对于元件的失效分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。它主要用于侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron H...
FlexTC / MaxTC探头通过柱头将温度传递到待测样品。当探头接触待测样品时,柱头与被测样品进行直接接触,热量可以更快更准确的从柱头传递到被测样品。 柱头包含一个温度传感器(Pt100),每秒测...
FlexTC / MaxTC探头通过柱头将温度传递到待测样品。当探头接触待测样品时,柱头与被测样品进行直接接触,热量可以更快更准确的从柱头传递到被测样品。 柱头包含一个温度传感器(Pt100),每秒测...
我们专有的整套的Crystal Vision软件,它的设计基于容易使用操作,强大的功能同时可以控制所有的硬件和变量分析。客户在初购买时可以选择其中几个模块,当以后的工作需要时可以在其基础上继续增加应用...
“半导体温控仪”是专门为驱动半导体制冷片而设计的高性能温度控制系统,其特点是高精度和高稳定度。输出负载为半导体制冷片。半导体制冷是利用帕尔帖效应原理工作的,具有高精度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、...
FlexTC / MaxTC是自给自足的,运行不需要压缩空气或冷水机组,无需任何流体,也不产生任何流体。 FlexTC / MaxTC有完备的**系统,彻底消除了传统温控设备对冷水机组的需求。基于冷水...
Flex TC热敏探头的柱塞包含一个热传感器(PT100),可进行每秒30次的温度测量,并将传感器测量的温度数据实时传输到FlexTC系统,而FlexTC系统又产生每秒30次的加热或者制冷调节,以保证...
针对元件的漏电失效模式,EMMI(微光显微镜)是必不可少的分析工具。器件在设计、生产制造过程中有绝缘缺点,或者经过外界静击穿穿,均会造成器件漏电失效。漏电失效模式的器件在通电状态下,内部形成流动电流,...
S4000是一个多功能、全自动、可编程测试系统,可用于各类电池的研究开发和质量控制,它是专门为 满足每一位用户的需要而生 产的,测试设备通过微电脑控制,并带有内存储器,测试程序可完全下载到 测试设备...
保证壳体温度 一项**重要的有别于其他热设备制造商的内容,是我们向客户承诺实际的壳体温度,我们的设备在运行时,探头本身自带温度反馈,保证测试被测样品的表面设定温度控制在±0.2°C的精度,同时我们的设...
案例分析: 背景: 器件检测后发现在VDD和ADIO引脚之间大约有2K的泄漏。 分析总结:在核实FAI参数界面的泄漏报告后,此器件通过使用几项分析技术确定原因和缺点状况。下面描述了三种测试技术。 In...
我们专有的整套的Crystal Vision软件,它的设计基于容易使用操作,强大的功能同时可以控制所有的硬件和变量分析。客户在初购买时可以选择其中几个模块,当以后的工作需要时可以在其基础上继续增加应用...