光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤的低损耗熔接是影响光子晶体光纤耦合系统实用化的重要技术。针对自行设计的光子晶体光纤耦合系统,对其与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论和实验研究。首先分析了影响熔接损耗的主要因素,然后理论计算了光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤之间的耦合损耗,结尾采用常规电弧放电熔接技术对光子晶体光纤耦合系统与单模光纤的... 【查看详情】

组合透镜耦合在许多光纤耦合系统中，常利用柱透镜、球透镜、自聚焦透镜及锥形透镜等多种光学元器件相互组合来提高整体的耦合效率。这样的组合透镜的组合方式多种多样。利用组合透镜这样一种方法可将耦合效率大幅度提高，但装配过程中确需要用专属的精密夹具来做精密的调整。这样的话也就较大增加了工作的难度，并且对结尾调整完成的耦合系统的封装阶段要求也比较高。... 【查看详情】

自动耦合光纤耦合系统彻底解决自动系统对操作熟练程度：系统采用多轴自动调节，同时，还解决了初始光自动查找的难题，使得员工比较容易上手。在系统中，采用了我们自己的传感器技术，以保证期间的间距，并确保不会出现期间的误碰撞。如果需要，可以增加自动端面调平行的功能，这个要利用传感器技术。传感器技术，保证器件间距并防碰撞。实现半自动耦合，自动查找初始... 【查看详情】

在集成电路可靠性测试内，晶圆级别检测的主要作用是进行特载流子注入检测。利用变焦费米能级与实际量进行热载流子检测。在集成电路构件内，利用过源电压遗漏出现的载流子漏电极限，主要因为在较大电场强度遗漏四周，载流子流入较大电场范围下，高能能量子就会转到热载流子。同时，利用电子的相互撞击让热载流子产生的电子空穴使电力更深度的产生。2、数据处理集... 【查看详情】

隔离度是指光纤分路系统的某一光路对其他光路中的光信号的隔离能力。在以上各指标中，隔离度对于光纤分路系统的意义更为重大，在实际系统应用中往往需要隔离度达到40dB以上的系统件，否则将影响整个系统的性能。另外光纤分路系统的稳定性也是一个重要的指标，所谓稳定性是指在外界温度变化，其它系统件的工作状态变化时，光纤分路系统的分光比和其它性能指标都应... 【查看详情】

光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤的低损耗熔接是影响光子晶体光纤耦合系统实用化的重要技术。针对自行设计的光子晶体光纤耦合系统,对其与普通单模光纤的熔接损耗机制进行了理论和实验研究。首先分析了影响熔接损耗的主要因素,然后理论计算了光子晶体光纤耦合系统与普通单模光纤之间的耦合损耗,结尾采用常规电弧放电熔接技术对光子晶体光纤耦合系统与单模光纤的... 【查看详情】

光耦合器光耦合器（opticalcoupler，英文缩写为OC）亦称光电隔离器，简称光耦。光耦合器以光为媒介进行传输电信号。光耦合器对输入和输出电信号有良好的隔离作用，所以，它在各种电路中得到的应用。近些年来，它已成为种类多、用途广的光电器件之一。光耦合器一般由三部分组成：光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二极管（... 【查看详情】

光耦合器光耦合器（opticalcoupler，英文缩写为OC）亦称光电隔离器，简称光耦。光耦合器以光为媒介进行传输电信号。光耦合器对输入和输出电信号有良好的隔离作用，所以，它在各种电路中得到的应用。近些年来，它已成为种类多、用途广的光电器件之一。光耦合器一般由三部分组成：光的发射、光的接收及信号放大。输入的电信号驱动发光二极管（... 【查看详情】

光纤耦合系统按从强到弱的顺序的分类：(1)内容耦合。当一个模块直接修改或操作另一个模块的数据,或者直接转入另一个模块时，就发生了内容耦合。此时，被修改的模块完全依赖于修改它的模块。(2)公共耦合。两个以上的模块共同引用一个全局数据项就称为公共耦合。(3)外部耦合。若一组模块都访问同一全局数据项，则称为外部耦合。(4)控制耦合。一个模块在界... 【查看详情】

硅光芯片耦合测试系统系统，该设备主要由极低/变温控制子系统、背景强磁场子系统、强电流加载控制子系统、机械力学加载控制子系统、非接触多场环境下的宏/微观变形测量子系统五个子系统组成。其中极低/变温控制子系统采用GM制冷机进行低温冷却，实现无液氦制冷，并通过传导冷方式对杜瓦内的试样机磁体进行降温。产品优势：1、可视化杜瓦，可实现室温~4.2K... 【查看详情】

在硅光芯片领域，芯片耦合封装问题是硅光子芯片实用化过程中的关键问题，芯片性能的测试也是至关重要的一步骤，现有的硅硅光芯片耦合测试系统系统是将硅光芯片的输入输出端硅光纤置于显微镜下靠人工手工移动微调架转轴进行调硅光，并依靠对输出硅光的硅光功率进行监控，再反馈到微调架端进行调试。芯片测试则是将测试设备按照一定的方式串联连接在一起，形成一个测试... 【查看详情】

硅光芯片耦合测试系统硅光阵列微调设备,微调设备包括有垂直设置的第1角度调节机构与第二角度调节机构,微调设备可带动设置于微调设备上的硅光阵列在垂直的两个方向实现角度微调。本发明还提供一种光子芯片测试系统硅光阵列耦合设备,包括有微调设备以及与微调设备固定连接的位移台,位移台可实现对探针卡进行空间上三个方向的位置调整。基于光子芯片测试系统硅光阵... 【查看详情】