中大型半导体厂区划分产线运维、质量管控、工艺研发、经营管理多层级组织，各岗位数据权限、研判粒度诉求差异极大。YMS集中沉淀全量测试数据，依托角色权限拆分差异化可视化视图：产线人员查看实时良率热力图，质...

Mapping Over Ink处理流程构建了从数据输入到结果输出的完整闭环：系统自动获取TSK、P8、EG、OPUS等Probe生成的原始Mapping，完全覆盖晶圆测试信息；通过对数据进行标准化解...

针对工厂规模化量产的复杂管控场景，单一维度数据统计与人工制表分析模式，已无法满足全厂全局质量管控与良率优化需求。上海伟诺信息科技YMS良率管理系统可兼容Juno、AMIDA、CTA8280、T861等...

良率的突发性波动若无法及时识别、快速干预，极易引发批量报废、返工重测问题，给企业造成高额产能与经济损失。YMS良率管理系统依托全自动化数据处理流程，实时采集、清洗、规整各类测试平台的异构数据，构建高精...

半导体设计企业对良率分析精度要求严苛，既要保障单芯片级的微观分析精度，也要满足多项目、多产品线的横向对比管控需求。上海伟诺YMS良率管理系统可适配Juno、AMIDA、CTA8280、T861、Sin...

在封测工厂的日常运营中，良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台，高效采集stdf、csv、lo...

半导体制造领域，良率数据时效性、准确度直接决定工艺优化效率，左右量产产能收益。YMS实时归集多平台测试数据，落实端到端数据治理，消除格式混乱、数据缺失带来的分析盲区。依托中心化数据库，双向支撑宏观产线...

多品种、小批量、高工艺复杂度成为当下半导体封测主流订单需求，传统人工线下派工、纸质单据记录的管控模式，无法支撑车间高效排产、实时动态调度工作。现代化MES系统依托智能派工功能、设备自动化对接、仓储WM...

量产封测厂区并行运营逻辑芯片、存储芯片、功率器件多条产线，各产品线测试规范、良率质控标准互不相同。YMS支持业务化柔性配置，为每条制程线搭建单独适配的数据处理规则：自动识别产线配套测试机型，适配Jun...

车间管理者需要的是能即时反映产线状态的良率监控工具，而非复杂的数据平台。YMS车间方案聚焦高频、高敏场景，自动汇聚来自现场Tester设备的测试结果，并实时进行数据清洗与异常过滤，确保看板展示的信息准...

针对工厂规模化量产的复杂管控场景，单一维度数据统计与人工制表分析模式，已无法满足全厂全局质量管控与良率优化需求。上海伟诺信息科技YMS良率管理系统可兼容Juno、AMIDA、CTA8280、T861等...

半导体产线生产高度依靠多设备协同配合，工艺时效窗口管控直接决定企业交付能力与客户合作信任程度，车间自动化水平高低起到决定性作用。MES系统依托智能派工模块联动设备实时工况、订单重要等级，保障高价值车载...