西藏GDBC平台

以往半导体质量团队每周需耗费大量时间手动汇总Excel数据、调整图表格式、整理周报资料，人工操作不但耗时费力、效率低下，还容易出现统计误差、格式不统一等问题。YMS系统搭载成熟的自动化报表功能，内置日、周、月标准化报表模板，可自动归集SYL/SBL管控状态、晶圆区域缺陷分布、良率时间波动趋势、异常批次统计等关键数据，一键生成完整分析报告，支持PPT、Excel、PDF多格式导出。不同岗位可按需取用对应格式文件：管理层可直接使用PPT版本开展经营复盘与会议汇报，审计环节可提交标准化PDF文档归档存证，工艺工程师可导出Excel原始数据开展深度问题挖掘与工艺研究。全流程自动化统计，实现全厂数据口径统一，杜绝人工汇总带来的数据偏差与信息混乱，将员工从重复性报表工作中解放出来，聚焦工艺优化、品质提升等高价值工作，推动企业数字化、数据化转型。PAT模块与GDBC算法协同减少误剔除良品风险，平衡质量与成本。西藏GDBC平台

晶圆测试完成后，大量Die虽显示“Pass”状态，但其中可能隐藏因工艺波动或微小损伤而存在早期失效风险的芯片。如何精确识别并拦截这些高风险Die，成为封测环节的重要挑战。Mapping Over Ink处理平台自动采集TSK、P8、EG、OPUS等探针设备的原始Mapping数据，结合测试结果，依据AECQ标准执行SPAT、DPAT、GDBN/GDBC、Cluster、UPLY、STACKED等多维算法，实现自动化的精确剔除。该平台避免了对人工经验的依赖，同时通过Mapping回溯功能，将处理后的txt格式数据还原为原始Probe格式，确保全流程可追溯。这种数据驱动的后处理机制，提升了产品可靠性与制造一致性。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续深耕半导体软件领域，其Mapping Over Ink处理平台已成为行业客户提升良率管控能力的重要工具。江西晶圆PAT服务参数漂移趋势在PAT分析中清晰呈现，实现早期风险预警。

良率管理系统的价值不但在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备，自动完成从数据采集到异常过滤的全流程治理。标准化数据库为多维度分析奠定基础，使时间趋势、区域对比、参数关联等洞察成为可能。例如，通过对比同一晶圆边缘与中心区域的良率差异，可判断光刻或刻蚀工艺的均匀性问题；结合FT与CP数据偏差，可追溯封装环节的潜在风险。SYL与SBL的自动计算功能，则为良率目标达成提供量化依据。报表系统支持灵活配置与多格式导出，降低管理沟通的成本。上海伟诺信息科技有限公司以“以信为本，以质取胜”为准则，推动YMS成为国产半导体提质增效的可靠伙伴。

在国产半导体替代加速的行业背景下，拥有自主主要技术、高场景适配性的良率管理系统，成为企业提质增效的刚需。上海伟诺YMS良率管理系统具备设备兼容性，可适配行业大多数主流测试平台，支持十余种测试数据格式，实现从数据采集、解析规整、异常过滤到分析输出的全流程自动化作业。分析引擎可完成时间序列趋势追踪、晶圆区域差异化对比、WAT/CP/FT多参数联动分析，快速锁定影响批次良率的诱因。SYL/SBL智能卡控与多格式报表导出功能，兼顾生产过程管控与管理层决策支撑，完善企业质量管控体系。相较于通用型软件，YMS优势在于拥有完整的本土实施团队与全周期服务体系，可保障系统部署、调试、落地、优化全流程高效推进，实现技术与场景融合。凭借多年项目落地经验，持续验证本土解决方案的专业性与可靠性，助力国产半导体软件生态自主可控发展。Mapping Over Ink处理推动封测环节向预测性质量演进，实现主动风险管理。

Mapping Over Ink是一款适配晶圆CP测试后段的智能化自动管控系统，可针对电性测试生成的晶圆图谱进行智能解析、数据优化与二次处理，联动探针台能完成指定缺陷芯片的自动化喷墨标记作业。系统可整合ZPAT、GDBN等多维度失效分析算法，将后台数据判定结果转化为物理标记动作，准确标记各类不良芯片，确保其在后续封装工序中被彻底剔除。区别于传统只筛选显性失效芯片的管控模式，该系统主打前置化、预判式质量管控，可提前识别并拦截所有潜在缺陷、隐性失效芯片，是实现芯片零缺陷生产、提升产品长期可靠性的技术手段。上海伟诺信息科技深耕半导体测试领域，专注为国内、外芯片设计企业与晶圆测试代工厂商，提供一站式Mapping Over Ink定制化解决方案。平台搭载行业前沿的数据分析、智能筛选与逻辑处理模块，通过多维度、多层级的数据校验与风险排查，筑牢晶圆测试质量防线，优化晶圆测试精度、稳定性与终端产品可靠性。上海伟诺信息科技Shot Map功能，可以自定义设定Wafer Mapping上Reticle区域并按规则Ink。江西晶圆PAT服务

PAT模块与GDBC算法协同区分随机噪声与系统性缺陷，提升筛选精确度。西藏GDBC平台

在半导体封测工厂高频次、多设备并行的量产工况下，依靠人工整理、分析异构测试数据的传统模式，极易出现数据滞后、统计失误、响应延迟等问题，制约异常处理效率。YMS良率管理系统可全天候自动汇聚STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等主流测试设备的原始数据，对多格式、差异化数据完成统一解析、清洗与规整，消除设备格式差异带来的数据断层与信息孤岛。规整后的结构化数据可实现批次、晶圆、芯片多级别的良率追溯与实时监控，数据一致性、稳定性提升。当生产线出现批次良率骤降等异常情况时，系统可快速调取对应晶圆的缺陷热力分布图，联动关联WAT、CP、FT全流程工艺参数变化，辅助工程师在短时间内锁定异常根源、制定整改方案。SYL与SBL智能预警机制可在主要指标超限时自动告警拦截，杜绝不良批次流入下一工序。自动化报表生成与多格式导出功能，适配产线运维、管理层决策的差异化需求，依托深厚的封测行业经验，持续强化系统的数据驱动能力。西藏GDBC平台

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着先进的发展理念，先进的管理经验，在发展过程中不断完善自己，要求自己，不断创新，时刻准备着迎接更多挑战的活力公司，在上海市等地区的数码、电脑中汇聚了大量的人脉以及**，在业界也收获了很多良好的评价，这些都源自于自身的努力和大家共同进步的结果，这些评价对我们而言是比较好的前进动力，也促使我们在以后的道路上保持奋发图强、一往无前的进取创新精神，努力把公司发展战略推向一个新高度，在全体员工共同努力之下，全力拼搏将共同上海伟诺信息科技供应和您一起携手走向更好的未来，创造更有价值的产品，我们将以更好的状态，更认真的态度，更饱满的精力去创造，去拼搏，去努力，让我们一起更好更快的成长！