氧等离子去胶是利用氧气在微波或射频发生器的作用下产生氧等离子体，具有活性的氧等离子体与有机聚合物发生氧化反应，是的有机聚合物被氧化成水汽和二氧化碳等排除腔室，从而达到去除光刻胶的目的，这个过程我们有时候也称之为灰化或者扫胶。氧等离子去胶相比于湿法去胶工艺更为简单、适应性更好。市面上常见氧等离子去胶机按照频率可分为微波等离子去胶机和射频等离子去胶机两种，微波等离子去胶机的工作频率更高，更高的频率决定了等离子体拥有更高的激子浓度、更小的自偏压，更高的激子浓度决定了去胶速度更快，效率更高；更低的自偏压决定了其对衬底的刻蚀效应更小，也意味着去胶过程中对衬底无损伤，而射频等离子去胶机其工作原理与刻蚀机相似，结构上更加简单。EUV光刻解决了更小特征尺寸的需求。黑龙江图形光刻
光刻过程中图形的精度控制是半导体制造领域的重要课题。通过优化光源稳定性与波长选择、掩模设计与制造、光刻胶性能与优化、曝光控制与优化、对准与校准技术以及环境控制与优化等多个方面，可以实现对光刻图形精度的精确控制。随着科技的不断发展，光刻技术将不断突破和创新，为半导体产业的持续发展注入新的活力。同时，我们也期待光刻技术在未来能够不断突破物理极限，实现更高的分辨率和更小的特征尺寸，为人类社会带来更加先进、高效的电子产品。浙江微纳光刻光刻主要利用的是光刻胶中光敏分子的单光子吸收效应所诱导的光化学反应。
光刻机经历了5代产品发展，每次改进和创新都明显提升了光刻机所能实现的工艺节点。为接触式光刻机。曝光方式为掩模版与半导体基片之间靠控制真空度实现紧密接触，使用光源分别为g线和i线。接触式光刻机由于掩模与光刻胶直接接触，所以易受污染，掩模版和基片容易受到损伤，掩模版寿命短。第二代为接近式光刻机。曝光方式为掩模版与半导体基片之间有微米级别的间隙，掩模版不容易受到损伤，掩模版寿命长，但掩模版与基片之间的间隙也导致成像质量受到影响，分辨率下降。
掩模是光刻过程中的另一个关键因素。掩模上的电路图案将直接决定硅片上形成的图形。因此，掩模的设计和制造精度对光刻图案的分辨率有着重要影响。为了提升光刻图案的分辨率，掩模技术也在不断创新。光学邻近校正（OPC）技术通过在掩模上增加辅助结构来消除图像失真，实现分辨率的提高。这种技术也被称为计算光刻，它利用先进的算法对掩模图案进行优化，以减小光刻过程中的衍射和干涉效应，从而提高图案的分辨率和清晰度。此外，相移掩模（PSM）技术也是提升光刻分辨率的重要手段。相移掩模同时利用光线的强度和相位来成像，得到更高分辨率的图案。通过改变掩模结构，在其中一个光源处采用180度相移，使得两处光源产生的光产生相位相消，光强相消，从而提高了图案的分辨率。光刻机利用精确的光线图案化硅片。
光刻设备的控制系统对其精度和稳定性同样至关重要。为了实现高精度的图案转移，光刻设备需要配备高性能的传感器和执行器，以实时监测和调整设备的运行状态。这些传感器能够精确测量光刻过程中的各种参数，如温度、湿度、压力、位移等，并将数据传输给控制系统进行分析和处理。控制系统采用先进的控制算法和策略，根据传感器反馈的数据，实时调整光刻设备的各项参数，以确保图案的精确转移。例如，通过引入自适应控制算法，控制系统能够根据光刻胶的特性和工艺要求，自动调整曝光剂量和曝光时间，以实现合理的图案分辨率和一致性。此外，控制系统还可以采用闭环反馈机制，实时监测光刻过程中的误差，并自动进行补偿，以提高设备的稳定性和精度。精确控制光刻环境是确保产品一致性的关键。福建紫外光刻
光刻技术的进步为物联网和人工智能提供了硬件支持。黑龙江图形光刻
光刻对准技术是曝光前一个重要步骤作为光刻的三大主要技术之一，一般要求对准精度为细线宽尺寸的1/7---1/10。随着光刻分辨力的提高，对准精度要求也越来越高，例如针对45am线宽尺寸，对准精度要求在5am左右。受光刻分辨力提高的推动，对准技术也经历迅速而多样的发展。从对准原理上及标记结构分类，对准技术从早期的投影光刻中的几何成像对准方式，包括视频图像对准、双目显微镜对准等，一直到后来的波带片对准方式、干涉强度对准、激光外差干涉以及莫尔条纹对准方式。黑龙江图形光刻
