不少封测厂区同时部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余款不同型号测试机，各类设备输出STDF、LOG、JDF、SPD、CSV等差异化文件格式，加大统一归集分析的难度。YMS内置多协议兼容解析模块，自动识别各类测试设备的数据架构与通...

2026/08/20 查看详细

市面上各类测试管理系统功能各有侧重，适配不同企业的经营与生产诉求。如果企业想要打通各部门数据、实现全业务一体化协同，集成式数字化平台会是选择。该平台不只是单独存放测试数据的数据库，而是深度融入半导体企业完整业务生态。系统能够和设计端APQP项目管理流程无缝对接...

2026/08/20 查看详细

以往质量团队每周专项编制良率周报，手动汇总跨部门Excel台账、调校图表格式，耗时冗长且极易出现数据错漏。YMS预制标准化生产报表模板，自动归集日、周、月维度生产数据，整合SYL/SBL质控状态、区位缺陷对标、良率时序趋势等主要指标，一键导出PPT、Excel...

2026/08/19 查看详细

中大型半导体厂区划分产线运维、质量管控、工艺研发、经营管理多层级组织，各岗位数据权限、研判粒度诉求差异极大。YMS集中沉淀全量测试数据，依托角色权限拆分差异化可视化视图：产线人员查看实时良率热力图，质量人员调取缺陷对标台账，高层管理者查看月度质控趋势、SYL管...

2026/08/19 查看详细

芯片设计企业实验室普遍面临试样小批量、工艺方案频繁调整的生产难题，依靠手写记录、零散Excel表格的传统管理方式，很容易出现物料清单版本混淆、测试条件记录缺失、样品编号分不清等状况，直接降低实验数据可复现能力，延缓工艺量产转化进度。针对该场景落地的MES系统不...

2026/08/18 查看详细

多客户、多工艺同步并行是半导体封测车间的常态，市面上通用标准化MES采用统一固化的设计逻辑，很难贴合工厂差异化生产诉求，落地推进阻力极大。适配封测行业的MES平台，整体底层架构保持统一标准，同时搭载精细化自定义配置能力。针对车规订单，系统可自动启用更严苛的时效...

2026/08/18 查看详细

中大型半导体厂区划分产线运维、质量管控、工艺研发、经营管理多层级组织，各岗位数据权限、研判粒度诉求差异极大。YMS集中沉淀全量测试数据，依托角色权限拆分差异化可视化视图：产线人员查看实时良率热力图，质量人员调取缺陷对标台账，高层管理者查看月度质控趋势、SYL管...

2026/08/17 查看详细

Mapping Over Ink处理流程构建了从数据输入到结果输出的完整闭环：系统自动获取TSK、P8、EG、OPUS等Probe生成的原始Mapping，完全覆盖晶圆测试信息；通过对数据进行标准化解析，与电性测试结果实现高精度对齐；在此基础上，依据AECQ标...

2026/08/17 查看详细

针对工厂规模化量产的复杂管控场景，单一维度数据统计与人工制表分析模式，已无法满足全厂全局质量管控与良率优化需求。上海伟诺信息科技YMS良率管理系统可兼容Juno、AMIDA、CTA8280、T861等主流测试设备，自动采集STDF、XLS、LOG等多格式原始测...

2026/08/16 查看详细

良率的突发性波动若无法及时识别、快速干预，极易引发批量报废、返工重测问题，给企业造成高额产能与经济损失。YMS良率管理系统依托全自动化数据处理流程，实时采集、清洗、规整各类测试平台的异构数据，构建高精度、高可信度的数据分析底座。系统具备从宏观批次趋势到微观单芯...

2026/08/16 查看详细

半导体设计企业对良率分析精度要求严苛，既要保障单芯片级的微观分析精度，也要满足多项目、多产品线的横向对比管控需求。上海伟诺YMS良率管理系统可适配Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等主流测试平台，对各类异构测试数据完成统一解析、规...

2026/08/15 查看详细

在封测工厂的日常运营中，良率波动往往源于测试数据分散、格式不一或异常信息未被及时识别。YMS系统自动对接ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台，高效采集stdf、csv、log、txt等多种格式的原始测试数据，并完成重复性检测、缺失值...

2026/08/15 查看详细