FAI微光显微镜提供的另一项技术-Moire Thermal Analysis(温度波纹分析),比其它技术具有较低的热分辨率,是用于背面热像分析的技术(而FMI和Liquid crystal不能达到)...
Flex TC热敏探头的柱塞包含一个热传感器(PT100),可进行每秒30次的温度测量,并将传感器测量的温度数据实时传输到FlexTC系统,而FlexTC系统又产生每秒30次的加热或者制冷调节,以保证...
EMMI可搭配激光诱导 OBIRCH(光束诱导电阻变化) 光诱导电阻变化(OBIRCH)模式能快速准确的进行IC中元件的短路、布线和通孔互联中的空洞、金属中的硅沉积等缺点。其工作原理是利用激光束在恒定...
半导体器件和电路制造技术飞速发展,器件特征尺寸不断下降,而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺点定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析(FA)而言,微光显微镜(Emission M...
ASAP-1选择性区域精密抛磨机由苏州兰博斯特电子科技有限公司代理销售并提供技术服务 每一个实验室都需要一个精确的,重复性好的开封 , 背面/正面研磨的机器。这对Flip-chip; power ...
案例分析: 背景: 器件检测后发现在VDD和ADIO引脚之间大约有2K的泄漏。 分析总结:在核实FAI参数界面的泄漏报告后,此器件通过使用几项分析技术确定原因和缺点状况。下面描述了三种测试技术。 In...
FlexTC / MaxTC探头通过柱头将温度传递到待测样品。当探头接触待测样品时,柱头与被测样品进行直接接触,热量可以更快更准确的从柱头传递到被测样品。 柱头包含一个温度传感器(Pt100),每秒测...
该温控仪采用半导体制冷,制冷速度快,温度精确,可以任意设置温度阶梯保持的时间。制冷制热转换快,能更有效的达到对测试温度变化的需求。 温度范围: -55°C to +155°C 结构精密-桌上型设计 ...
对于元件的失效分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。它主要用于侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron H...
该温控仪采用半导体制冷,制冷速度快,温度精确,可以任意设置温度阶梯保持的时间。制冷制热转换快,能更有效的达到对测试温度变化的需求。 温度范围: -55°C to +155°C 结构精密-桌上型设计 ...
对于元件的失效分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。它主要用于侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron H...
半导体器件和电路制造技术飞速发展,器件特征尺寸不断下降,而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺点定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析(FA)而言,微光显微镜(Emission M...