各向异性：各向异性是指硅片上被刻蚀的结构在垂直方向和水平方向上的刻蚀速率比，它反映了深硅刻蚀设备的刻蚀剖面和形状。各向异性受到反应室内的偏置电压、保护膜沉积等参数的影响，一般在10-100之间。各向异性越高，表示深硅刻蚀设备对硅片上结构的垂直方向上的刻蚀能力越强，水平方向上的刻蚀能力越弱，刻蚀剖面和形状越垂直或倾斜。刻蚀深宽比：是微机械加工工艺的一项重要工艺指标,表示为采用湿法或干法蚀刻基片过程中,纵向蚀刻深度和横向侵蚀宽度的比值.采用刻蚀深宽比大的工艺就能够加工较厚尺寸的敏感结构,增加高敏感质量,提高器件的灵敏度和精度.目前采用干法刻蚀通常能达到80—100的刻蚀深宽比。随着生物医学领域对硅的不断提高，深硅刻蚀设备也需要不断地进行创新和改进。浙江MEMS材料刻蚀代工
掩膜材料是用于覆盖在三五族材料上，保护不需要刻蚀的部分的材料。掩膜材料的选择主要取决于其与三五族材料和刻蚀气体的相容性和选择性。一般来说，掩膜材料应具有以下特点：与三五族材料有良好的附着性和平整性；对刻蚀气体有较高的抗刻蚀性和选择比；对三五族材料有较低的扩散性和反应性；易于去除和清洗。常用的掩膜材料有光刻胶、金属、氧化物、氮化物等。刻蚀温度是指固体表面的温度，它影响着固体与气体之间的反应动力学和热力学。一般来说，刻蚀温度越高，固体与气体之间的反应速率越快，刻蚀速率越快；但也可能造成固体的热变形、热应力、热扩散等问题。因此，需要根据不同的三五族材料和刻蚀气体选择合适的刻蚀温度，一般在室温到200℃之间。湖南Si材料刻蚀厂商TSV制程是目前半导体制造业中先进的技术之一，已经应用于很多产品生产。
MEMS惯性传感器领域依赖离子束刻蚀实现性能突破，其创新的深宽比控制技术解决高精度陀螺仪制造的痛点。通过建立双离子源协同作用机制，在硅基底加工出深宽比超过25:1的微柱阵列结构。该工艺的重心突破在于发展出智能终端检测系统与自补偿算法，使谐振结构的热漂移系数降至十亿分之一级别，为自动驾驶系统提供超越卫星精度的惯性导航模块。中性束刻蚀技术开启介电材料加工新纪元，其独特的粒子中性化机制彻底解决栅氧化层电荷损伤问题。在3nm逻辑芯片制造中，该技术创造性地保持原子级栅极界面完整性，使电子迁移率提升两倍。主要技术突破在于发展出能量分散控制模块，在纳米鳍片加工中完美维持介电材料的晶体结构，为集成电路微缩提供原子级无损加工工艺路线。
。ICP类型具有较高的刻蚀速率和均匀性，但由于离子束和自由基的比例难以控制，导致刻蚀的方向性和选择性较差，以及扇形效应较大等缺点；三是磁控增强反应离子刻蚀（MERIE），该类型是指在RIE类型的基础上，利用磁场增强等离子体的密度和均匀性，从而提高刻蚀速率和均匀性，同时降低离子束的能量和方向性，从而减少物理损伤和加热效应，以及改善刻蚀的方向性和选择性。MERIE类型具有较高的刻蚀速率、均匀性、方向性和选择性，但由于磁场的存在，导致设备的结构和控制较为复杂，以及磁场对样品表面造成的影响难以预测等缺点。干法刻蚀主要分为电容性等离子体刻蚀和电感性等离子体刻蚀。
深硅刻蚀设备在半导体领域有着重要的应用，主要用于制造先进存储器、逻辑器件、射频器件、功率器件等。其中，先进存储器是指采用三维堆叠或垂直通道等技术实现高密度、高速度、低功耗的存储器，如三维闪存（3DNAND）、三维交叉点存储器（3DXPoint）、磁阻随机存取存储器（MRAM）等。深硅刻蚀设备在这些存储器中主要用于形成垂直通道、孔阵列、选择栅极等结构。逻辑器件是指用于实现逻辑运算功能的器件，如场效应晶体管（FET）、互补金属氧化物半导体（CMOS）等。深硅刻蚀设备在这些器件中主要用于形成栅极、源漏区域、隔离区域等结构。刻蚀是用化学或物理方法有选择地从硅片表面去除不需要的材料的过程，主要对各种薄膜以及体硅进行加工。安徽Si材料刻蚀技术
深硅刻蚀设备的主要工艺类型有两种：Bosch工艺和非Bosch工艺。浙江MEMS材料刻蚀代工
深硅刻蚀设备在先进封装中的主要应用之一是TSV技术，该技术是指在硅片或芯片上形成垂直于表面的通孔，并填充金属或导电材料，从而实现不同层次或不同芯片之间的垂直连接。TSV技术可以提高信号传输速度、降低功耗、增加集成度和功能性。深硅刻蚀设备在TSV技术中主要用于实现高纵横比、高方向性和高选择性的通孔刻蚀，以及后续的通孔揭露和平整等工艺。深硅刻蚀设备在TSV技术中的优势是可以实现高速度、高均匀性和高可靠性的刻蚀，以及独特的终点检测和控制策略。浙江MEMS材料刻蚀代工
