光学特性在大多数情况下，半导体的光学跃迁发生在带边，即光学跃迁通常发生在价带顶和导带底附近。因此半导体能带结构常用简化能带模型来表示，这种能带结构叫作直接带结构。Ⅲ-VI族化合物中的GaN、GaAs、GaSb和InP等都是直接带结构半导体，在这类半导体中发生的光学跃迁为直接跃迁；另外，半导体价带顶的能量位置与导带底的位置不同，如价带顶处于... 【查看详情】

原子层刻蚀（Atomic Layer Etching, ALE）作为一种新兴的先进刻蚀技术，能够将刻蚀精确控制到原子层级（约0.4nm），在先进制程中应用前景广阔 [17] [25]。刻蚀机与光刻机在半导体制造流程**能不同、精度要求差异***，二者是互补关系而非替代关系 [5-6]。光刻机用于将电路图案投影到光刻胶上，而刻蚀机则根据该图... 【查看详情】

20世纪初期，尽管人们对半导体认识比较少，但是对半导体材料的应用研究比较活跃。20世纪50年代，为了改善晶体管特性，提高其稳定性，半导体材料的制备技术迅速发展。从20世纪80年代开始，量子线材料及其半导体量子器件的研究成为材料科学研究领域的热点，在国际上掀起了纳米科技的研究高潮。20世纪90年以后，随着通信的飞速发展、第二代半导体材料开始... 【查看详情】

2、整流二极管后缀是数字，表示器件的比较大反向峰值耐压值，单位是伏特。3、晶闸管型号的后缀也是数字，通常标出比较大反向峰值耐压值和比较大反向关断电压中数值较小的那个电压值。如：BDX51-表示NPN硅低频大功率三极管，AF239S-表示PNP锗高频小功率三极管。把晶体二极管、三极管以及电阻电容都制作在同一块硅芯片上，称为集成电路。一块硅芯... 【查看详情】

早在1995年在芝加哥举行信息技术国际研讨会上，美国科学家和工程师杰克·基尔比表示，5纳米处理器的出现或将终结摩尔法则。中国科学家和未来学家周海中在此次研讨会上预言，由于纳米技术的快速发展，30年后摩尔法则很可能就会失效。2012年，日裔美籍理论物理学家加来道雄在接受智囊网站采访时称，“在10年左右的时间内，我们将看到摩尔法则崩溃。”前不... 【查看详情】

***部分：用字母表示器件使用的材料。A-器件使用材料的禁带宽度Eg=0.6～1.0eV 如锗、B-器件使用材料的Eg=1.0～1.3eV 如硅、C-器件使用材料的Eg>1.3eV 如砷化镓、D-器件使用材料的Eg<0.6eV 如锑化铟、E-器件使用复合材料及光电池使用的材料第二部分：用字母表示器件的类型及主要特征。A-检波开关混频二极管... 【查看详情】

概伦电子推出的国产**半导体参数测试系统FS-Pro的测试指标能够对标是德科技、泰克等国际厂商，并得到了多家国际半导体厂商的认可，应用于先进工艺平台开发 [6]。加速科技在数模混合信号测试设备领域实现关键指标突破，相继突破250Mbps、1.2Gbps、2.7Gbps等高速测试技术节点，其测试设备已应用于消费电子、工业控制、汽车电子、人工... 【查看详情】

光电池当光线投射到一个PN结上时，由光激发的电子空穴对受到PN结附近的内在电场的作用而向相反方向分离，因此在PN结两端产生一个电动势，这就成为一个光电池。把日光转换成电能的日光电池很受人们重视。较早应用的日光电池都是用硅单晶制造的，成本太高，不能大量推广使用。国际上都在寻找成本低的日光电池，用的材料有多晶硅和无定形硅等。其它利用半导体的其... 【查看详情】

霍尔效应霍尔效应是电磁效应的一种。半导体薄片置于磁感应强度为B的磁场中，磁场方向垂直于薄片，当有电流流过薄片时，在垂直于电流和磁场的方向上将产生电动势，这种现象称为霍尔效应，该电动势称为霍尔电势。 [36]磁阻特性磁阻特性指的是其阻值R随磁感应强度B变化的特性。磁阻温度系数是指温度每变化1℃，磁敏电阻的相对变化量。磁阻元件一般都是用半导体... 【查看详情】

两个结之间的一薄层半导体材料称为基区。接在发射结一端和集电结一端的两个电极分别称为发射极和集电极。接在基区上的电极称为基极。在应用时，发射结处于正向偏置，集电极处于反向偏置。通过发射结的电流使大量的少数载流子注入到基区里，这些少数载流子靠扩散迁移到集电结而形成集电极电流，只有极少量的少数载流子在基区内复合而形成基极电流。集电极电流与基极电... 【查看详情】

而且，材料是组件或 IC 的基础，一旦改变，所有相关的设备与后续的流程都要跟着改变，真的是牵一发而动全身，所以半导体产业还在坚持，不到***一刻***不去改变它。这也是为什么 CPU 会越来越烫，消耗的电力越来越多的原因。因为CPU 中，晶体管数量甚多，运作又快速，而每一个晶体管都会「漏电」所造成。这种情形对桌上型计算机可能影响不大，但在... 【查看详情】

根据工作原理不同，刻蚀主要分为干法刻蚀和湿法刻蚀两大类 [14] [25]。湿法刻蚀通过化学试剂与晶圆的接触进行腐蚀；干法刻蚀则通过等离子体或高能离子束对晶圆表面进行轰击，具有刻蚀速率快、各向异性强、适合大规模生产的特点，在半导体制造中占据市场主流（市场份额超过95%） [14] [25] [27]。干法刻蚀（等离子体刻蚀）根据等离子体产... 【查看详情】