PECVD（等离子增强化学气相沉积或等离子体辅助化学气相沉积），是一种利用等离子体在较低温度下进行沉积的一种薄膜生长技术。等离子体中大部分原子或分子被电离，通常使用射频(RF)产生，但也可以通过交流电(AC)或直流电(DC)在两个平行电极之间放电产生。PECVD是一种基于真空的工艺，通常在<0.1Torr的压力下进行，允许相对较低的基板温度，从室温到300°C。通过利用等离子体为这些沉积反应的发生提供能量，而不是将基板加热到很高的的温度来驱动这些沉积反应。由于PECVD沉积温度较低，沉积的薄膜应力较小，结合力更强。镀膜层能明显提升产品的抗冲击性能。来料真空镀膜技术
LPCVD设备的基本原理是利用化学气相沉积（CVD）的方法，在低压（通常为0.1-10Torr）和高温（通常为500-1200℃）的条件下，将含有所需元素的气体前驱体引入反应室，在衬底表面发生化学反应，形成所需的薄膜材料。LPCVD设备的优点主要有以下几点：（1）由于低压条件下气体分子的平均自由程较长，使得气体在反应室内的分布更加均匀，从而提高了薄膜的均匀性和重复性；（2）低压条件下气体分子与衬底表面的碰撞频率较低，使得反应速率主要受表面反应速率控制，从而提高了薄膜的纯度和结晶性；（3）低压条件下气体分子与反应室壁面的碰撞频率较低，使得反应室壁面上沉积的材料较少，从而降低了颗粒污染和清洗频率；驻马店真空镀膜厂镀膜过程需在高度真空环境中进行。
器件尺寸按摩尔定律的要求不断缩小，栅极介质的厚度不断减薄，但栅极的漏电流也随之增大。在5.0nm以下，SiO2作为栅极介质所产生的漏电流已无法接受，这是由电子的直接隧穿效应造成的。HfO2族的高k介质是目前比较好的替代SiO2/SiON的选择。HfO2族的高k介质主要通过原子层沉积（ALD）或金属有机物化学气相沉积（MOCVD）等方法沉积。介质膜的主要作用有：1.改善半导体器件和集成电路参数；2.增强器件的稳定性和可靠性，二次钝化可强化器件的密封性，屏蔽外界杂质、离子电荷、水汽等对器件的有害影响；3.提高器件的封装成品率，钝化层为划片、装架、键合等后道工艺处理提供表面的机械保护；4.其它作用，钝化膜及介质膜还可兼作表面及多层布线的绝缘层；
栅极氧化介电层除了纯二氧化硅薄膜，也会用到氮氧化硅作为介质层，之所以用氮氧化硅来作为栅极氧化介电层，一方面是因为跟二氧化硅比，氮氧化硅具有较高的介电常数，在相同的等效二氧化硅厚度下，其栅极漏电流会降低；另一方面，氮氧化硅中的氮对PMOS多晶硅中硼元素有较好的阻挡作用，它可以防止离子注入和随后的热处理过程中，硼元素穿过栅极氧化层到沟道，引起沟道掺杂浓度的变化，从而影响阈值电压的控制。作为栅极氧化介电层的氮氧化硅必须要有比较好的薄膜特性及工艺可控性，所以一般的工艺是先形成一层致密的、很薄的、高质量的二氧化硅层，然后通过对二氧化硅的氮化来实现的。真空镀膜设备需精确控制温度和压力。
LPCVD设备的设备构造主要包括以下几个部分：真空系统、气体输送系统、反应室、加热系统、温度控制系统、压力控制系统、流量控制系统等。LPCVD设备的发展趋势主要有以下几点：（1）为了降低衬底材料的热损伤和热预算，提高沉积速率和产能，开发新型的低温LPCVD方法，如等离子体增强LPCVD（PE-LPCVD）、激光辅助LPCVD（LA-LPCVD）、热辐射辅助LPCVD（RA-LPCVD）等；（2）为了提高薄膜材料的质量和性能，开发新型的高纯度和高结晶度的LPCVD方法，如超高真空LPCVD（UHV-LPCVD）、分子束外延LPCVD（MBE-LPCVD）、原子层沉积LPCVD（ALD-LPCVD）等；（3）为了拓展薄膜材料的种类和功能，开发新型的复合和异质的LPCVD方法，如多元化合物LPCVD、纳米结构LPCVD、量子点LPCVD等。镀膜层能有效隔绝环境中的有害物质。朝阳来料真空镀膜
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LPCVD的关键硬件主要包括以下几个部分：反应器：LPCVD反应器是用于进行LPCVD制程的主要设备，它由一个密封的容器和一个加热系统组成。根据反应器的形状和加热方式的不同，LPCVD反应器可以分为水平管式反应器、垂直管式反应器、单片反应器等。水平管式反应器是一种常用的LPCVD反应器，它由一个水平放置的石英管和一个螺旋形的电阻丝加热系统组成，可以同时处理多片衬底，具有较高的生产效率和较好的沉积均匀性。垂直管式反应器是另一种常用的LPCVD反应器，它由一个垂直放置的石英管和一个电磁感应加热系统组成，可以实现更高的沉积温度和更快的沉积速率，适用于高温沉积材料。来料真空镀膜技术
