芯片制造制程严苛，良率容错率极低，YMS打造从数据采集到故障根因复盘的一站式质控解决方案。系统兼容全品类量产测试设备，归一化处理异构测试数据，保障晶圆至成品芯片全链路数据同源一致。联动比对全制程关键电学参数，准确甄别良率下滑诱因，区分工艺偏差、设计缺陷两类故障...

2026/07/29 查看详细

当封测厂同时部署ETS88、J750、93k、Chroma、STS8200等十余种Tester设备时，每台设备输出的stdf、log、jdf、spd、csv等格式差异常导致数据接入困难。YMS内置多协议解析引擎，可自动识别各类测试平台的数据结构与接口协议，无需...

2026/07/28 查看详细

客户在实际生产中常面临良率保留与风险剔除的两难平衡。Mapping Over Ink处理服务通过自动化采集多品牌Probe的原始Mapping数据，结合AECQ标准下的SPAT、DPAT、GDBN/GDBC、Cluster、UPLY、STACKED等算法组合，...

2026/07/28 查看详细

以往测试数据零散存放于离线Excel、本地私有数据库，数据孤岛问题突出，无法实现跨项目调取、横向对标分析。YMS搭建全域标准化数据库，归集ETS364、SineTest、MS7000、CTA8280等多设备异构数据，按照产品型号、测试工序、生产时段、晶圆区位多...

2026/07/27 查看详细

半导体厂区测试产线运转频次高、多台设备同步运行，依靠人工处理异构测试数据极易延误异常处置进度。YMS系统依托全自动运行流程，实时汇总STS8200、TR6850、ASL1000、MS7000等设备输出的各类原始数据，统一完成解析与清洗工作，消除文件格式差异造成...

2026/07/27 查看详细

国产良率管理系统YMS的业务价值，是整合零散碎片化测试数据，转化为可落地、可复盘的工艺优化方案。该系统可自动对接ASL1000、SineTest、MS7000、CTA8280、T861、Juno、AMIDA等行业主流测试机台，兼容十余类异构原始数据格式，打通晶...

2026/07/26 查看详细

全新测试程序上线存在量产风险，未经核验直接投产极易引发批量失效，平台内置强制性上线审核流程，筑牢脚本准入防线。新版本程序投产前，必须完成基线复测、压力测试、电性对标全流程校验，经由工艺、质量双人审核签章后方可上线。系统横向比对新旧版本测试基线，标记参数偏移、判...

2026/07/26 查看详细

量产封测厂区并行运营逻辑芯片、存储芯片、功率器件多条产线，各产品线测试规范、良率质控标准互不相同。YMS支持业务化柔性配置，为每条制程线搭建单独适配的数据处理规则：自动识别产线配套测试机型，适配Juno功率测试、CTA8280模拟测试差异化数据格式，按需定制专...

2026/07/25 查看详细

良率分析报告是评判半导体产品品质好坏的重要参照，一份具备参考价值的报告，离不开标准化、严谨规范的生成流程。报告生成全程如同标准化精密作业，系统毫秒级自动抓取实时测试数据，从源头保证信息获取及时、内容准确。完成数据采集后平台启动多层级清洗筛选，剔除无效、失真异常...

2026/07/25 查看详细

良率管理系统的价值不*在于技术实现，更在于对半导体企业关键痛点的精确回应。当设计公司或制造工厂面临测试数据分散、格式混乱、分析滞后等问题时，YMS系统通过对接ETS364、SineTest、Juno、AMIDA、CTA8280、T861等设备，自动完成从数据采...

2026/07/24 查看详细

测试链路突发停机、数据错乱极易放大产能损失，搭建标准化应急处置体系，是稳住产线产能的关键。依托平台自动化管控能力，把被动应急救火，升级为常态化主动风控。后台监控模块全天候扫描测试数据流，识别电压超限、电性连续失效等异常工况，即刻触发分级告警，多渠道推送处置工单...

2026/07/24 查看详细

一套成熟完善的测试管理系统，主要是打造智能化、可闭环的测试运营中枢。围绕该目标，平台整合全链路业务模块：底层依托设备接口自动采集原始数据，保障数据源真实完整；中层开展数据清洗、分类归档，迭代核算Mean、Sigma统计指标，产出可视化质控图表，直观反馈制程稳定...

2026/07/23 查看详细