深紫外光刻胶随着集成度的提高，光刻胶的分辨率的要求越来越高，所用的光源波长越来越短。因为光刻胶成像时可分辨线宽与曝光波长成正比，与曝光机透镜开口数成反比，所以缩短曝光波长是提高分辨率的主要途径。光刻工艺经历了从g线、i线光刻的近紫外（NUV），进入到深紫外（DUV）248 nm光刻，以及193 nm光刻的发展历程。值得指出的是：现代曝光技...

  针触法顾名思义是通过触针与被检材料的接触来进行检测，是制造业中比较早的表面检测方法。被测表面的形状轮廓信息是通过触针传递给传感器的，所以触针的大小和形状就显得尤其重要。按照针触法的检测原理，针尖的半径趋近于 0才有可能检测到被测物真实的轮廓。但是触针的针尖越细，被测表面产生的压力也会越大，触针容易受到磨损，划伤被测物表面。对于镀膜表层和软...

  4.聚对羟基苯乙烯及共聚物：聚对羟基苯乙烯（polyhydroxystyrene, PHS or PHOST）衍生物类体系有两大优点：（1）不会出现酸扩散现象，所以不会对光刻的分辨率、线边缘粗糙度以及灵敏度产生影响；（2）聚对羟基苯乙烯受EUV辐照后，二次电子产率比其他聚合物都要高，含有多苯环结构能够保证它在图形转移过程中具有较高抗蚀性。...

  尽管晶圆代工产业势头强劲，但存储器行业产值增长更为迅猛，预计2026年产值将达到晶圆代工的2倍以上。两者走势分化的原因包括：存储器产品高度标准化，市场细分程度低；晶圆代工大部分产能仍被成熟制程占据，稀释了高增长先进制程的影响；晶圆代工定价波动性相对较低；存储器产品光刻工序更少，资本支出转化为产出的效率更高 [4] [12]。8英寸晶圆产线...

  光刻技术由i线转入248 nm时，IBM公司开发出化学增幅光刻胶，在体系中采用聚对羟基苯乙烯树脂解决了透光率的问题，并引入了光致产酸剂（PAG，Photo Acid Generator），在光的照射下PAG生成酸，酸作为催化剂催化树脂的反应 [2]，通过化学的方法将光学信号进行了放大，解决了感光速率的问题。 [13-14]化学增幅光刻胶曝...

  辐射线光刻胶以X-射线、电子束或离子束为曝光源的光刻胶，统称为辐射线光刻胶。由于X-射线、电子束或离子束等的波长比深紫外光更短，几乎没有衍射作用，因此在集成电路制作中可获得更高的分辨率。辐射线光刻胶是由线宽小于0.1 μm的加工工艺设计的，一般认为，电子束、离子束光刻工艺适用于纳米级线宽。 [2]电子束光刻胶电子束辐射刻蚀，就是以高速、高...

  半导体晶圆是制造半导体器件的基础材料，通常由单晶硅制成。晶圆的生产过程包括以下几个主要步骤：单晶硅的生长：通过Czochralski（CZ）法或区熔法等技术，从熔融硅中提取出单晶硅棒。切割：将单晶硅棒切割成薄片，称为晶圆。晶圆的厚度和直径可以根据需求进行调整，常见的直径有200mm、300mm等。抛光：晶圆表面需要经过抛光处理，以确保其光...

  晶圆厂对无尘环境要求很高，制造半导体微芯片的大部分工作都需要在洁净室中进行，人员进入车间需要穿戴无尘服 [8-9]。由于生产设备需要24小时运转，晶圆厂普遍存在轮班作业制度，通常需要上夜班且基本实行三班倒 [9]。晶圆厂内的主要职业岗位包括工艺工程师（PE）、设备工程师（EE）、工艺整合工程师（PIE）、良率工程师（YE）、质量工程师（Q...

  深紫外光刻胶随着集成度的提高，光刻胶的分辨率的要求越来越高，所用的光源波长越来越短。因为光刻胶成像时可分辨线宽与曝光波长成正比，与曝光机透镜开口数成反比，所以缩短曝光波长是提高分辨率的主要途径。光刻工艺经历了从g线、i线光刻的近紫外（NUV），进入到深紫外（DUV）248 nm光刻，以及193 nm光刻的发展历程。值得指出的是：现代曝光技...

  157 nm F2激发态光刻工艺有可能成为传统光学光刻工艺和下一代细微光刻工艺之间的桥梁，是生产临界线宽小于100 nm集成电路的优先工艺。同其他光刻胶一样，157 nm单层光刻胶设计所面临的问题仍然是：①光吸收及漂白；②水基碱溶液显影；③抗干法腐蚀。可实际上随着曝光波长的缩短，材料的选择愈加困难。对于157 nm光刻胶基本材料的光透过率...

  在芯片制造全流程中，刻蚀处于光刻之后、薄膜沉积之间，是“图形化工艺”的**环节，随着制程从14nm迈向3nm、2nm，刻蚀步骤占比大幅提升，单芯片刻蚀次数从数十次增至数百次，其成本占比也攀升至15%-20%，成为仅次于光刻的第二大支出项 [3]。在中国，以北方华创、中微公司等为**的国产半导体设备制造商，在刻蚀、薄膜沉积等关键**工艺环节...

  2024年7月，复旦大学高分子科学系、聚合物分子工程国家重点实验室魏大程团队设计了一种新型半导体性光刻胶，利用光刻技术在全画幅尺寸芯片上集成了2700万个有机晶体管并实现了互连，在聚合物半导体芯片的集成度上实现新突破，集成度达到特大规模集成度水平。 [49]2025年10月，北京大学化学与分子工程学院彭海琳教授团队及合作者通过冷冻电子断层...