半导体测试设备，特别是自动测试设备（ATE），其系统设计主要围绕硬件和软件两大部分展开 [12] [19]。硬件是测试功能的物理承载，软件则是控制测试流程和数据处理的大脑 [15]。硬件组成主要包括测试控制器、仪器资源模块（如数字万用表、可编程电源、信号发生器、数字/模拟功能卡）、开关矩阵系统和设备接口 [19]。ATE机台内部通常包含电... 【查看详情】

按技术原理分类，反应离子刻蚀机（RIE）是一种各向异性强、选择性高的干法刻蚀技术，可用于对半导体及氧化物、二维薄膜材料等的刻蚀 [9] [13]，**型号包括Oxford PlasmaPro 80 [9]、Oxford PlasmaPro 100 [1]和ULTECH RIE-8 [3]。深硅刻蚀机（DRIE）基于Bosch工艺，主要用于... 【查看详情】

1990年，英国的L.T.坎汉***在室温下观测到多孔硅的可见光光致发光，使人们看到全硅光电子集成技术的新曙光。纳米微粒，纳米固体与纳米薄膜材料开辟了材料研究的新领域。这类包含有大量表面或界面原子的新型功能材料具有许多独特的物理、化学和力学性能，被誉为21世纪**有前途的材料。 [21]2019年10月，一国际科研团队称与传统霍尔测量中*... 【查看详情】

着功能的复杂，不只结构变得更繁复，技术要求也越来越高。与建筑物**不一样的地方，除了尺寸外，就是建筑物是一栋一栋地盖，半导体技术则是在同一片芯片或同一批生产过程中，同时制作数百万个到数亿个组件，而且要求一模一样。因此大量生产可说是半导体工业的比较大特色 。把组件做得越小，芯片上能制造出来的 IC 数也就越多。尽管每片芯片的制作成本会因技术... 【查看详情】

**应用领域集成电路（IC）：微处理器、存储器、逻辑芯片等，是计算机、手机、智能设备的**。2025年全球集成电路市场规模超5000亿美元，台积电、三星、英特尔为主要厂商。光电子器件：发光二极管（LED）：照明、显示（如OLED屏幕）。激光器：光纤通信、数据存储（如蓝光光驱）。太阳能电池：硅基电池效率达22%-24%，薄膜电池（如CIGS... 【查看详情】

制冷1834年，法国科学家帕尔帖发现了半导体制冷作用。帕尔帖原理又被称为是”帕尔贴效益“，就是将两种不同的导体充分运用起来，使用A和B组成的电路，通入直流电，在电路的接头处可以产生焦耳热，同时还会释放出一些其它的热量，此时就会发现，另一个接头处不是在释放热量，而是在吸收热量。这种现象是可逆的，只要对电流的方向进行改变，放热和吸热的运行就可... 【查看详情】

关键参数：数字通路：支持100通道并行测试测试深度：向量深度达64Mbit测试精度：电流分辨率达pA级 [1]测试向量转换：测试向量转换是测试程序开发的关键步骤。电子设计自动化（EDA）工具产生的仿真向量（Test Pattern）通常不能直接被ATE识别，需要转换为ATE可识别的格式。这一过程需要综合考虑仿真向量的语法结构和ATE的测试... 【查看详情】

半导体制程是一项复杂的制作流程，先进的 IC 所需要的制作程序达一千个以上的步骤。这些步骤先依不同的功能组合成小的单元，称为单元制程，如蚀刻、微影与薄膜制程；几个单元制程组成具有特定功能的模块制程，如隔绝制程模块、接触窗制程模块或平坦化制程模块等；***再组合这些模块制程成为某种特定 IC 的整合制程电子组件进入纳米等级后，在材料方面也开... 【查看详情】

半导体技术的演进，除了改善性能如速度、能量的消耗与可靠性外，另一重点就是降**作成本。降低成本的方式，除了改良制作方法，包括制作流程与采用的设备外，如果能在硅芯片的单位面积内产出更多的 IC，成本也会下降。所以半导体技术的一个非常重要的发展趋势，就是把晶体管微小化。当然组件的微小化会伴随着性能的改变，但很幸运的，这种演进会使 IC 大部分... 【查看详情】

例如，在庞大的数据中搜索所需信息时，其重点在于如何制作索引数据。索引数据的总量估计会与原始数据一样庞大。而且，索引需要经常更新，不适合使用随机改写速度较慢的NAND闪存。因此，主要采用的是使用DRAM的内存数据库，但DRAM不*容量单价高，而且耗电量大，所以市场迫切需要能够替代DRAM的高速、大容量的新型存储器。新型存储器的候选有很多，包... 【查看详情】

因为投入者众，竞争也剧烈，进展迅速，造成良性循环。一个普遍现象是各大学电机、电子方面的课程越来越多，分组越细，并且陆续从工学院中**成电机电子与信息方面的学院。其它产业也纷纷寻求在半导体产业中的应用，这在全世界已经变成一种普遍的趋势。总而言之，半导体技术已经从微米进步到纳米尺度，微电子已经被纳米电子所取代。半导体的纳米技术可以**以下几层... 【查看详情】

关键参数：数字通路：支持100通道并行测试测试深度：向量深度达64Mbit测试精度：电流分辨率达pA级 [1]测试向量转换：测试向量转换是测试程序开发的关键步骤。电子设计自动化（EDA）工具产生的仿真向量（Test Pattern）通常不能直接被ATE识别，需要转换为ATE可识别的格式。这一过程需要综合考虑仿真向量的语法结构和ATE的测试... 【查看详情】