中国台湾PAT解决方案

半导体设计企业对良率分析精度要求严苛，既要保障单芯片级的微观分析精度，也要满足多项目、多产品线的横向对比管控需求。上海伟诺YMS良率管理系统可适配Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等主流测试平台，对各类异构测试数据完成统一解析、规整与结构化存储，构建从晶圆批次到单颗芯片的完整数据链路，保障数据完整性与一致性。系统不但支持良率时间趋势追踪、晶圆区域缺陷对比等基础分析，还可通过WAT工艺参数波动预警，提前识别潜藏的产品设计隐患，助力研发团队快速完成设计迭代与优化升级。SYL、SBL自动计算功能可量化良率管控目标，实现指标可视化、可控化。高度灵活的报表引擎可根据项目、产品线、客户维度定制分析报告，适配企业日常运营、项目复盘、客户汇报等多场景需求，推动良率管理从被动异常整改，转向主动预防式管控。企业持续打磨系统功能与行业适配能力，以专业技术助力半导体设计企业提质增效。Mapping Over Ink处理提升产品市场竞争力，降低客户投诉率。中国台湾PAT解决方案

良率的突发性波动若无法及时识别、快速干预，极易引发批量报废、返工重测问题，给企业造成高额产能与经济损失。YMS良率管理系统依托全自动化数据处理流程，实时采集、清洗、规整各类测试平台的异构数据，构建高精度、高可信度的数据分析底座。系统具备从宏观批次趋势到微观单芯片缺陷的穿透式分析能力，可关联产品月度良率下滑、封装产线异常、FT测试参数偏移等关键信息，快速定位故障根源。SYL与SBL动态阈值管控机制，可根据工艺标准自适应调整预警区间，实现异常提前告警、风险前置拦截，扭转事后整改的被动管控模式。系统支持多周期报表自动生成与多格式导出，让企业管理层依托统一、准确的数据标准快速制定决策、落地优化方案。凭借实时感知、智能归因、主动干预的能力，推动良率管理从传统经验驱动升级为数据驱动，以严谨可靠的技术服务助力企业稳健经营。天津MappingOverInk处理平台Mapping Inkless避免油墨标记对先进封装工艺的干扰，保持晶圆洁净度。

当CP良率骤降而FT失败模式复杂时，只靠单一测试阶段数据难以归因。YMS系统将WAT、CP与FT参数统一纳入分析框架，建立跨阶段关联模型。例如，若某批次WAT中栅氧击穿电压偏移，同时CP漏电流异常升高，YMS可自动关联两者趋势，提示前道氧化工艺可能存在波动。图形化界面支持并排查看参数曲线与良率变化，快速锁定关键影响因子，避免在封装或测试环节盲目排查。这种端到端的根因分析能力，将问题诊断周期从数天缩短至数小时，减少试产浪费。上海伟诺信息科技有限公司通过深度整合多源测试数据，使YMS成为了良率攻关的关键工具。

当多台测试设备同时产出异构数据时，传统人工整合方式不但耗时，还易引入误差。YMS系统通过自动化流程，将来自ETS364、STS8200、TR6850等设备的spd、jdf、zip等格式数据统一解析、清洗并结构化存储，构建一致的数据底座。在此基础上，结合WAT、CP、FT等关键测试阶段的参数变化，系统能够揭示影响良率的深层关联，辅助工程师精确调整工艺窗口。多维度可视化图表让晶圆级缺陷热力图、批次良率走势一目了然，明显缩短问题响应的周期。报表功能支持按需定制并导出多种办公格式，提升跨部门协同效率。SYL/SBL的实时卡控能力，则有效预防批量性质量风险。上海伟诺信息科技有限公司秉持“以信为本，以质取胜”的宗旨，致力于打造适配国产半导体生态的智能良率管理工具。上海伟诺信息科技Shot Map功能，可以自定义设定Wafer Mapping上Reticle区域并按规则Ink。

车规级或高可靠性芯片生产中，单纯依靠电性测试限值不足以拦截所有潜在缺陷。Mapping Over Ink处理通过数据驱动方式，在测试通过的Die中进一步筛除存在隐蔽失效倾向的单元。系统将原始Mapping与测试结果融合，依据AECQ标准构建多维度风险评估模型，不只是关注单颗Die状态，更分析其空间分布与邻近关联性，从而避免系统性隐患流入封装或市场。这种预防性剔除机制明显降低售后失效率、质保成本及品牌声誉风险，同时提升客户对产品质量的信心。上海伟诺信息科技有限公司依托对半导体制造逻辑的深刻理解，将该目标转化为可落地的技术实践。输出结构化日志，Mapping Over Ink系统完整记录处理过程，满足质量追溯需求。黑龙江可视化MappingOverInk处理平台

多轮重测数据动态更新Mapping Over Ink处理的Ink决策，确保筛选结果实时优化。中国台湾PAT解决方案

半导体芯片的良率管控关键，在于对海量测试数据的深度挖掘与高效利用，良率管理系统（YMS）正是实现数据赋能生产的载体。系统可自动对接各类测试设备输出的异构化原始数据，自主完成数据清洗、重复剔除、纠错补全与结构化规整，搭建准确、完整、统一的标准化数据库，为工艺分析提供可靠的数据支撑。通过联动拆解晶圆测试（WAT）、中测（CP）、终测（FT）等全关键工艺节点的参数数据，系统可挖掘潜藏的工艺偏差、设备异常与设计漏洞，为研发优化、制程整改、工艺迭代提供可落地、可执行的优化方案。平台搭载多维度可视化图表，清晰呈现良率波动规律、缺陷分布特征，支持从批次、晶圆、单颗芯片的全层级精细化追溯。分级报表功能可适配基层生产、中层管理、高层决策的差异化数据需求，打通产线现场到企业决策层的信息壁垒。上海伟诺信息科技秉持“以信为本，以质取胜”的理念，持续迭代优化YMS系统功能，助力国产半导体行业完善自主软件生态，推动制造品质升级。中国台湾PAT解决方案

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着雄厚实力背景、信誉可靠、励精图治、展望未来、有梦想有目标，有组织有体系的公司，坚持于带领员工在未来的道路上大放光明，携手共画蓝图，在上海市等地区的数码、电脑行业中积累了大批忠诚的客户粉丝源，也收获了良好的用户口碑，为公司的发展奠定的良好的行业基础，也希望未来公司能成为*****，努力为行业领域的发展奉献出自己的一份力量，我们相信精益求精的工作态度和不断的完善创新理念以及自强不息，斗志昂扬的的企业精神将**和您一起携手步入辉煌，共创佳绩，一直以来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，员工精诚努力，协同奋取，以品质、服务来赢得市场，我们一直在路上！