面对国产替代需求，选择具备技术自主性和行业适配能力的良率管理系统厂商至关重要。上海伟诺信息科技有限公司的YMS系统兼容主流Tester平台，覆盖十余种测试数据格式，实现从采集、解析到异常过滤的全流程自动化。其分析引擎支持时间序列追踪、晶圆区域对比及WAT/CP...

2026/08/11 查看详细

半导体测试是半导体制造过程中质量的一道关键防线，扮演着日益关键角色，单纯依赖传统电性测试的“通过/失败”界限，已无法满足对产品“零缺陷”的追求。为了大力提升测试覆盖度，构筑更为坚固的质量防线，采用GDBN技术来识别并剔除那些位于“不良环境”中的高风险芯片，...

2026/08/11 查看详细

多设备并行生产催生海量异构数据，传统人工整合模式效率低下，极易叠加主观研判误差。YMS依托自动化解析引擎，统一规整ETS364、STS8200、TR6850输出的spd、jdf、zip差异化数据，构建统一数据底座。联动全工序测试参数深挖隐性制程关联，辅助工艺人...

2026/08/09 查看详细

晶圆边缘区域良率长期偏低却难以定位故障诱因，是工艺工程师普遍面临的工作难题。YMS系统完成STDF、LOG等原始测试数据清洗工作后，依托晶圆空间坐标对全部缺陷点位分类汇总，生成渐变色可视化热力图，清晰区分晶圆中心、过渡区域、边缘地带的缺陷密集程度。工作人员可以...

2026/08/09 查看详细

半导体制造领域，良率数据时效性、准确度直接决定工艺优化效率，左右量产产能收益。YMS实时归集多平台测试数据，落实端到端数据治理，消除格式混乱、数据缺失带来的分析盲区。依托中心化数据库，双向支撑宏观产线趋势复盘、微观晶圆缺陷定位，快速锁定异常工序。动态测算SYL...

2026/08/08 查看详细

大型封测厂区普遍搭载ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种不同品牌、型号的测试设备，各类设备输出的STDF、CSV、LOG、JDF、SPD、TXT等原始数据格式杂乱、结构各异，人工整合难度大、误差高。上海伟诺YMS系统搭载自研多协议...

2026/08/08 查看详细

集团化运营、多厂区同步投产的半导体企业，统一标准化质量要求落地时常出现执行偏差，同型号产品不同厂区产出品质存在差异，损害企业统一品牌形象，降低客户合作信任度。MES系统搭载集中化规则配置功能，统一设定SPC统计管控、工序时效管理、成品检验标准、审批流转流程等标...

2026/08/07 查看详细

半导体制造行业向精细化、智能化转型，生产环节各类异常若不能在早期识别干预，极易引发连锁反应，轻则产品良率持续波动，重则整批芯片直接报废，甚至损害长期稳定的客户合作关系。一套成熟落地的MES数字化管理系统，依靠工序时效管控、SPC统计过程控制两大功能，在工艺节点...

2026/08/07 查看详细

针对工厂规模化量产的复杂管控场景，单一维度数据统计与人工制表分析模式，已无法满足全厂全局质量管控与良率优化需求。上海伟诺信息科技YMS良率管理系统可兼容Juno、AMIDA、CTA8280、T861等主流测试设备，自动采集STDF、XLS、LOG等多格式原始测...

2026/08/06 查看详细

为满足客户对交付周期日益严苛的要求，半导体封测厂亟需打破计划部门与生产车间之间的信息壁垒，实现从接单到出货的高效协同。MES系统通过订单管理模块精确解析客户交期、工艺路线、特殊质量要求及包装规范，并结合设备实时负载状态、物料齐套情况与Q-Time约束，动态生成...

2026/08/06 查看详细

测试数据实时监控是保障产品品质的环节，这套机制能否发挥作用，取决于能否在问题萌芽阶段快速响应。平台搭建全天候自动化监控体系，依靠稳定的数据接口实时同步各类测试设备产生的海量原始数据，保证信息完整、传输及时。监控体系的优势在于智能分析能力，持续追踪各项参数动态变...

2026/08/05 查看详细

在半导体行业工艺迭代日趋复杂的大环境下，良率管理系统YMS已经成为各家企业打造竞争实力的重要载体。该系统能够全天候抓取、监测工厂海量生产数据，深入挖掘各道制造工序的运行状态，快速定位各类拉低良率的缺陷与制程瓶颈并给出解决方向。这套数字化管控方案除了稳定提升芯片...

2026/08/05 查看详细