光纤耦合系统分为以下几种：1、非直接耦合：两个模块之间没有直接关系，它们之间的联系完全是通过主模块的控制和调用来实现的数据耦合：一个模块访问另一个模块时，彼此之间是通过简单数据参数(不是控制参数、公共数据结构或外部变量)来交换输入、输出信息的。2、标记耦合：一组模块通过参数表传递记录信息，就是标记耦合。这个记录是某一数据结构的子结构，而不... 【查看详情】

由于软玻璃材料并不像硅一样易形成管状,普通的堆管制作预制棒的方法不适用,利用直接挤压形成预制棒的新技术则能制作这类材料的光子晶体光纤耦合系统预制棒。通过堆叠、冲压和钻孔的方法可以比较好地制作聚合物材料的光子晶体光纤耦合系统预制棒。通过一种独特的卷雪茄技术将聚合物与玻璃合成布拉格结构的光子晶体光纤耦合系统。而P.Falkenstein等则是... 【查看详情】

采用球形光纤端面不只可以提高光纤与光纤之间的耦合效率，而且利于实验光路调试。但是采用这样一种较为简单的耦合方法存在一些比较严重的问题：烧制过程中不易把握温度及用力大小，比较难烧制出所需的球形；采用球形光纤直接耦合的耦合效率远远低于采用分离透镜耦合法所能达到的耦合效率。锥形光纤直接耦合制作锥形光纤的方法有腐蚀、磨削和加热三种方法，前两种方法... 【查看详情】

保偏光纤耦合系统的主要性能指标及其影响因素与通信用单模光纤耦合系统相同，衡量保偏光纤耦合系统的性能，附加损耗和耦合比是两个重要指标。其中I；为光纤耦合系统主路与支路主偏振轴的光功率之和，户iv为沿主偏振轴注入耦合系统的光功率。耦合系统双锥体的直径是影响附加损耗的重要因素。耦合比可通过火焰温度来控制拉伸长度，得到不同的值。与单模光纤费合系统... 【查看详情】

通过调整预制棒的结构参数能得到所需结构与尺寸的光子晶体光纤耦合系统,具有非常灵活设计自由度。不同的空气孔结构和排布使得折射率引导型光子晶体光纤耦合系统具有特定的模式传输特性。特别需要指出的是,研究还发现折射率引导型光子晶体光纤耦合系统包层中空气孔的周期排列不是必要的,随机排列足够多的空气孔也能够有效降低包层的折射率,实现改进的全内反射。因... 【查看详情】

两个具有相近相通，又相差相异的系统，不仅有静态的相似性，也有动态的互动性。两者就具有耦合关系。人们应该采取措施对具有耦合关系的系统进行引导、强化，促进两者良性的、正向的相互作用，相互影响，激发两者内在潜能，从而实现两者优势互补和共同提升。非直接耦合：两个模块之间没有直接关系，它们之间的联系完全是通过主模块的控制和调用来实现的数据耦合：一个... 【查看详情】

光子晶体光纤耦合系统按照其导光机理可以分为两大类：折射率导光型（IG-PCF)和带隙引导型（PCF）。带隙型光子晶体光纤耦合系统能够约束光在低折射率的纤芯传播。第1根光子晶体光纤耦合系统诞生于1996年，其为一个固体中心被正六边形阵列的圆柱孔环绕。这种光纤比较快被证明是基于内部全反射的折射率引导传光。真正的带隙引导光子晶体光纤耦合系统诞生... 【查看详情】

光纤耦合的系统和方法。该系统包括：光耦合器、第1光功率探测器、输入光纤和第1调节台；光耦合器用于将从第1输入端口输入的入射光从输出端口传输到输入光纤；输入光纤用于将入射光传输到输入光波导耦合器，并将从输入光波导耦合器反射回来的反射光传输到输出端口；光耦合器还用于将反射光从第1输入端口和第二输入端口输出；第1光功率探测器用于探测从第二输入端... 【查看详情】

光学平台平面度，对于隔振性能，没有任何影响，甚至若为了追求高平面度，往往会去除掉光学平台的隔振性能，原因如下：我们知道，光学平台台面，若为达到高平面度，通常需要反复磨削，在加工过程中，多次磨削容易使材料产生形变，为了减少形变，通常要加厚台面，但我们通过振动恢复时间的说明已经知道，台面加厚质量增加，平台的振动恢复时间往往成倍（甚至几倍）增加... 【查看详情】

精细探测技术带来新优势：先进应力控制技术亦是必须的。为减少或消除造成良率下降之垫片损伤，在铜质垫片加上铝帽将能减少对易碎低K/高K介电的负面效应。以先进工艺驱动在有效区域上垫片的测试，以低冲击的探针卡，避免接触所产生阻抗问题。另一个可能损害到晶圆的来源是探针力道过猛或不平均，因此能动态控制探针强度也是很重要的；若能掌握可移转的参数及精细的... 【查看详情】

平台面板具有优良的洁净性能，上、下面板均采用防锈的磁性不锈钢，上面板与蜂窝芯粘接前后都进行严格的洁净清洗流程，保证面板螺孔和U型清洁舱无油污、碎屑残留，U型清洁舱能有效防止蜂窝芯板腐蚀，U型通道将相邻两个螺孔连通，便于制造时用高压气流和工作时用吸尘器清洁掉落在舱内的灰尘碎屑等污染物。光学平台隔振系统的性能参数：使用多通道振动测试仪测量光学... 【查看详情】

探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台是一种辅助执行机构，测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上，在显微镜配合下，X-Y移动器件，找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座... 【查看详情】