针尖有铝粉:测大电流时，针尖上要引起多AL粉，使电流测不稳，所以需要经常用洒精清洗探针并用氮气吹干，同时测试时边测边吹氮气，以减少针尖上的AL粉。针尖有墨迹:测试时打点器没有调整好，尼龙丝碰到针尖上，针尖上沾上墨迹,然后针尖与压点接触时，压点窗口上墨迹沾污，使片子与AL层接触不良，参数通不过，还有对后续封装压焊有影响，使芯片与封装后成品管... 【查看详情】

探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上，从而可以与测试仪器/半导体测试系统配合来测试芯片/半导体器件。这些测试可以很简单，例如连续性或隔离检查，也可以很复杂，包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件，这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入终端产... 【查看详情】

良好的热传导性可起到作用，然而，在极端特殊的应用中，选用不随温度变化而改变外形尺寸的特殊材料是必要的。例如超不胀钢，具有极小的热膨胀系数。一米长的超不胀钢在温度变化1K时膨胀长度约0.2微米。光学平台采用表面铁磁不锈钢，芯部蜂窝结构支撑的结构。这种结构，不但充分的发挥了铁磁不锈钢材料刚性好，温度膨胀系数小，耐腐蚀的优点，而且提高了平台的硬... 【查看详情】

使用脉冲锤对平台或面包板的表面施加一个已测量的外力，并将一个传感器贴合在平台或面包板表面对合成振动进行测量。探测器发出的信号通过分析仪进行读取，并用于产生频率响应谱（即柔量曲线）。在光学平台的研发过程中，对平台表面上很多点的柔量曲线进行记录；但是，平台四个角上的柔量往往都是大的。因此公司发布的柔量曲线和数据都是通过平传感器在台四个角上测得... 【查看详情】

重物的碰撞及坚锐器物的划伤都将对定子造成损伤，而影响平面电机的步进精度及使用寿命，对于已生锈的定子可以用天然油石轻轻地向一个方向打磨定子的表面，然后用脱脂棉球蘸煤油清洗，整个过程操作要十分地细心，不可使定子表面出现凹凸不平的现象。另外也可用没有腐蚀性，不损坏定子的除锈剂除锈。对于正常情况下的定子则要定期作除尘清理工作，清理时应先通入大气以... 【查看详情】

我们提供的光学平板采用好的铝材制造。与钢材相比，铝材硬重比大，有一-定的抗振性，温度传导性好，不良环境中温度形变小，阳极氧化后美观，耐磨，但是铝材的刚性较差，无法承载较大的重里。因此一般用于承载较小的系统种。而且不宜悬空支撑。光学实验平台系统由实验平台主体、多维调整架、光源、光学组件组成。教师可以根据实验要求，选择合适的组件安排实验，进行... 【查看详情】

全自动探针台相比手动探针台和自动探针台两种添加了晶圆材料处理搬运单元（MHU）和模式识别（自动对准）。负责晶圆的输送与定位，使晶圆上的晶粒依次与探针接触并逐个测试。可以24小时连续工作，通常用于芯片量产或有一些特殊要求如处理薄晶圆、封装基板等。全自动探针台价格也是远比手动/半自动探针台要昂贵。软件为探针台系统增加了很多功能，使用者可以通过... 【查看详情】

热稳定性的关键之处在于各轴方向上都具有对称、各向均匀的钢制结构。钢制部件在热交换过程中的延伸性和收缩性是相似的，可以在温度变化过程中保持良好的平整度。钢制的蜂窝芯结构从顶板延伸到底板，中间并无塑料或铝质泄露管理结构，因此不会降低平台整体的刚度或是引入更高的热膨胀系数。我们采用钢质侧板，而不是木板，这样就消除了由于湿度而引起的环境不稳定因素... 【查看详情】

光学平台隔振系统的构成：光学平台由上下面板、蜂窝内芯和U型清洁舱采用低温恒温粘接而成，温度应变小。钢质蜂窝内芯采用垂向支撑桁架蜂窝结构，U型清洁舱与蜂窝芯六边形内壁相配合内嵌在蜂窝孔中，蜂窝孔六边形板直接粘结到上面板，U型清洁舱用蜂窝夹层板顶着粘接在上面板，增加纵向支撑静刚度，具有高刚度-重量比，可明显提高平台的基频模态固有频率，有效延长... 【查看详情】

其实，在我们的身边随处都可以看到半导体的身影。例如你的电脑、电视，智能手机，亦或是汽车等。半导体像人类大脑一样，担当着记忆数据，计算数值的功能。探针台从操作上来区分有手动，半自动，全自动从功能上来区分有高温探针台，低温探针台，RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台。一、探针的用途。电流或电压信号通过探针的传输来测试... 【查看详情】

光学平台测量方法：使用脉冲锤对平台或面包板的表面施加一个已测量的外力，并将一个传感器贴合在平台或面包板表面对合成振动进行测量。探测器发出的信号通过分析仪进行读取，并用于产生频率响应谱（即柔量曲线）。在光学平台的研发过程中，对平台表面上很多点的柔量曲线进行记录；但是，平台四个角上的柔量往往都是特别大的。因此公司发布的柔量曲线和数据都是通过平... 【查看详情】

通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至探针卡，然后通过探针至芯片上的焊点，到达被测器件，并后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或... 【查看详情】