测试产出数据的价值不在于数据体量大小，而是能否快速转化为可供落地执行的工艺优化思路。传统管控模式里，测试设备生成数据后要经过多轮人工转发整理，整个流转流程极易造成信息丢失、传递滞后。一套成熟完善的管理...

测试程序如同测试执行的“关键指令集”，其稳定性和一致性对成千上万颗芯片的测试结果有着决定性影响。在半导体测试过程中，测试程序的版本管理、与硬件配置的匹配等问题都可能导致误测或漏测。测试管理系统通过集中...

车规质量审计阶段，一一对应失效点位与测试项目，是行业认证硬性门槛，上海伟诺TMS专属MappingInk模块，针对性解决该项行业痛点。系统抓取晶圆探针测试失效坐标，自动绑定对应电性参数、测试程序版本、...

测试产出数据的价值不在于数据体量大小，而是能否快速转化为可供落地执行的工艺优化思路。传统管控模式里，测试设备生成数据后要经过多轮人工转发整理，整个流转流程极易造成信息丢失、传递滞后。一套成熟完善的管理...

半导体良率报告是评判芯片量产质量的重要标尺，一份具备公信力的分析报告，离不开规范化、高标准的生成流程。良率报告产出本身是一套严谨科学化流程：依托设备对接能力实现测试数据毫秒级实时采集，从源头保障数据传...

在半导体全球协同生产模式下，测试管理系统的数据共享功能需要同时兼顾传输效率与信息安全。系统配置多层级权限管控机制，限定不同岗位人员的数据查看范围，严防企业主要商业机密外泄。不管是和海外研发团队协同开发...

各测试设备不间断产出海量原始测试数据，依靠人工导出、整理数据不但耗费大量人力工时，还极易因文件格式错乱、数据缺失造成后续分析结论失真。通过设备专属对接接口实现毫秒级全自动采集汇总，是保障原始数据质量重...

测试程序迭代牵一发而动全身，微小版本偏差，就会造成数万颗芯片测试结果失真，因此程序全生命周期管控必须严谨可控。上海伟诺TMS搭建标准化程序运维机制，集中归档全部测试脚本，固化版本迭代流程；所有参数修改...

半导体良率报告是评判芯片量产质量的重要标尺，一份具备公信力的分析报告，离不开规范化、高标准的生成流程。良率报告产出本身是一套严谨科学化流程：依托设备对接能力实现测试数据毫秒级实时采集，从源头保障数据传...

一款实用性强的测试管理系统，应当减负增效、贴合工程师实操习惯，而非加重运维工作负担，伟诺TMS研发设计全程围绕实操体验、生产效能两大优化。平台搭载轻量化可视化操作界面，业务逻辑贴合封测产线实操流程，操...

市面测试管理软件品类繁杂，功能形态各不相同，针对重视跨部门协同、全域数据打通的制造企业，集成化架构测试平台是选择。伟诺TMS摒弃单独数据仓库架构，深度嵌入半导体全业务生态，向上对接设计端APQP研发管...

当标准系统无法完全匹配特定业务流程或质量管控要求时，定制化服务便成为管理升级的必经之路。基于对客户现有工作流的深入分析，将自动数据采集、异常预警、良率分析等关键功能进行灵活组合与深度适配，是定制服务的...