国产良率管理系统YMS的业务价值，是整合零散碎片化测试数据，转化为可落地、可复盘的工艺优化方案。该系统可自动对接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AM...

全新测试程序上线存在量产风险，未经核验直接投产极易引发批量失效，平台内置强制性上线审核流程，筑牢脚本准入防线。新版本程序投产前，必须完成基线复测、压力测试、电性对标全流程校验，经由工艺、质量双人审核签...

量产封测厂区并行运营逻辑芯片、存储芯片、功率器件多条产线，各产品线测试规范、良率质控标准互不相同。YMS支持业务化柔性配置，为每条制程线搭建单独适配的数据处理规则：自动识别产线配套测试机型，适配Jun...

良率分析报告是评判半导体产品品质好坏的重要参照，一份具备参考价值的报告，离不开标准化、严谨规范的生成流程。报告生成全程如同标准化精密作业，系统毫秒级自动抓取实时测试数据，从源头保证信息获取及时、内容准...

良率管理系统的价值不*在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、...

测试链路突发停机、数据错乱极易放大产能损失，搭建标准化应急处置体系，是稳住产线产能的关键。依托平台自动化管控能力，把被动应急救火，升级为常态化主动风控。后台监控模块全天候扫描测试数据流，识别电压超限、...

一套成熟完善的测试管理系统，主要是打造智能化、可闭环的测试运营中枢。围绕该目标，平台整合全链路业务模块：底层依托设备接口自动采集原始数据，保障数据源真实完整；中层开展数据清洗、分类归档，迭代核算Mea...

晶圆边缘良率长期偏低、缺陷诱因难以定位，是制程工程师普遍面临的量产痛点。YMS完成原始log、stdf数据规整清洗后，调取晶圆空间坐标信息，自动分类归集缺陷点位，生成渐变式缺陷热力图，直观区分晶圆中心...

晶圆制造环节的良率波动直接影响整体产出效率，YMS系统通过全流程数据治理提供有力支撑。系统自动采集并解析来自主流测试设备的多源异构数据，建立标准化数据库，实现对晶圆批次、区域乃至单点良率的精细化监控。...

半导体制造领域，良率数据时效性、准确度直接决定工艺优化效率，左右量产产能收益。YMS实时归集多平台测试数据，落实端到端数据治理，消除格式混乱、数据缺失带来的分析盲区。依托中心化数据库，双向支撑宏观产线...

面对纷繁复杂的测试数据和多变的生产需求，一套实用便捷的测试管理系统可以减轻工程师工作负担，而非增添额外工作压力。平台在设计阶段便围绕实操体验与生产效能进行打磨，配备简洁易懂的操作界面，新员工无需长时间...

面对纷繁复杂的测试数据和多变的生产需求，一套实用便捷的测试管理系统可以减轻工程师工作负担，而非增添额外工作压力。平台在设计阶段便围绕实操体验与生产效能进行打磨，配备简洁易懂的操作界面，新员工无需长时间...