YMS（良率管理系统）的本质是将海量测试数据转化为精确的质量决策依据。系统兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester设备，自动解析stdf、csv、log、jdf等多种格式数据，完成端到端的数据治理。在此基础上，通过标准化数据库实...

2026/01/21 查看详细

在已有MES或TMS系统的企业中，测试数据常因接口不兼容而需人工导出再导入，易造成延迟与错漏。YMS采用标准化数据接口与开放架构，支持与半导体封测工厂MES、TMS测试管理系统无缝对接，实现测试结果的自动同步。例如，CP测试完成后，良率与缺陷数据可实时推送至M...

2026/01/21 查看详细

在高频次、小批量的测试与封装作业中，信息断层是导致错料、混批、交付延迟乃至客户投诉的根源。传统依赖人工记录或Excel表格的方式，难以保证数据实时性与一致性。MES系统通过打通从订单接收、BOM解析、自动派单到工艺执行的全链路数据流，实现制造全过程透明化。投料...

2026/01/20 查看详细

选择MES供应商，本质是选择能否真正理解半导体制造语言的合作伙伴。好的系统不仅功能完善，更需具备应对高频工艺变更、多厂区协同及严格合规要求的扩展能力。从设备管理到品质监控，从统计报告到包装规范，每一模块都应服务于“提升效率”与“保障质量”两大目标。尤其在国产替...

2026/01/20 查看详细

半导体设计公司在向客户提供工程样品时，往往需同步交付详尽的制程履历、测试原始数据及操作记录，以支撑客户对器件可靠性的评估。然而，依赖人工整理Excel表格或纸质记录的方式不仅效率低下，更易因版本错乱、字段遗漏导致技术信任危机。伟诺科技MES系统在样品生产全过程...

2026/01/20 查看详细

在车规级半导体的质量审计中，清晰地展示每个失效点与测试项的对应关系是通过认证的硬性要求。上海伟诺TMS系统的车规MappingInk处理功能，正是为解决这一关键需求而设计。系统能够精确捕获晶圆测试中的失效坐标，并将其与具体的测试参数、程序版本和设备信息进行结构...

2026/01/20 查看详细

过去，国内半导体企业常因缺乏本地化良率分析工具，被迫采购昂贵的国外软件，且难以适配国产Tester设备。YMS系统自动采集ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种主流测试平台产生的stdf、log、jdf、csv等格式数据，完成清洗、...

2026/01/19 查看详细

国产芯片进入量产阶段后，对数据一致性、分析时效性和报告规范性提出更高要求。YMS自动汇聚来自SineTest、Juno、CTS8280等平台的测试结果，剔除重复与异常记录，形成高质量数据资产池。系统可实时识别某批次FT良率偏离趋势，并回溯其CP漏电参数与WAT...

2026/01/19 查看详细

面对国产半导体制造对自主可控软件的迫切需求，良率管理系统成为打通数据孤岛、实现质量闭环的关键工具。系统自动采集ETS88、93k、J750、Chroma等主流Tester平台输出的stdf、csv、xls、log、spd、jdf、zip、txt等多种格式测试数...

2026/01/19 查看详细

在封测厂应对多客户、多品类混线生产时，如何确保每张订单严格遵循其专属工艺规范是关键难题。MES系统通过订单驱动的执行逻辑，在派工阶段即加载对应的Q-Time规则、SPC控制点、标签格式及包装要求，实现“一单一策”的精细化管控。设备自动化模块确保只有符合当前工单...

2026/01/19 查看详细

芯片制造过程中，良率波动若不能及时识别，可能导致整批产品报废。YMS系统通过自动采集ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200等Tester平台输出的stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多格式测试数据，完成重复性检...

2026/01/18 查看详细

面对工厂级良率管理的复杂性，单一数据源或手工报表已难以支撑全局质量洞察。YMS系统整合来自Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备的stdf、xls、log等测试数据，通过自动化清洗与异常过滤，构建全厂统一的良率数据视图。管理者可基于该视图，从时间...

2026/01/18 查看详细