热电制冷晶圆键合实现控温精度突破。铋碲-铜界面冶金结合使接触电阻趋近理论极限，温度调节速度提升至100℃/s。激光雷达温控单元在-40℃～125℃保持±0.01℃稳定性，测距精度达毫米级。新能源汽车实...

电子束曝光中的新型抗蚀剂如金属氧化物（氧化铪）正面临性能挑战。其高刻蚀选择比（硅:100:1）但灵敏度为10mC/cm²。研究通过铈掺杂和预曝光烘烤（180°C/2min）提升氧化铪胶灵敏度至1mC/...

在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器...

研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的...

电子束曝光推动高温超导材料实用化进程，在钇钡铜氧带材表面构筑纳米柱钉扎中心阵列。磁通涡旋精细锚定技术抑制电流衰减，77K条件下载流能力提升300%。模块化双面涂层工艺实现千米级带材连续生产，使可控核聚...

研究所利用人才团队的技术优势，在电子束曝光的反演光刻技术上取得进展。反演光刻通过计算机模拟优化曝光图形，可补偿工艺过程中的图形畸变，科研人员针对氮化物半导体的刻蚀特性，建立了曝光图形与刻蚀结果的关联模...

晶圆键合驱动磁存储技术跨越式发展。铁电-磁性隧道结键合实现纳秒级极化切换，存储密度突破100Gb/in²。自旋轨道矩效应使写能耗降至1fJ/bit，为存算一体架构铺路。IBM实测表明，非易失内存速度比...

围绕晶圆键合过程中的质量控制，该研究所建立了一套较为完善的检测体系。利用器件测试平台的精密仪器，科研团队对键合后的晶圆进行界面平整度、电学性能等多维度检测，分析不同工艺参数对键合质量的影响权重。在中试...

量子点显示晶圆键合突破色域极限。InGaN-钙钛矿量子点键合实现108%NTSC覆盖，色彩还原准确度ΔE<0.3。三星MicroLED电视实测峰值亮度5000nit，功耗降低40%。光学微腔结构使光效...

围绕电子束曝光在半导体激光器腔面结构制备中的应用，研究所进行了专项攻关。激光器腔面的平整度与垂直度直接影响其出光效率与寿命，科研团队通过控制电子束曝光的剂量分布，在腔面区域制备高精度掩模，再结合干法刻...

晶圆键合赋能红外成像主要组件升级。锗硅异质界面光学匹配层实现3-14μm宽波段增透，透过率突破理论极限达99%。真空密封腔体抑制热噪声，噪声等效温差压至30mK。在边境安防系统应用中，夜间识别距离提升...

该研究所将晶圆键合技术与半导体材料回收再利用的需求相结合，探索其在晶圆减薄与剥离工艺中的应用。在实验中，通过键合技术将待处理晶圆与临时衬底结合，为后续的减薄过程提供支撑，处理完成后再通过特定工艺实...