海南自动化PAT系统

不同封测工厂的设备配置、工艺路线、生产模式与质量管控侧重点各不相同，通用标准化系统无法适配差异化生产需求，难以落地发挥价值。上海伟诺YMS系统采用底层通用、上层定制的灵活架构，可针对客户T861、STS8107、MS7000等各类测试设备组合，量身调整数据解析逻辑、分析统计维度与报表输出模板，打造专属良率管理方案。针对产线高频返工、缺陷集中、批次异常等生产痛点，可定制缺陷聚类规则与异常预警逻辑；针对企业审计合规、品质复盘等管理需求，可专项开发合规报表与追溯模块。系统底层遵循统一数据治理标准，保障数据准确可靠，上层功能按需适配客户业务流程，兼顾数据质量与运营效率。搭配SYL/SBL自动计算、智能预警与多格式报表导出功能，提升质量问题闭环效率。这种定制化、场景化的服务模式，让系统深度融入企业日常生产管控，助力客户打造差异化质量优势。PAT模块与GDBC算法协同区分随机噪声与系统性缺陷，提升筛选精确度。海南自动化PAT系统

在晶圆测试（CP）过程中，ProbeMapping（探针测试图谱）作为记录每一颗芯片测试结果的重要载体，其数据完整性直接决定了良率分析的准确性与生产流程的可追溯性。然而在实际量产环境中，因硬件通信异常、软件系统故障、产线突然断电或人为操作失误等多种意外情况，Mapping数据丢失、损坏或格式不兼容的问题时有发生。这类数据异常不但会导致当批晶圆的测试结果无法被正确解析，更会中断生产信息链，使后续的封装拣选、质量追溯与制程优化丧失依据，对整体产品良率与制程管控构成严峻挑战。针对这一行业共性难题，上海伟诺信息科技有限公司从实际测试场景出发，开发出一套高效、可靠的Mapping格式转换解决方案，致力于从根本上保障数据流的无缝衔接。该功能支持将CP测试系统生成的原始Mapping数据，智能、精确地转换为各类主流探针台可直接识别并加载的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在内的多种设备类型。通过这一转换流程，用户不但能够有效恢复因格式问题而“失效”的测试数据，避免晶圆重复测试带来的成本与时间损失，更能构建起一条从测试到封装的高可靠性数据通道，提升整体生产流程的连贯性与自动化水平，为良率提升与工艺优化提供坚实的数据基石。四川自动化PAT解决方案失效Die的空间分布特征是判断工艺问题的关键依据，指导制程参数优化。

Mapping Over Ink处理是一种面向半导体封测环节的智能后处理技术，专门拦截“测试通过但可靠性存疑”的Die。该技术自动整合多品牌Probe设备的原始Mapping，结合测试数据，运用SPAT、DPAT、GDBN/GDBC、Cluster、UPLY、STACKED等算法，从参数统计、空间分布和聚类特征三个维度综合判定风险等级。其本质是将制造过程中难以避免的微小偏差转化为结构化数据信号，再通过科学模型实现精确剔除，防止因工艺波动或外观损伤导致的隐性失效进入下游。这不只是强化了质量防线，也为工艺改进提供数据反馈。上海伟诺信息科技有限公司将该技术深度集成于其测试数据分析系统，支撑客户实现更高水平的良率管理。

半导体企业在选型良率管理系统时，重点关注功能适配性、场景覆盖度与长期稳定的售后服务体系，兼顾使用价值与投入性价比。上海伟诺YMS系统采用模块化可配置架构，可根据企业现有ETS364、Juno、AMIDA、CTA8280等测试设备型号，以及STDF、JDF、LOG等各类数据格式，灵活搭配功能模块，准确适配企业个性化生产场景。系统可全自动完成数据采集、清洗、规整与整合，依托标准化数据库实现时间趋势追踪、区域缺陷对比、缺陷聚类溯源等多维分析。SYL与SBL智能管控模块可实时监控主要良率指标，通过阈值卡控构建封测全流程动态质量防线。项目报价根据客户定制化需求、功能拓展范围与服务内容灵活制定，保证客户在合理预算内获取高适配、高性价比的解决方案。同时配套完善的售前咨询、售中优化、售后运维服务，保障系统长期稳定运行、持续迭代升级，助力企业实现良率稳步提升与长效管控。采用Inkless技术避免油墨标记干扰，Mapping Over Ink处理保持晶圆洁净度。

良率管理服务的价值体现在全生命周期的技术陪伴与问题解决能力。YMS系统不但提供数据采集、清洗、分析与可视化的一体化平台，更通过售前技术咨询、售中合理化方案定制与售后标准化服务，确保系统与客户实际流程深度契合。当客户接入ETS88、STS8107、Chroma等设备后，系统自动处理其输出的stdf、xls、spd、jdf等格式数据，完成异常检测与结构化存储。管理者可通过图表直观掌握良率趋势、区域缺陷分布及WAT/CP/FT参数关联性，快速制定改进措施。SYL与SBL的自动计算与阈值监控，进一步提升过程稳定性。灵活的报表工具支持多格式导出，打通从车间到决策层的信息通道。DPAT模块动态调整阈值以适应批次差异，分场景优化测试限设定。湖北可视化GDBC软件

上海伟诺信息科技Mapping Over Ink功能，能有效地帮助用户提升芯片制造零缺陷。海南自动化PAT系统

良率管理的目标是将海量测试数据转化为可执行的工艺洞察。YMS系统通过自动化采集来自各类Tester平台的多格式数据，完成端到端的数据清洗与整合，消除人工干预带来的误差与延迟。在此基础上，系统构建标准化数据库，支持从批次级到晶圆级的多维度缺陷分析，例如识别某一时段内边缘区域良率骤降是否与刻蚀参数漂移相关。结合WAT、CP、FT数据的交叉验证，可区分设计缺陷与制造偏差，缩短问题排查周期。SYL与SBL的自动计算与实时卡控，为关键指标设置动态防线。周期性报告一键生成并支持PPT、Excel、PDF导出，使管理层能基于一致数据源快速决策。这种从数据到行动的闭环机制，提升了生产过程的可控性与响应速度。上海伟诺信息科技有限公司以打造中国半导体软件生态为使命，持续推动YMS成为行业提质增效的基础设施。海南自动化PAT系统

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着雄厚实力背景、信誉可靠、励精图治、展望未来、有梦想有目标，有组织有体系的公司，坚持于带领员工在未来的道路上大放光明，携手共画蓝图，在上海市等地区的数码、电脑行业中积累了大批忠诚的客户粉丝源，也收获了良好的用户口碑，为公司的发展奠定的良好的行业基础，也希望未来公司能成为*****，努力为行业领域的发展奉献出自己的一份力量，我们相信精益求精的工作态度和不断的完善创新理念以及自强不息，斗志昂扬的的企业精神将**和您一起携手步入辉煌，共创佳绩，一直以来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，员工精诚努力，协同奋取，以品质、服务来赢得市场，我们一直在路上！