEMS晶圆代工厂之一，全球排名前列，聚焦功率半导体、模拟IC与MEMS代工，2024年营收65.09亿元。 [13]晶合集成是12英寸晶圆代工企业，在显示驱动芯片（DDIC）和CMOS图像传感器（CIS）领域具备优势，全球市占率0.9%，专注于55nm至28nm成熟制程。 [14]2026年3月，该公司在投资者关...

  1954年，由柯达公司的明斯克(L. M. Minsk)等人研究成功的光敏剂增感的聚乙烯醇肉桂酸酯成为***个光固化性能的光刻胶 [39]，牌号KPR。先用于印刷工业，后用于电子工业。 [1]1958年，柯达公司发展出了叠氮-橡胶系的负性光刻胶 [42]，牌号为KMER和KTFR。1960年，出现邻重氮萘醌-酚醛树脂紫外正性光刻胶 [42...

  分层划片工艺，如图5所示。根据划片材料的厚度，在划片深度方向采用分层进给的方式进行划片。首先进行开槽划片，采用比较小的进给深度，以保证刀具受力小，降低刀具磨损，减小划片刀崩边，然后再划片到UV膜厚度1/2的位置。 [5]半导体工业对于晶圆表面缺陷检测的要求，一般是要求高效准确，能够捕捉有效缺陷，实现实时检测。较为普遍的表面检测技术主要可以...

  三星2nm工艺良率已从2024年初的30%提升至2025年的50%-60%，并计划在2026年底提升全球月产能，且已获得高通、特斯拉等客户订单 [8]，其目标是在2025年实现2nm工艺的量产并在2027年量产1.4nm工艺 [15]。其位于美国得克萨斯州泰勒市的先进制程晶圆厂的大规模量产预计将延迟至2027年初。三星电子预计从2026年...

  2026年3月，三星电子计划在美国得克萨斯州泰勒半导体园区建立第二座芯片厂，该项目已进入监管准备初期阶段，泰勒市议会已批准延长相关工程合同。第二工厂占地约25.1万平方米，规模与正在建设的***工厂相同。三星在泰勒购入1268英亩土地，计划打造**多可容纳10座晶圆厂的半导体产业集群，总投资计划从**初的170亿美元扩大至370亿美元，其...

  英特尔正向系统级代工转型，Intel 18A制程已进入风险试产并计划2025年内量产，Intel 14A制程已与客户展开合作。 [7]中芯国际2025年第四季度营业收入178.13亿元，同比增长11.9%，产能利用率95.7%，2025年资本开支81亿美元，并预计2026年收入增速高于同业平均。 [1]华虹集团2025年三季度总体产能利用...

  复旦大学陆雄等采用先激光开槽后机械刀片划片工艺划切low-k介质硅晶圆材料，相比于直接刀片划片，芯片结构完整且无金属层脱落、翻起现象，但工艺过程繁琐，划片成本高。Yu Zhang 等发现通过提高刀片旋转过程的阻尼比，一定程度上可降低刀具高速旋转过程中的振动现象，从而提高开槽性能，减小崩边尺寸，但是没有进行深入研究。 [5]单次划片，即一次...

  扫描近场光学显微镜(SNOM)是利用被测样品表面附近近光场的特性，来探测其表面形貌。其分辨率可远远超过常规显微镜分辨率的限制(λ/2)。 [1]目前半导体工业中常用的成像检测方法主要包括自动光学检测、X射线检测、电子束检测等。扫描电子显微镜(SEM)是 1965 年发明的显微物体研究工具。SEM是用电子束去扫描样品，造成样品的二次电子发射...