光刻系统基本参数
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光刻系统企业商机

2019年荷兰阿斯麦公司推出新一代极紫外光刻系统,**了当今**的第五代光刻系统,可望将摩尔定律物理极限推向新的高度 [5]。中国工程院《Engineering》期刊于2021年组建跨学科评选委员会,通过全球**提名、公众问卷等多阶段评审,选定近五年内完成且具有全球影响力的**工程成就。极紫外光刻系统凭借三大**指标入选:原创性突破:开发新型等离子体光源与反射式光学系统系统创新:整合超精密机械、真空环境控制与实时检测技术产业效益:支撑全球90%以上**芯片制造需求 [1] [3-4] [7]。方法:a、气相成底膜的热板涂底。HMDS蒸气淀积,200~250C,30秒钟;工业园区购买光刻系统规格尺寸

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集成电路制造中利用光学- 化学反应原理和化学、物理刻蚀方法,将电路图形传递到单晶表面或介质层上,形成有效图形窗口或功能图形的工艺技术。随着半导体技术的发展,光刻技术传递图形的尺寸限度缩小了2~3个数量级(从毫米级到亚微米级),已从常规光学技术发展到应用电子束、 X射线、微离子束、激光等新技术;使用波长已从4000埃扩展到 0.1埃数量级范围。光刻技术成为一种精密的微细加工技术。光刻技术是指在光照作用下,借助光致抗蚀剂(又名光刻胶)将掩膜版上的图形转移到基片上的技术。其主要过程为:首先紫外光通过掩膜版照射到附有一层光刻胶薄膜的基片表面,引起曝光区域的光刻胶发生化学反应;再通过显影技术溶解去除曝光区域或未曝光区域的光刻胶(前者称正性光刻胶,后者称负性光刻胶),使掩膜版上的图形被复制到光刻胶薄膜上;***利用刻蚀技术将图形转移到基片上。工业园区购买光刻系统规格尺寸另外层间对准,即套刻精度(Overlay),保证图形与硅片上已经存在的图形之间的对准。

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实际上,由于液体介质的折射率相比空气介质更接近曝光透镜镜片材料的折射率,等效地加大了透镜口径尺寸与数值孔径(NA),同时可以 ***提高焦深(DOF)和曝光工艺的宽容度(EL),浸没式光 刻 技 术 正 是 利 用 这 个 原 理 来 提 高 其 分 辨率。世界三 大光刻机 生产商ASML,Nikon和Cannon的*** 代 浸 没 式 光 刻 机 样 机 都 是 在 原 有193nm干式光刻机的基础上改进研制而成,**降低了研发成本和风险。因为浸没式光刻系统的原理清晰而且配合现有的光刻技术变动不大,193nm ArF准分子激光光刻技术在65nm以下节点半导体量产中已经广泛应用;ArF浸没式光刻 技 术 在45nm节 点 上 是 大 生 产 的 主 流 技 术。

涂底方法:a、气相成底膜的热板涂底。HMDS蒸气淀积,200~250C,30秒钟;优点:涂底均匀、避免颗粒污染;b、旋转涂底。缺点:颗粒污染、涂底不均匀、HMDS用量大。目的:使表面具有疏水性,增强基底表面与光刻胶的黏附性旋转涂胶方法:a、静态涂胶(Static)。硅片静止时,滴胶、加速旋转、甩胶、挥发溶剂(原光刻胶的溶剂约占65~85%,旋涂后约占10~20%);b、动态(Dynamic)。低速旋转(500rpm_rotation per minute)、滴胶、加速旋转(3000rpm)、甩胶、挥发溶剂。优点:涂底均匀、避免颗粒污染;b、旋转涂底。缺点:颗粒污染、涂底不均匀、HMDS用量大。

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光刻技术是现代集成电路设计上一个比较大的瓶颈。现cpu使用的45nm、32nm工艺都是由193nm液浸式光刻系统来实现的,但是因受到波长的影响还在这个技术上有所突破是十分困难的,但是如采用EUV光刻技术就会很好的解决此问题,很可能会使该领域带来一次飞跃。但是涉及到生产成本问题,由于193纳米光刻是当前能力**强且**成熟的技术,能够满足精确度和成本要求,所以其工艺的延伸性非常强,很难被取代。因而在2011年国际固态电路会议(ISSCC2011)上也提到,在光刻技术方面,22/20nm节点主要几家芯片厂商也将继续使用基于193nm液浸式光刻系统的双重成像(doublepatterning)技术。 [2]光刻是平面型晶体管和集成电路生产中的一个主要工艺。相城区供应光刻系统规格尺寸

光刻系统按光源类型分为紫外(UV)、深紫外(DUV)、极紫外(EUV)、电子束及无掩模激光直写等类别。工业园区购买光刻系统规格尺寸

EUV光刻采用波长为10-14纳米的极紫外光作为光源,可使曝光波长一下子降到13.5nm,它能够把光刻技术扩展到32nm以下的特征尺寸。根据瑞利公式(分辨率=k1·λ/NA),这么短的波长可以提供极高的光刻分辨率。换个角度讲,使用193i与EUV光刻机曝同一个图形,EUV的工艺的k1因子要比193i大。k1越大对应的光刻工艺就越容易;k1的极限是0.25,小于0.25的光刻工艺是不可能的。从32nm半周期节点开始(对应20nm逻辑节点),即使使用1.35NA的193nm浸没式光刻机,k1因子也小于0.25。一次曝光无法分辨32nm半周期的图形,必须使用双重光刻技术。使用0.32NA的EUV光刻,即使是11nm半周期的图形,k1仍然可以大于0.25。工业园区购买光刻系统规格尺寸

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