1832年，德国人舒柯（G. Suckow）发现重铬酸盐在明胶等有机物中具有感光性。1839年，英国人庞顿（S. M. Ponton）首先将重铬酸盐用于照相研究。1850年，英国人塔尔博特（F. Talbot）将重铬酸盐与明胶混合后涂在钢板上制作照相凹版获得了成功。19世纪中叶，德国人格里斯（J. P. Griess）合成出芳香族重氮化合...

  灵敏度灵敏度（Sensitivity）即光刻胶上产生一个良好的图形所需一定波长光的**小能量值（或**小曝光量）。单位：毫焦/平方厘米或mJ/cm2。光刻胶的敏感性对于波长更短的深紫外光（DUV）、极深紫外光（EUV）等尤为重要 [5]。负胶通常需5~15 s时间曝光，正胶较慢，其曝光时间为负胶的3~4倍 [40]。灵敏度反映了光刻胶材料...

  PMMA的灵敏度在15 kV时为5×10-5 C/cm2，比较低，为了提高PMMA的灵敏度，采用了各种方法，除采用与传统光刻胶相似的方法，如增加分子量、使分子量分布高、窄，与某些单体共聚在取代基中引入氯或氟等元素、改进显影液、添加增感剂、改造为化学增幅型光刻胶以外，还采用了预聚合和双层光刻胶等方法：预聚合方法是预先在PMMA中形成一定量的...

  晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片，其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种，然后慢慢拉出，形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨，抛光，切片后，形成硅晶圆片，也就是晶圆。国内晶圆生产线以 8英寸和12英寸为主。 [1]晶圆的主要加工方式为片加工和批加工，即同时加工1片或多片晶圆。随着半导体特征尺寸越来越小，加工及测量设备越来越...

  （3）有机硅及碳材料体系：在聚合物结构中引入具有低吸收的元素，如硅、硼等，得到有机一无机杂化聚合物光致抗蚀剂，不*可以减少高吸收的氧元素的含量以提高透明性，而且还可增强体系的抗蚀刻性。例如在光刻胶中掺杂富勒烯可以提高光刻胶的抗蚀性 [27]；聚氢硅烷体系的光刻胶经电子束曝光后，体系中Si-H键断裂，形成自由基，因此，曝光区的聚氢硅烷会交联...

  晶圆厂（Fab）是制造半导体的专业工厂，集成电路的复杂生产过程在此进行。其通过光刻、刻蚀、薄膜沉积等数百道工艺在硅晶圆上制作电路 [3-4]。半导体产业主要存在IDM（整合器件制造）、Foundry（晶圆代工）和Fabless（无晶圆厂）三种运营模式，Foundry专注于为Fabless公司提供制造服务 [2] [7]。全球晶圆代工厂正从...

  1890年。德国人格林（Green）和格罗斯（Gross）等人将重氮化的混合物制成感光材料。取得了***个重氮感光材料的**。不久，德国的卡勒（Kalle）公司推出了重氮印相纸，从而使重氮感光材料商品化，并逐渐代替了铁印相技术。1921年，美国人毕勃（M. C. Beeb）等人将碘仿与芳香胺混合在一起，用紫外光照射得到染料像，称它为自由基...

  X射线光刻胶X射线对物质的化学作用类似电子束，X射线曝光时，X射线本身并不能直接引起光刻胶的反应，它的能量是消耗的光电子放射过程而产生低能电子束上。正是这些低能电子使光刻胶的分子离化，并激励产生化学反应，使光刻胶分子间的结合键解离，或键合成高分子，在某些显影液中变成易溶或不溶。X射线光刻胶和电子束光刻胶没有本质的区别 [40]，因此所有的...

  在全球晶圆代工产能不足的情况下，车用半导体受产能排挤影响***。2021年美国德州寒潮导致三星、恩智浦、英飞凌等公司晶圆厂停产 [14]。中国大陆晶圆代工产业正在经历从“追赶”到“并跑”的关键转型期。虽然在**的2纳米、3纳米制程上仍有差距，但在成熟制程、特色工艺、化合物半导体等领域，中国企业正在缩小差距甚至实现局部** [12]。202...

  晶圆代工指的是专门从事晶圆制造生产的企业，接受其他无晶圆厂芯片设计公司的委托，为其完成晶圆制造的环节。晶圆是制造半导体芯片的基础材料，通常是由硅制成的薄圆盘。半导体产业链通常包括芯片设计、晶圆制造、封装测试等主要环节，晶圆制造环节处于产业链的中游，起着承上启下的作用 [18]。半导体行业主要商业模式包括集成器件制造（IDM）、无晶圆厂（F...

  分层划片过程硅片划片方法主要有金刚石砂轮划片、激光划片。激光划片是利用高能激光束聚焦产生的高温使照射局部范围内的硅材料瞬间气化，完成硅片分离，但高温会使切缝周围产生热应力，导致硅片边缘崩裂，且只适合薄晶圆的划片。超薄金刚石砂轮划片，由于划切产生的切削力小，且划切成本低，是目前应用*****的划片工艺。 [5]由于硅片的脆硬特性，划片过程容...

  极紫外光刻胶极紫外光刻胶又称作软X射线（Soft X-ray），其波长为11-14 nm，常用13.5 nm，单光子的能量为91.48 eV。相同体积内，相同功率密度的EUV光源和ArF光源相比，EUV光源的光子数要比ArF光源光子数少十分之一。这就要求主体材料中应尽量减少高吸收元素（如F等），或者提高C/H的比例 [42]。由于极紫外光...