在半导体全球协同生产模式下，测试管理系统的数据共享功能需要同时兼顾传输效率与信息安全。系统配置多层级权限管控机制，限定不同岗位人员的数据查看范围，严防企业主要商业机密外泄。不管是和海外研发团队协同开发...

良率波动若不能及时干预，可能造成数百万级的产能损失。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗来自多种测试平台的异构数据，构建高可信度分析基础。系统支持从宏观趋势到微观缺陷的穿透式分析，例如将某产品月度...

国内半导体国产替代进程持续提速，行业企业急需一套既契合国际通用标准化工艺规范，又能灵活适配本土企业管理模式、生产节奏的MES数字化管理系统。封测工厂新增投产产线时，系统需支持高精度工序时效管控、SPC...

面对国产替代需求，选择具备技术自主性和行业适配能力的良率管理系统厂商至关重要。上海伟诺信息科技有限公司的YMS系统兼容主流Tester平台，覆盖十余种测试数据格式，实现从采集、解析到异常过滤的全流程自...

半导体工厂推进智能制造升级，深层目标不只是提升当下生产产能，更要搭建企业级工艺经验沉淀、复用体系，应对行业人才流动、工艺快速迭代、产品复杂度持续提升带来的各类挑战。MES系统在每一轮生产执行过程中，自...

良率管理系统的价值，在于解决半导体设计与制造企业的数据管控痛点，解决测试数据分散杂乱、格式不统一、分析滞后、追溯困难等行业难题。上海伟诺YMS系统可无缝对接ETS364、SineTest、Juno、A...

良率波动若不能及时干预，可能造成数百万级的产能损失。YMS系统通过自动化流程，即时采集并清洗来自多种测试平台的异构数据，构建高可信度分析基础。系统支持从宏观趋势到微观缺陷的穿透式分析，例如将某产品月度...

客户在实际生产中常面临良率保留与风险剔除的两难平衡。Mapping Over Ink处理服务通过自动化采集多品牌Probe的原始Mapping数据，结合AECQ标准下的SPAT、DPAT、GDBN/G...

良率管理系统的价值，在于解决半导体设计与制造企业的数据管控痛点，解决测试数据分散杂乱、格式不统一、分析滞后、追溯困难等行业难题。上海伟诺YMS系统可无缝对接ETS364、SineTest、Juno、A...

半导体封测环节出现批量质量缺陷，极少是单一重大操作失误造成，大多是长期累积的细微制程偏差引发，传统离线抽检、成品终检模式无法捕捉早期异常信号，极易造成整批产品报废损失。搭载完整品质管控体系的MES内置...

晶圆测试数据量庞大且格式多样，缺乏统一处理平台极易造成信息孤岛与决策延迟。Mapping Over Ink处理系统通过标准化接口自动收集TSK、P8、EG、OPUS等Probe的原始Mapping，结...

芯片制造工艺精密复杂，对良率管控精度要求较高，制程中任何微小参数偏差、设备波动，都有可能引发批量良率损失与生产成本飙升。YMS良率管理系统可全自动接入各类测试设备平台的异构测试数据，完成高精度解析、统...