光刻系统基本参数
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光刻系统企业商机

光致抗蚀剂,简称光刻胶或抗蚀剂,指光照后能改变抗蚀能力的高分子化合物。光蚀剂分为两大类。①正性光致抗蚀剂:受光照部分发生降解反应而能为显影液所溶解。留下的非曝光部分的图形与掩模版一致。正性抗蚀剂具有分辨率高、对驻波效应不敏感、曝光容限大、***密度低和无毒性等优点,适合于高集成度器件的生产。②负性光致抗蚀剂:受光照部分产生交链反应而成为不溶物,非曝光部分被显影液溶解,获得的图形与掩模版图形互补。负性抗蚀剂的附着力强、灵敏度高、显影条件要求不严,适于低集成度的器件的生产。但是同时引入了衍射效应,降低了分辨率。1970后适用,但是其最大分辨率为2~4μm。高新区省电光刻系统量大从优

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③缩短图像传递链,减少工艺上造成的缺陷和误差,可获得很高的成品率。④采用精密自动调焦技术,避免高温工艺引起的晶片变形对成像质量的影响。⑤采用原版自动选择机构(版库),不但有利于成品率的提高,而且成为能灵活生产多电路组合的常规曝光系统。浸入式光刻技术原理这种系统属于精密复杂的光、机、电综合系统。它在光学系统上分为两类。一类是全折射式成像系统,多采用1/5~1/10的缩小倍率,技术较成熟;一类是1:1倍的折射-反射系统,光路简单,对使用条件要求较低。淮安常见光刻系统量大从优关键尺寸控片(Critical Dimension MC):用于光刻区关键尺寸稳定性的监控;

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极紫外光刻(Extreme Ultra-violet),常称作EUV光刻,它以波长为10-14纳米的极紫外光作为光源的光刻技术。具体为采用波长为13.4nm 的紫外线。极紫外线就是指需要通过通电激发紫外线管的K极然后放射出紫外线。极紫外光刻(英语:Extreme ultra-violet,也称EUV或EUVL)是一种使用极紫外(EUV)波长的下一代光刻技术,其波长为13.5纳米,预计将于2020年得到广泛应用。几乎所有的光学材料对13.5nm波长的极紫外光都有很强的吸收,因此,EUV光刻机的光学系统只有使用反光镜 [1]。极紫外光刻的实际应用比原先估计的将近晚了10多年。 [2]

制造掩模版,比较灵活。但由于其曝光效率低,主要用于实验室小样品纳米制造。而电子束曝光要适应大批量生产,如何进一步提高曝光速度是个难题。为了解决电子束光刻的效率问题,通常将其与其他光刻技术配合使用。例如为解决曝光效率问题,通常采用电子束光刻与光学光刻进行匹配与混合光刻的办法,即大部分曝光工艺仍然采用现有十分成熟的半导体光学光刻工艺制备,只有纳米尺度的图形或者工艺层由电子束光刻实现。在传统光学光刻技术逼近工艺极限的情况下,电子束光刻技术将有可能出现在与目前193i为**的光学曝光技术及EUV技术相匹配的混合光刻中,在实现10nm级光刻中起重要的作用。国内上海微电子装备股份有限公司研制的紫外光刻机占据中端市场 [7]。

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光刻胶(Photoresist)又称光致抗蚀剂,是指通过紫外光、电子束、离子束、X射线等的照射或辐射,其溶解度发生变化的耐蚀剂刻薄膜材料。由感光树脂、增感剂和溶剂3种主要成分组成的对光敏感的混合液体。在光刻工艺过程中,用作抗腐蚀涂层材料。半导体材料在表面加工时,若采用适当的有选择性的光刻胶,可在表面上得到所需的图像。光刻胶按其形成的图像分类有正性、负性两大类。在光刻胶工艺过程中,涂层曝光、显影后,曝光部分被溶解,未曝光部分留下来,该涂层材料为正性光刻胶。如果曝光部分被保留下来,而未曝光被溶解,该涂层材料为负性光刻胶。按曝光光源和辐射源的不同,又分为紫外光刻胶(包括紫外正、负性光刻胶)、深紫外光刻胶、X-射线胶、电子束胶、离子束胶等。全球光刻系统主要由ASML、Nikon等企业主导,国内厂商如上海微电子在中端设备领域取得突破 [7]。相城区省电光刻系统多少钱

EUV光刻系统的发展历经应用基础研究至量产四个阶段,其突破得益于多元主体协同创新和全产业链资源整合 [3]。高新区省电光刻系统量大从优

1.气相成底模2.旋转烘胶3.软烘4.对准和曝光5.曝光后烘焙(PEB)6.显影7.坚膜烘焙8.显影检查光刻是平面型晶体管和集成电路生产中的一个主要工艺。是对半导体晶片表面的掩蔽物(如二氧化硅)进行开孔,以便进行杂质的定域扩散的一种加工技术。准分子光刻技术作为当前主流的光刻技术,主要包括:特征尺寸为0.1μm的248 nm KrF准分子激光技术;特征尺寸为90 nm的193 nm ArF准分子激光技术;特征尺寸为65 nm的193 nm ArF浸没式技术(Immersion,193i)。其中193 nm浸没式光刻技术是所有光刻技术中**为长寿且**富有竞争力的,也是如何进一步发挥其潜力的研究热点。传统光刻技术光刻胶与曝光镜头之间的介质是空气,而浸没 式技术则是将空气 换成液体介质。高新区省电光刻系统量大从优

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