利用高分辨率透射电镜观察，发现量子点的位置偏差可控制在较小范围内，满足量子器件的设计要求。这项研究展示了电子束曝光技术在量子信息领域的应用潜力，为构建高精度量子功能结构提供了技术基础。围绕电子束曝光的环境因素影响，科研团队开展了系统性研究。温度、湿度等环境参数的波动可能影响电子束的稳定性与抗蚀剂性能，团队通过在曝光设备周围建立恒温恒湿环境控制单元，减少了环境因素对曝光精度的干扰。对比环境控制前后的图形制备结果，发现线宽偏差的波动范围缩小了一定比例，图形的长期稳定性得到改善。这些细节上的改进，体现了研究所对精密制造过程的严格把控，为电子束曝光技术的可靠应用提供了保障。电子束曝光的图形精度高度依赖剂量调控技术和套刻误差管理机制。湖南NEMS器件电子束曝光加工厂商
电子束曝光在量子计算领域实现离子阱精密制造突破。氧化铝基板表面形成共面波导微波馈电网络，微波场操控精度达μK量级。三明治电极结构配合双光子聚合抗蚀剂，使三维势阱定位误差＜10nm。在40Ca⁺离子操控实验中，量子门保真度达99.995%，单比特操作速度提升至1μs。模块化阱阵列为大规模量子计算机提供可扩展物理载体，支持1024比特协同操控。电子束曝光推动仿生视觉芯片突破生物极限。在柔性基底构建对数响应感光阵列，动态范围扩展至160dB，支持10⁻³lux至10⁵lux照度无失真成像。神经形态脉冲编码电路模仿视网膜神经节细胞，信息压缩率超1000:1。在自动驾驶场景测试中，该芯片在120km/h时速下识别距离达300米，较传统CMOS传感器响应速度提升10倍，动态模糊消除率99.2%。辽宁光波导电子束曝光技术电子束曝光确保微型核电池高辐射剂量下的安全密封。
研究所利用人才团队的技术优势，在电子束曝光的反演光刻技术上取得进展。反演光刻通过计算机模拟优化曝光图形，可补偿工艺过程中的图形畸变，科研人员针对氮化物半导体的刻蚀特性，建立了曝光图形与刻蚀结果的关联模型。借助全链条科研平台的计算资源，团队对复杂三维结构的曝光图形进行模拟优化，在微纳传感器的腔室结构制备中，使实际图形与设计值的偏差缩小了一定比例。这种基于模型的工艺优化方法，为提高电子束曝光的图形保真度提供了新思路。
针对电子束曝光在教学与人才培养中的作用，研究所利用该技术平台开展实践培训。作为拥有人才团队的研究机构，团队通过电子束曝光实验课程，培养研究生与青年科研人员的微纳加工技能，让学员参与从图形设计到曝光制备的全流程操作。结合第三代半导体器件的研发项目，使学员在实践中掌握曝光参数优化与缺陷分析的方法，为宽禁带半导体领域培养了一批具备实际操作能力的技术人才。研究所展望了电子束曝光技术与第三代半导体产业发展的结合前景，制定了中长期研究规划。随着半导体器件向更小尺寸、更高集成度发展，电子束曝光的纳米级加工能力将发挥更重要作用，团队计划在提高曝光速度、拓展材料适用性等方面持续攻关。结合省级重点科研项目的支持，未来将重点研究电子束曝光在量子器件、高频功率器件等领域的应用，通过与产业界的深度合作，推动科研成果向实际生产力转化，助力广东半导体产业的技术升级。电子束曝光利用非光学直写原理突破光学衍射极限，实现纳米级精度加工和复杂图形直写。
将电子束曝光技术与深紫外发光二极管的光子晶体结构制备相结合，是研究所的另一项应用探索。光子晶体可调控光的传播方向，提升器件的光提取效率，科研团队通过电子束曝光在器件表面制备亚波长周期结构，研究周期参数对光提取效率的影响。利用光学测试平台，对比不同光子晶体图形下器件的发光强度，发现特定周期的结构能使深紫外光的出光效率提升一定比例。这项工作展示了电子束曝光在光学功能结构制备中的独特优势，为提升光电子器件性能提供了新途径。该所微纳加工平台的电子束曝光设备可实现亚微米级图形加工。辽宁光波导电子束曝光技术
电子束曝光能制备超高深宽比X射线光学元件以突破成像分辨率极限。湖南NEMS器件电子束曝光加工厂商
围绕电子束曝光在半导体激光器腔面结构制备中的应用，研究所进行了专项攻关。激光器腔面的平整度与垂直度直接影响其出光效率与寿命，科研团队通过控制电子束曝光的剂量分布，在腔面区域制备高精度掩模，再结合干法刻蚀工艺实现陡峭的腔面结构。利用光学测试平台，对比不同腔面结构的激光器性能，发现优化后的腔面使器件的阈值电流降低，斜率效率有所提升。这项研究充分发挥了电子束曝光的纳米级加工优势，为高性能半导体激光器的制备提供了工艺支持，相关成果已应用于多个研发项目。湖南NEMS器件电子束曝光加工厂商
