只依靠测试电性数据，无法深挖质量问题根源，打通测试、制造双向数据壁垒，实现全域生产数据融合，是溯源的关键。上海伟诺TMS打破业务边界限制，同步归集测试电性数据、产线设备参数、蚀刻工艺配方、车间温湿度环...

当测试工程师需要处理ETS88、J750、93k等多台设备输出的STDF、LOG、JDF等多种格式混杂原始数据时，传统人工整理需要耗费数小时核对字段信息、剔除重复测试记录。YMS搭载自动化数据解析引擎...

车间管理者需要的是能即时反映产线状态的良率监控工具，而非复杂的数据平台。YMS车间方案聚焦高频、高敏场景，自动汇聚来自现场Tester设备的测试结果，并实时进行数据清洗与异常过滤，确保看板展示的信息准...

不少封测厂区同时部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余款不同型号测试机，各类设备输出STDF、LOG、JDF、SPD、CSV等差异化文件格式，加大统一归集分析的难度。YM...

产线高频轮测工况下，重复提交测试、设备通信瞬时断连，极易催生数据冗余、字段缺失问题，直接干扰良率核算精度。YMS内嵌专项数据校验机制，依托时间戳、测试序列号等主要索引，自动扫描全域数据集，甄别重复、重...

面对市场上良率管理系统供应商良莠不齐的局面，技术自主性与行业适配能力成为选型主要标准。真正有效的系统需同时支持多品牌Tester设备、处理异构数据格式，并具备深度分析与可视化能力。YMS系统已集成ET...

一款实用性强的测试管理系统，应当减负增效、贴合工程师实操习惯，而非加重运维工作负担，伟诺TMS研发设计全程围绕实操体验、生产效能两大优化。平台搭载轻量化可视化操作界面，业务逻辑贴合封测产线实操流程，操...

测试设备持续输出庞大数据流时，手动整理不*耗时易错，更难以捕捉关键参数的细微波动。实现测试数据与良率报告的实时收集和结构化处理成为提升效率的关键。一个理想的系统应能自动整合来自不同机台的数据，并通过内...

传统人工核对与筛选海量测试数据的方式已成为效率瓶颈。实现自动化采集与结构化处理，是突破这一瓶颈的关键。一套高效系统能将良率分析与报告生成压缩至分钟级，让工程团队实时掌握每批次生产状态。内置Mean值与...

半导体测试容错率极低，细微的参数配置偏差、数据录入差错，都会逐级放大研判误差，引发质量误判、决策失误。依托数字化系统化管控能力，能够从源头规避各类人为误差：全自动数据采集链路取缔人工抄录、表格导入操作...

半导体良率报告是评判芯片量产质量的重要标尺，一份具备公信力的分析报告，离不开规范化、高标准的生成流程。良率报告产出本身是一套严谨科学化流程：依托设备对接能力实现测试数据毫秒级实时采集，从源头保障数据传...

市面测试管理软件品类繁杂，功能形态各不相同，针对重视跨部门协同、全域数据打通的制造企业，集成化架构测试平台是选择。伟诺TMS摒弃单独数据仓库架构，深度嵌入半导体全业务生态，向上对接设计端APQP研发管...