ATE系统的关键设计要点主要包括模块化设计、并行测试能力、可扩展性和校准系统 [19]。并行测试技术通过同时测试多颗芯片以提升测试吞吐量 [17]。测试系统架构：自动测试设备（ATE）系统主要由硬件和软件两大部分构成。硬件包括测试控制器、仪器资源模块（如数字万用表、可编程电源、信号发生器、数字/模拟功能卡）、开关矩阵系统和设备接口。软件则... 【查看详情】

第三部分：用数字或字母加数字表示登记号。三位数字-**通用半导体器件的登记序号、一个字母加二位数字-表示**半导体器件的登记序号。第四部分：用字母对同一类型号器件进行分档。A、B、C、D、E┄┄-表示同一型号的器件按某一参数进行分档的标志。除四个基本部分外，有时还加后缀，以区别特性或进一步分类。常见后缀如下：1、稳压二极管型号的后缀。其后... 【查看详情】

当**星的2纳米全环绕栅极（GAA）技术**着全球光刻制程的比较高水平 [8]，同时国内厂商如恒运昌也在特定领域取得进展 [4]。三星已完成第二代2纳米GAA工艺节点的基础设计，并计划在两年内落地第三代2纳米GAA技术——SF2P+工艺。同时，三星已启动1纳米芯片的研发工作，目标在2029年实现量产 [8]。未来的IC大部分会由纳米技术做... 【查看详情】

在C-V测试方面，带宽不低于10MHz，并支持激励电平电容压型测试。直流电流测量最高分辨率可达0.1fA [7]。根据不同的SMU单元配置，也可提供电压分辨率达0.5μV及电流分辨率分别为10fA、1fA、0.1fA的解决方案，并能检测1 kHz至5 MHz范围内的多频交流电容 [8]。主流半导体参数分析仪普遍采用模块化硬件架构以支持灵活... 【查看详情】

半导体参数分析仪的**技术主要围绕对半导体器件电学特性的精细测量与表征，涵盖直流特性、电容特性、瞬态特性等关键领域 [2-3]。直流电流-电压（I-V）测量直流电流-电压（I-V）测量是半导体参数测试的基础，用于表征器件的静态电学特性 [17]。源测量单元（SMU）是实现该技术的**，其测量范围可覆盖从10 aA（阿安培）至1A的电流以及... 【查看详情】

两个结之间的一薄层半导体材料称为基区。接在发射结一端和集电结一端的两个电极分别称为发射极和集电极。接在基区上的电极称为基极。在应用时，发射结处于正向偏置，集电极处于反向偏置。通过发射结的电流使大量的少数载流子注入到基区里，这些少数载流子靠扩散迁移到集电结而形成集电极电流，只有极少量的少数载流子在基区内复合而形成基极电流。集电极电流与基极电... 【查看详情】

而且，材料是组件或 IC 的基础，一旦改变，所有相关的设备与后续的流程都要跟着改变，真的是牵一发而动全身，所以半导体产业还在坚持，不到***一刻***不去改变它。这也是为什么 CPU 会越来越烫，消耗的电力越来越多的原因。因为CPU 中，晶体管数量甚多，运作又快速，而每一个晶体管都会「漏电」所造成。这种情形对桌上型计算机可能影响不大，但在... 【查看详情】

它还被***使用于***领域，是激光制导导弹的重要材料，曾在海湾***中被使用，有“砷化镓打败钢铁”的说法。 砷化镓单晶片的价格大约相当于同尺寸硅单晶片的20至30倍。然而，针对其高成本问题，近年来在航天等**应用领域已发展出多项降本增效的关键技术。例如，采用聚光光伏（CPV）技术，通过透镜汇聚阳光可大幅减少昂贵半导体材料的用量；生产**... 【查看详情】

低温刻蚀技术（工作温度可低至-30°C）兴起，有助于在3D NAND中形成极深极薄的垂直结构，并已由Lam Research、东京电子等厂商推出商用设备。人工智能（AI）开始被用于优化刻蚀工艺参数，以改善刻蚀轮廓控制、减少形状变形并提升工艺稳定性 [16]。全球半导体刻蚀设备市场主要由泛林半导体（Lam Research）、东京电子（TE... 【查看详情】

早在1995年在芝加哥举行信息技术国际研讨会上，美国科学家和工程师杰克·基尔比表示，5纳米处理器的出现或将终结摩尔法则。中国科学家和未来学家周海中在此次研讨会上预言，由于纳米技术的快速发展，30年后摩尔法则很可能就会失效。2012年，日裔美籍理论物理学家加来道雄在接受智囊网站采访时称，“在10年左右的时间内，我们将看到摩尔法则崩溃。”前不... 【查看详情】

刻蚀机是半导体制造中的关键设备，用于通过化学或物理方法选择性去除晶圆表面材料以形成微观电路图形 [27]。其主要类型包括基于Bosch工艺的深硅刻蚀机（DRIE），用于高深宽比硅结构刻蚀 [1-2] [11]，以及各向异性强的反应离子刻蚀机（RIE） [9] [13]。刻蚀技术主要分为干法刻蚀和湿法刻蚀，其中干法刻蚀占据市场主流。干法刻蚀... 【查看详情】

20世纪70年代爱德万推出首台10MHz IC测试系统，1976年研制全球首台DRAM测试机T310/31 [2]。泰瑞达J750系列于1998年***推出，并成为低成本芯片大批量测试的行业标准 [23]。爱德万V93000测试机于1999年**初上市 [33]，2011年爱德万通过收购惠瑞杰进入SoC测试市场 [2]。进入21世纪，爱德... 【查看详情】