涂敷在透明光学元件表面、用来消除或减弱反射光以达增透目的的光学薄膜。又称增透膜。简单的减反射膜是单层介质膜，其折射率一般介于空气折射率和光学元件折射率之间，使用普遍的介质膜材料为氟化镁。减反射膜的工作原理是基于薄膜干涉原理。入射光在介质膜两表面反射后得两束相干光，选择折射率适当的介质膜材料，可使两束相干光的振幅接近相等，再控制薄膜厚度，使两相干光的光程差满足干涉极小条件，此时反射光能量将完全消除或减弱。反射能量的大小是由光波在介质膜表面的边界条件确定，适当条件下可完全没有反射光或只有很弱的反射光。
真空镀膜技术可用于制造光学镜片。梅州钛金真空镀膜
电介质在集成电路中主要提供器件、栅极和金属互连间的绝缘，选择的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通过热氧化、化学气相沉积和原子层沉积法的方法获得。如果按照压力来区分的话，热氧化一般为常压氧化工艺，快速热氧化等。化学气相沉积法一般有低压化学气相沉积氧化工艺，半大气压气相沉积氧化工艺，增强等离子体化学气相层积等。在热氧化工艺中，主要使用的氧源是气体氧气、水等，而硅源则是单晶硅衬底或多晶硅、非晶硅等。氧气会消耗硅（Si），多晶硅（Poly）产生氧化，通常二氧化硅的厚度会消耗0.54倍的硅，而消耗的多晶硅则相对少些。这个特性决定了热氧化工艺只能应用在侧墙工艺形成之前的氧化硅薄膜中。汕尾真空镀膜厂家真空蒸发镀膜是在真空室中，加热蒸发容器待形成薄膜的原材料，使原子或者分子从表面气化逸出，形成蒸汽流。
对于典型的半导体应用，基板被放置在两个平行电极之间的沉积室中一个接地电极，通常是一个射频通电电极.前体气体如硅烷(SiH4)和氨(NH3)通常与惰性气体如氩气(Ar)或氮气(N2)混合以控制过程。这些气体通过基板上方的喷头固定装置引入腔室，有助于将气体更均匀地分布到基板上。等离子体由电极之间的放电(100–300eV)点燃，在基板周围发生启辉，有助于产生驱动化学反应的热能。前体气体分子与高能电子碰撞，然后通过气流传播到基板，在那里它们发生反应并被吸收在基板表面上以生长薄膜。然后将化学副产品抽走，完成沉积过程。
首先，通过一个电子枪生成一个高能电子束。电子枪一般包括一个发射电子的热阴极（通常是加热的钨丝）和一个加速电子的阳极。电子枪的工作是通过电场和磁场将电子束引导并加速到目标材料。电子束撞击目标材料，将其能量转化为热能，使目标材料加热到蒸发温度。蒸发的材料原子或分子在真空中飞行到基板表面，并在那里冷凝，形成薄膜。因为这个过程在真空中进行，所以蒸发的原子或分子在飞行过程中基本不会与其他气体分子相互作用，这有助于形成高质量的薄膜。与其他低成本的PVD工艺相比，电子束蒸发还具有非常高的材料利用效率。电子束系统加热目标源材料，而不是整个坩埚，从而降低了坩埚的污染程度。通过将能量集中在目标而不是整个真空室上，它有助于减少对基板造成热损坏的可能性。可以使用多坩埚电子束蒸发器在不破坏真空的情况下应用来自不同目标材料的几层不同涂层，使其很容易适应各种剥离掩模技术。薄膜中存在的各种缺陷是产生本征应力的主要原因，这些缺陷一般都是非平衡缺陷，但需要外界给予活化能。
高频淀积的薄膜，其均匀性明显好于低频，这时因为当射频电源频率较低时，靠近极板边缘的电场较弱，其淀积速度会低于极板中心区域，而频率高时则边缘和中心区域的差别会变小。4.射频功率，射频的功率越大离子的轰击能量就越大，有利于淀积膜质量的改善。因为功率的增加会增强气体中自由基的浓度，使淀积速率随功率直线上升，当功率增加到一定程度，反应气体完全电离，自由基达到饱和，淀积速率则趋于稳定。5.气压，形成等离子体时，气体压力过大，单位内的反应气体增加，因此速率增大，但同时气压过高，平均自由程减少，不利于淀积膜对台阶的覆盖。气压太低会影响薄膜的淀积机理，导致薄膜的致密度下降，容易形成针状态缺陷；气压过高时，等离子体的聚合反应明显增强，导致生长网络规则度下降，缺陷也会增加；6.衬底温度，衬底温度对薄膜质量的影响主要在于局域态密度、电子迁移率以及膜的光学性能，衬底温度的提高有利于薄膜表面悬挂键的补偿，使薄膜的缺陷密度下降。衬底温度对淀积速率的影响小，但对薄膜的质量影响很大。温度越高，淀积膜的致密性越大，高温增强了表面反应，改善了膜的成分薄膜应力的起源是薄膜生长过程中的某种结构不完整性(杂质、空位、晶粒边界、错位等)、表面能态的存在等。汕头新型真空镀膜
沉积工艺也可分为化学气相沉积和物理的气相沉积。CVD的优点是速率快，PVD的优点是纯度高。梅州钛金真空镀膜
对于PECVD如果成膜质量差，则主要由一下几项因素造成：1.样片表面清洁度差，检查样品表面是否清洁。2.工艺腔体清洁度差，清洗工艺腔体。3.样品温度异常，检查温控系统是否正常，校准测温热电偶。4.膜淀积过程中压力异常，检查腔体真空系统漏率。5.射频功率设置不合理，检查射频电源，调整设置功率。影响PECVD工艺质量的因素主要有以下几个方面：1.起辉电压：间距的选择应使起辉电压尽量低，以降低等离子电位，减少对衬底的损伤。2.极板间距和腔体气压：极板间距较大时，对衬底的损伤较小，但间距不宜过大，否则会加重电场的边缘效应，影响淀积的均匀性。反应腔体的尺寸可以增加生产率，但是也会对厚度的均匀性产生影响。3.射频电源的工作频率，射频PECVD通常采用50kHz~13.56MHz频段射频电源，频率高，等离子体中离子的轰击作用强，淀积的薄膜更加致密，但对衬底的损伤也比较大。梅州钛金真空镀膜
