光刻胶旋涂是特别是厚胶的旋涂和方形衬底匀胶时，会在衬底的边缘形成胶厚的光刻胶边即是所谓的边胶，即光刻胶的边缘突起，在使用接触式光刻的情况下会导致光刻胶曝光的图案分辨率低、尺寸误差大或显影后图案的侧壁不陡直等。如果无法通过自动化设备完成去边角工艺（EBR）的话，以通过以下措施帮助减少/消除边胶:尽可能使用圆形基底；使用高加速度，高转速；在前烘前等待一段时间；调整良好旋涂腔室保证衬底与衬底托盘之间紧密接触；非圆形衬底:如有可能的话，可将衬底边缘有边珠的位置一起裁切掉，或用洁净间的刷子将边胶刷洗掉。对于透明基片的双面光刻加工，其准标记可灵活设计。天津激光器光刻
从对准信号上分，主要包括标记的显微图像对准、基于光强信息的对准和基于相位信息对准。对准法则是光刻只是把掩膜版上的Y轴与晶园上的平边成90º，如图所示。接下来的掩膜版都用对准标记与上一层带有图形的掩膜对准。对准标记是一个特殊的图形，分布在每个芯片图形的边缘。经过光刻工艺对准标记就永远留在芯片表面，同时作为下一次对准使用。对准方法包括：a、预对准，通过硅片上的notch或者flat进行激光自动对准b、通过对准标志，位于切割槽上。另外层间对准，即套刻精度,保证图形与硅片上已经存在的图形之间的对准。重庆材料刻蚀服务价格光掩膜版的制作则是通过无掩膜光刻技术得到。
在半导体制造领域，光刻技术无疑是实现高精度图形转移的重要工艺。掩模是光刻过程中的关键因素。掩模上的电路图案将直接决定硅片上形成的图形。因此，掩模的设计和制造精度对光刻图形的精度有着重要影响。在掩模设计方面，需要考虑到图案的复杂度、线条的宽度和间距等因素。这些因素将直接影响光刻后图形的精度和一致性。同时，掩模的制造过程也需要严格控制，以确保其精度和稳定性。任何微小的损伤、污染或偏差都可能对光刻图形的形成产生严重影响。
湿法蚀刻工艺的原理是使用化学溶液将被刻蚀固体材料转化为液体化合物。选择性非常高，是因为所使用的腐蚀液可以非常精确地腐蚀特定薄膜。对于大多数刻蚀方案，选择性大于100:1。湿法腐蚀必须满足以下要求：1.不得腐蚀掩模层；2.选择性必须高；3.蚀刻过程必须能够通过用水稀释来停止；4.反应产物是气态的少；5.整个过程中的蚀刻速率始终保持恒定；6.反应产物一般是可溶，以避免颗粒；7.环境安全和废液易于处置。光刻胶的粘度是一个非常重要的参数，它对指导光刻胶的涂胶至为重要。黏度（viscosity）用于衡量光刻胶液体的可流动性。光刻胶的固化过程需要精确控制温度和时间。
光刻后的处理工艺是影响图案分辨率的重要因素。通过精细的后处理工艺，可以进一步提高光刻图案的质量和分辨率。首先，需要进行显影处理。显影是将光刻胶上未曝光的部分去除的过程。通过优化显影条件，如显影液的温度、浓度和显影时间等，可以进一步提高图案的清晰度和分辨率。其次，需要进行刻蚀处理。刻蚀是将硅片上未受光刻胶保护的部分去除的过程。通过优化刻蚀条件，如刻蚀液的种类、浓度和刻蚀时间等，可以进一步提高图案的精度和一致性。然后，还需要进行清洗和干燥处理。清洗可以去除硅片上残留的光刻胶和刻蚀液等杂质，而干燥则可以防止硅片在后续工艺中受潮或污染。通过精细的清洗和干燥处理，可以进一步提高光刻图案的质量和稳定性。光刻过程中需避免光线的衍射和散射。珠海低线宽光刻
EUV光刻解决了更小特征尺寸的需求。天津激光器光刻
剥离工艺（lift-off）是指在有光刻胶图形的掩膜上镀膜后，再去除光刻胶获得图案化的金属的工艺。在剥离工艺中，有几种关键因素影响得到的金属形貌。1.光刻胶的厚度。光刻胶厚度需大于金属厚度，一般光刻胶厚度在金属厚度的三倍以上胶面上的金属更易成功剥离。2.光刻胶种类。紫外光刻中，正胶光刻胶一般为“正梯形”，负胶光刻胶侧壁形貌一般为“倒梯性”。“倒梯形”的光刻胶更容易剥离，故在剥离工艺中常使用负胶。3.镀膜工艺。蒸发镀膜相比溅射镀膜在光刻胶侧壁更少镀上金属，因此蒸发镀膜更易剥离。天津激光器光刻
