山东可视化MappingOverInk处理系统定制

在晶圆测试（CP）过程中，ProbeMapping（探针测试图谱）作为记录每一颗芯片测试结果的重要载体，其数据完整性直接决定了良率分析的准确性与生产流程的可追溯性。然而在实际量产环境中，因硬件通信异常、软件系统故障、产线突然断电或人为操作失误等多种意外情况，Mapping数据丢失、损坏或格式不兼容的问题时有发生。这类数据异常不*会导致当批晶圆的测试结果无法被正确解析，更会中断生产信息链，使后续的封装拣选、质量追溯与制程优化丧失依据，对整体产品良率与制程管控构成严峻挑战。

针对这一行业共性难题，上海伟诺信息科技有限公司从实际测试场景出发，开发出一套高效、可靠的Mapping格式转换解决方案，致力于从根本上保障数据流的无缝衔接。该功能支持将CP测试系统生成的原始Mapping数据，智能、精确地转换为各类主流探针台可直接识别并加载的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在内的多种设备类型。通过这一转换流程，用户不*能够有效恢复因格式问题而“失效”的测试数据，避免晶圆重复测试带来的成本与时间损失，更能构建起一条从测试到封装的高可靠性数据通道，从而提升整体生产流程的连贯性与自动化水平，为良率提升与工艺优化提供坚实的数据基石。 多轮重测数据动态更新Ink决策，Mapping Over Ink处理确保筛选结果实时优化。山东可视化MappingOverInk处理系统定制

半导体测试是半导体制造过程中质量的一道关键防线，扮演着日益关键角色，单纯依赖传统电性测试的“通过/失败”界限，已无法满足对产品“零缺陷”的追求。为了大力提升测试覆盖度，构筑更为坚固的质量防线，采用GDBN技术来识别并剔除那些位于“不良环境”中的高风险芯片，已成为车规、工规等类产品不可或缺的必要手段。

细化需求。

为此，上海伟诺信息科技有限公司为客户提供了一套包含多重GDBN算法的综合解决方案，该方案具备高度的灵活性与强大的适应性，能够精确满足半导体设计公司与CP测试厂对提升产品可靠性的关键诉求，成为客户应对高质量挑战的可靠伙伴，共同构筑面向未来的半导体质量防线。 山东可视化MappingOverInk处理系统定制上海伟诺信息科技GDBN功能，通过各种算法可以帮助客户快速剔除芯片上异常风险芯片。

芯片制造对良率控制的精度要求极高，YMS系统为此提供了从数据采集到根因分析的一站式解决方案。系统兼容多种测试平台输出的多格式文件，自动完成数据清洗与整合，确保从晶圆到单颗芯片的全链路数据一致性。通过关联WAT、CP、FT等阶段的关键参数，系统可精确识别导致良率下降的工艺或设计问题，并以图表形式展现芯片级缺陷分布与趋势变化。灵活的报表引擎支持按周期自动生成分析简报，便于跨部门协同与持续改进。这种精细化的数据治理能力，使企业在激烈竞争中保持质量优势。上海伟诺信息科技有限公司致力于用专业软件能力赋能中国半导体产业，其YMS系统已成为多家客户提升产品竞争力的重要工具。

Mapping Over Ink处理始于自动采集TSK、P8、EG、OPUS等设备生成的原始Mapping数据，确保源头信息完整无损。随后系统对数据进行解析整理，并与对应测试Bin精确对齐，形成统一分析基底。在此基础上，调用SPAT、DPAT、GDBN/GDBC、Cluster、UPLY、STACKED等符合AECQ标准的算法模块，对潜在失效Die进行识别与标记。通过Ink逻辑剔除风险单元，并支持将处理结果回溯为原始Probe格式，实现全流程可验证、可复现。整个流程高度自动化，减少人为干预，提升决策一致性与处理效率。上海伟诺信息科技有限公司基于多年工程经验，持续打磨这一闭环处理链路，为行业客户提供可靠的Mapping Over Ink处理系统。Mapping Over Ink处理的异常Die剔除决策具备完整数据留痕，确保处理过程透明可审计。

在封测工厂的日常运营中，良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台，高效采集stdf、csv、log、txt等多种格式的原始测试数据，并完成重复性检测、缺失值识别与异常数据过滤，确保后续分析基于准确、完整的数据基础。通过标准化数据库对数据统一分类，系统支持从时间序列追踪良率趋势，或从晶圆区域对比缺陷分布，快速定位工艺偏差。SYL与SBL参数的自动计算与卡控机制，进一步强化了质量防线。灵活的报表工具可按模板生成日报、周报、月报，并导出为PPT、Excel或PDF，满足从产线到管理层的信息需求。上海伟诺信息科技有限公司自2019年成立以来，持续深耕半导体软件领域，其YMS系统已成为封测企业实现质量闭环管理的重要支撑。参数合格但行为异常的Die被有效拦截，Mapping Over Ink处理提升芯片长期可靠性。山东可视化MappingOverInk处理系统定制

PAT模块与GDBC算法协同区分随机噪声与系统性缺陷，提升筛选精确度。山东可视化MappingOverInk处理系统定制

在半导体制造全流程中，晶圆制程的细微参数波动，都有可能引发产品良率下滑与可靠性隐患，其中典型的问题是光刻光罩（Reticle）带来的系统性失效。当光罩本身存在划痕、污渍、设计瑕疵，或是光刻机步进曝光作业出现焦距偏移、曝光能量不均等参数漂移问题时，会在晶圆固定区域形成批量缺陷芯片，构成潜伏性失效群体。这类芯片电性测试往往正常，常规测试手段难以识别，一旦流入封装和终端市场，极易引发后期集中失效，损害产品口碑与企业品牌信誉，是高可靠产品管控的重点与难点。针对光刻光罩带来的区域性、批次性潜在缺陷，上海伟诺信息科技在Mapping Over Ink功能中创新开发Shot Mapping Ink工艺方案，可按照光罩尺寸或自定义方格规格拆分整体晶圆Mapping数据，依托智能算法对整片曝光区域统一喷墨标记，批量拦截光刻制程诱发的潜在失效芯片。该管控模式将传统单点芯片缺陷筛查，升级为整片风险区域拦截，高度适配车规、工规等高可靠性产品生产需求，从根本上规避光刻工艺偶发异常带来的批次质量风险，构建系统性缺陷防护体系。山东可视化MappingOverInk处理系统定制

上海伟诺信息科技有限公司是一家有着先进的发展理念，先进的管理经验，在发展过程中不断完善自己，要求自己，不断创新，时刻准备着迎接更多挑战的活力公司，在上海市等地区的数码、电脑中汇聚了大量的人脉以及**，在业界也收获了很多良好的评价，这些都源自于自身的努力和大家共同进步的结果，这些评价对我们而言是比较好的前进动力，也促使我们在以后的道路上保持奋发图强、一往无前的进取创新精神，努力把公司发展战略推向一个新高度，在全体员工共同努力之下，全力拼搏将共同和您一起携手走向更好的未来，创造更有价值的产品，我们将以更好的状态，更认真的态度，更饱满的精力去创造，去拼搏，去努力，让我们一起更好更快的成长！