研究所将电子束曝光技术应用于 IGZO 薄膜晶体管的沟道图形制备中，探索其在新型显示器件领域的应用潜力。IGZO 材料对曝光过程中的电子束损伤较为敏感，科研团队通过控制曝光剂量与扫描方式，减少电子束与材料的相互作用对薄膜性能的影响。利用器件测试平台，对比不同曝光参数下晶体管的电学性能，发现优化后的曝光工艺能使器件的开关比提升一定幅度，阈值电压稳定性也有所改善。这项应用探索不仅拓展了电子束曝光的技术场景，也为新型显示器件的高精度制备提供了技术支持。电子束曝光为植入式医疗电子提供长效生物界面封装。山西AR/VR电子束曝光
研究所利用多平台协同优势，研究电子束曝光图形在后续工艺中的转移完整性。电子束曝光形成的抗蚀剂图形需要通过刻蚀工艺转移到半导体材料中，团队将曝光系统与电感耦合等离子体刻蚀设备结合，研究不同刻蚀气体比例对图形转移精度的影响。通过材料分析平台的扫描电镜观察，发现曝光图形的线宽偏差会在刻蚀过程中产生一定程度的放大，据此建立了曝光线宽与刻蚀结果的校正模型。这项研究为从设计图形到器件结构的精细转化提供了技术支撑，提高了器件制备的可预测性。黑龙江NEMS器件电子束曝光电子束刻蚀实现声学超材料宽频可调谐结构制造。
研究所针对电子束曝光在高频半导体器件互联线制备中的应用开展研究。高频器件对互联线的尺寸精度与表面粗糙度要求严苛，科研团队通过优化电子束曝光的扫描方式，减少线条边缘的锯齿效应，提升互联线的平整度。利用微纳加工平台的精密测量设备，对制备的互联线进行线宽与厚度均匀性检测，结果显示优化后的工艺使线宽偏差控制在较小范围，满足高频信号传输需求。在毫米波器件的研发中，这种高精度互联线有效降低了信号传输损耗，为器件高频性能的提升提供了关键支撑，相关工艺已纳入中试技术方案。
第三代太阳能电池中，电子束曝光制备钙钛矿材料的纳米光陷阱结构。在ITO/玻璃基底设计六方密排纳米锥阵列（高度200nm，锥角60°），通过二区剂量调制优化显影剖面。该结构将光程长度提升3倍，使钙钛矿电池转化效率达29.7%，减少贵金属用量50%以上。电子束曝光在X射线光栅制作中克服高深宽比挑战。通过50μm厚SU-8胶体的分级曝光策略（底剂量100μC/cm²，顶剂量500μC/cm²），实现深宽比>40的纳米柱阵列（周期300nm）。结合LIGA工艺制成的铱涂层光栅，使同步辐射成像分辨率达10nm，应用于生物细胞器三维重构。电子束曝光在MEMS器件加工中实现微谐振结构的亚纳米级精度控制。
电子束曝光设备的运行成本较高，团队通过优化曝光区域选择，对器件有效区域进行曝光，减少无效曝光面积，降低了单位器件的制备成本。同时，通过设备维护与参数优化，延长了关键部件的使用寿命，间接降低了设备运行成本。这些成本控制措施使电子束曝光技术在中试生产中的经济性得到一定提升，更有利于其在产业中的推广应用。研究所将电子束曝光技术应用于半导体量子点的定位制备中，探索其在量子器件领域的应用。量子点的精确位置控制对量子器件的性能至关重要，科研团队通过电子束曝光在衬底上制备纳米尺度的定位标记，引导量子点的选择性生长。电子束曝光在固态电池领域优化电解质/电极界面离子传输效率。上海图形化电子束曝光加工
电子束曝光在单分子测序领域实现原子级精度的生物纳米孔制造。山西AR/VR电子束曝光
科研团队探索电子束曝光与化学机械抛光技术的协同应用，用于制备全局平坦化的多层结构。多层器件在制备过程中易出现表面起伏，影响后续曝光精度，团队通过电子束曝光定义抛光阻挡层图形，结合化学机械抛光实现局部区域的精细平坦化。对比传统抛光方法，该技术能使多层结构的表面粗糙度降低一定比例，为后续曝光工艺提供更平整的基底。在三维集成器件的研究中，这种协同工艺有效提升了层间对准精度，为高密度集成器件的制备开辟了新路径，体现了多工艺融合的技术创新思路。山西AR/VR电子束曝光
