探针台将参数特性不符合要求的芯片记录下来,在进入后序工序前予以剔除,极大降低器件的制造成本。探针台主要用于晶圆制造环节的晶圆检测、芯片研发和故障分析等应用。半导体测试可以按生产流程可以分为三类:验证测试、晶圆测试测试、封装检测。晶圆检测环节需要使用测试仪和探针台,测试仪/机用于检测芯片功能和性能,探针台实现被测芯片与测试机的连接,通过探针... 【查看详情】
手动探针台:普遍应用于,科研单位研发测试、院校教学操作、企业实验室芯片失效分析等领域。一般使用于研发测试阶段,批量不是很大的情况,大批量的重复测试推荐使用探卡。主要功能:搭配外接测试测半导体参数测试仪、示波器、网分等测试源表,量测半导体器件IVCV脉冲/动态IV等参数。用途:以往如果需要测试电子元器件或系统的基本电性能(如电流、电压、阻抗... 【查看详情】
台面上布满成正方形排列的工程螺纹孔,用这些孔和相应的螺丝可以固定光学元件。当你完成光学设备的搭建,系统基本不会受外来扰动而产生变化。即使按动台面,它也会因为气囊而自动回复水平。这里介绍一下我们常用的光学平台的主要构成,标准光学平台基本组件包括:1、顶板;2、底板;3、侧面精加工贴脸;4、侧板;5、蜂窝芯;6、密封杯等。主要配件:支撑架光学... 【查看详情】
光学平台系列产品具有抗振性强,安装孔多等优点,主要用于在试验室搭建光路或固定仪器,也多用于工业,做为工作台使用.根据不同台面尺寸,不同材料,不同结构分为数个系列,同时备有光学平台支架供您选择。大型光学隔振平台外框采用刚性强,变形小,焊接性能好的好的中碳钢板;隔振层利用固有频率低,阻振性能强的蜂窝结构材料,能大限度控制振动的响应.面板采用高... 【查看详情】
光学平台的很大相对位移值,主要同平台的结构和材料刚性相关,在同样测试条件,且光学平台的结构和材料相近的情况下,很大相对位移的值相差不大。勤确汉光的光学平台台面,采用三层夹心结构,上台面厚度4~6mm,采用铁磁不锈钢材质,此时测试的很大相对位移,在10-7mm量级,同国外同类产品指标相近。重复定位精度(Repeatability):光学平台... 【查看详情】
精密光学平台的桌腿中装有气动单元,它与平台的材料及设计相结合可以减少环境中的物体(例如人员走动、建筑物内其它设备以及行驶的汽车等)造成的大幅度低频振动。这些外部力会使平台发生刚体运动,这种运动本质上是2维的并且对大多数光学实验不会造成影响。在千赫兹频段的高频振动也不会明显地影响平台的稳定性。然而,造成精密光学平台表面弯曲的中频共振及弯曲振... 【查看详情】
探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上,从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单,例如连续性或隔离检查,也可以很复杂,包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件,这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入终端产... 【查看详情】
半自动探针台主要应用于需要精确运动、可重复接触和采集大量数据的场合。一些公司也使用半自动探针系统来满足其小批量生产要求。半自动探针系统的组成部件大部分与手动探针台相似,但载物台和控制装置除外。晶圆载物台通常是可编程的,并通过软件与电子控制器来控制移动与方位。软件为探针台系统增加了很多功能,使用者可以通过软件或机械操纵杆以各种速度向任何方向... 【查看详情】