新品研发导入周期持续压缩，碎片化的传统管控模式无法适配快速迭代的行业需求。集成APQP项目管控、测试异常闭环处置的一体化平台，能够提升跨部门协同效率。从测试程序发布上机、数据自动采集到故障闭环处理，每...

测试全流程各环节可控，是产出品质稳定芯片产品的基础条件。精细化监控各关键节点，能够实现整套测试流程可视化管控。测试任务启动阶段，平台自动校验并加载匹配的测试脚本、硬件配套参数，杜绝人工操作疏忽带来的参...

良率分析报告是评判半导体产品品质好坏的重要参照，一份具备参考价值的报告，离不开标准化、严谨规范的生成流程。报告生成全程如同标准化精密作业，系统毫秒级自动抓取实时测试数据，从源头保证信息获取及时、内容准...

面对纷繁复杂的测试数据和多变的生产需求，一套实用便捷的测试管理系统可以减轻工程师工作负担，而非增添额外工作压力。平台在设计阶段便围绕实操体验与生产效能进行打磨，配备简洁易懂的操作界面，新员工无需长时间...

评判量产产品可靠性，不能片面参考单次测试良率，更需要深挖长周期数据波动规律，这也是平台搭载Sigma统计学检测模块的研发初衷。系统常态化核算各项电性参数Mean均值、Sigma标准差，量化评估制程中心...

测试流程中出现意外中断或数据异常时，快速响应是控制损失的关键。标准化自动化流程将应急响应从被动救火转变为主动管控。内置监控模块持续扫描测试数据流，一旦发现参数超出预设范围（如某个电压测试点连续失效），...

评判量产产品可靠性，不能片面参考单次测试良率，更需要深挖长周期数据波动规律，这也是平台搭载Sigma统计学检测模块的研发初衷。系统常态化核算各项电性参数Mean均值、Sigma标准差，量化评估制程中心...

伴随汽车电子芯片市场需求持续扩张，各类测试管控平台需要原生适配车规行业全套规范标准。平台内置适配车规生产的专属运行逻辑，从测试执行流程到数据结果归档实现全流程适配管控。系统可对车规专属测试项目、参数标...

一款实用性强的测试管理系统，应当减负增效、贴合工程师实操习惯，而非加重运维工作负担，伟诺TMS研发设计全程围绕实操体验、生产效能两大优化。平台搭载轻量化可视化操作界面，业务逻辑贴合封测产线实操流程，操...

当关键参数均值出现缓慢偏移时，可能预示着设备老化或工艺条件悄然变化。若未能及时发现，这种微小漂移将逐步累积，会导致批次性良率下降甚至批量报废。通过每次测试完成后对关键参数进行批量计算，获得精确平均值，...

实现测试全流程可控可管，是交付高可靠芯片产品的前置条件，依托节点化精细化监控，能够破除测试黑箱，实现全流程透明化管控。测试启动阶段，系统自动核验测试脚本、硬件配置、探针工况，拦截人工疏漏引发的参数配置...

当测试工程师面对堆积如山的原始数据手动筛选异常、计算良率时，不*效率低下，更可能因疲劳遗漏关键信息。通过与测试设备无缝对接，实时抓取并结构化处理海量数据，确保信息完整且即时可用。内置分析引擎自动执行M...