福建自动化MappingOverInk处理解决方案

晶圆边缘出现连续性失效或局部斑点型缺陷时，传统Ink策略容易误伤良品或漏筛风险Die。Mapping Over Ink处理解决方案引入Inkless算法，在不依赖物理喷墨的前提下，通过空间分布模型识别边缘高风险区域，并结合PAT、GDBC等技术进行多维度交叉验证。系统自动解析TSK、P8、EG、OPUS等设备的原始Mapping，依据AECQ标准实施SPAT、DPAT、Cluster、UPLY、STACKED等处理逻辑，确保剔除动作既精确又可解释。这种数据驱动的风险管理方式，优化了Ink策略的科学性，同时减少了不必要的良率损失。上海伟诺信息科技有限公司基于对半导体制造痛点的深入理解，将该解决方案融入其测试数据分析体系，助力客户实现高质量交付。上海伟诺信息科技Mapping Over Ink功能，可以将测试后处理的芯片做降档处理，降低测试Cost。福建自动化MappingOverInk处理解决方案

在半导体制造中，晶圆厂制程的任何微小变动，都可能引起良率与可靠性的风险。其中，一个尤为典型的系统性失效模式，便源于光刻环节的Reticle（光罩）。当Reticle本身存在污染、划伤或设计瑕疵时，或当光刻机在步进重复曝光过程中出现参数漂移（如焦距不准、曝光能量不均）时。这些因Reticle问题而产生的特定区域内的芯片，实质上构成了一个高风险的“潜伏失效群体”。若不能在测试阶段被精确识别并剔除，将直接流向客户端，对产品的长期可靠性与品牌声誉构成严重威胁。识别并处理这类与Reticle强相关的潜在缺陷，是现代高可靠性质量管理中一项极具挑战性的关键任务。上海伟诺信息科技有限公司在MappingOverInk功能中提供了一个ShotMappingInk方案，可以将整个Mapping按Reticle大小或是自定义大小的方格，根据设定的算法将整个Shot进行Ink,从而去除掉因光刻环节的Reticle引起的潜在性失效芯片。通过ShotMappingInk方案，用户能够将质量管控的关口从“筛查单个失效芯片”前移至“拦截整个失效风险区域”。这尤其适用于对可靠性要求极严苛的车规、工规等产品，它能极大程度地降低因光刻制程偶发问题导致的批次性可靠性风险。宁夏半导体GDBC系统定制工艺工程师基于GDBC聚类结果优化制程参数，提升制造良率水平。

不同封测工厂的设备配置、工艺路线、生产模式与质量管控侧重点各不相同，通用标准化系统无法适配差异化生产需求，难以落地发挥价值。上海伟诺YMS系统采用底层通用、上层定制的灵活架构，可针对客户T861、STS8107、MS7000等各类测试设备组合，量身调整数据解析逻辑、分析统计维度与报表输出模板，打造专属良率管理方案。针对产线高频返工、缺陷集中、批次异常等生产痛点，可定制缺陷聚类规则与异常预警逻辑；针对企业审计合规、品质复盘等管理需求，可专项开发合规报表与追溯模块。系统底层遵循统一数据治理标准，保障数据准确可靠，上层功能按需适配客户业务流程，兼顾数据质量与运营效率。搭配SYL/SBL自动计算、智能预警与多格式报表导出功能，提升质量问题闭环效率。这种定制化、场景化的服务模式，让系统深度融入企业日常生产管控，助力客户打造差异化质量优势。

面对海量测试数据，表格形式难以快速捕捉异常模式。YMS系统将良率与缺陷信息转化为热力图、趋势曲线、散点图等多种可视化图表：晶圆热力图一眼识别高缺陷区域，时间序列图揭示良率波动周期，参数散点图暴露非线性关联关系。例如，通过CP漏电与FT功能失效的散点分布，可判断是否存在特定电压下的共性失效机制。图形化表达降低数据分析门槛，使非数据专业人员也能参与质量讨论。这种“所见即所得”的洞察方式，加速了从数据到行动的转化。上海伟诺信息科技有限公司将可视化作为关键设计原则，提升YMS的信息传达效率与决策支持价值。Mapping Over Ink处理系统输出结构化日志，完整记录处理过程满足质量追溯需求。

晶圆测试数据量庞大且格式多样，缺乏统一处理平台极易造成信息孤岛与决策延迟。Mapping Over Ink处理系统通过标准化接口自动收集TSK、P8、EG、OPUS等Probe的原始Mapping，结合测试Bin信息，执行符合AECQ标准的多算法Ink处理流程，快速锁定潜在失效Die。系统内置的Mapping回溯功能，可将处理结果反向转换为原始设备格式，便于在不同工序间共享与验证，极大提升数据流转效率。这种端到端的智能处理能力，使封测厂能在不改变现有硬件架构的前提下，实现更高水平的可靠性管控。上海伟诺信息科技有限公司凭借多年行业积累，打造了这一高效、兼容性强的处理系统，支撑客户应对日益严苛的质量要求。SPAT模块用于静态参数偏离的筛查，固定测试限保障CP/FT环节稳定性。宁夏半导体GDBC系统定制

Mapping Over Ink处理后的数据完整支持回溯为原始Probe格式，满足客户审计需求。福建自动化MappingOverInk处理解决方案

在半导体制造的后段工艺流程中，对晶圆测试（CP）阶段生成的Mapping图进行PAT（Part Average Testing）处理，已成为一项常规且至关重要的质量管控手段。该技术的价值在于运用统计方法，识别并剔除那些虽未超出规格界限但表现异常的“潜在缺陷”芯片，从而在封装前有效提升产品的良率与可靠性。上海伟诺信息科技有限公司的Mapping Over Ink处理方案，正是这一先进质量理念的践行者。该方案严格遵循AEC-Q100等车规级认证标准，不但提供标准PAT功能，更针对高可靠性应用的严苛要求，内置了SPAT与DPAT等处理模式。通过对测试参数进行多维度、智能化的异常分析，伟诺方案能有效提升CP测试的缺陷检出率，将早期失效风险遏制在封装之前。这直接带来了测试质量的飞跃与测试成本的优化，助力客户满足车规、工规等产品对质量与可靠性的不懈追求。福建自动化MappingOverInk处理解决方案

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