光刻系统基本参数
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实际上,由于液体介质的折射率相比空气介质更接近曝光透镜镜片材料的折射率,等效地加大了透镜口径尺寸与数值孔径(NA),同时可以 ***提高焦深(DOF)和曝光工艺的宽容度(EL),浸没式光 刻 技 术 正 是 利 用 这 个 原 理 来 提 高 其 分 辨率。世界三 大光刻机 生产商ASML,Nikon和Cannon的*** 代 浸 没 式 光 刻 机 样 机 都 是 在 原 有193nm干式光刻机的基础上改进研制而成,**降低了研发成本和风险。因为浸没式光刻系统的原理清晰而且配合现有的光刻技术变动不大,193nm ArF准分子激光光刻技术在65nm以下节点半导体量产中已经广泛应用;ArF浸没式光刻 技 术 在45nm节 点 上 是 大 生 产 的 主 流 技 术。方法:a、气相成底膜的热板涂底。HMDS蒸气淀积,200~250C,30秒钟;常熟比较好的光刻系统选择

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目 前EUV技 术 采 用 的 曝 光 波 长 为13.5nm,由于其具有如此短的波长,所有光刻中不需要再使用光学邻近效应校正(OPC)技术,因而它可以把光刻技术扩展到32nm以下技术节点。2009年9月Intel*** 次 向 世 人 展 示 了22 nm工艺晶圆,称继续使用193nm浸没式光刻技术,并规 划 与EUV及EBL曝 光 技 术 相 配 合,使193nm浸没式光刻技术延伸到15和11nm工艺节点。 [1]电子束光刻技术是利用电子枪所产生的电子束,通过电子光柱的各极电磁透镜聚焦、对中、各种象差的校正、电子束斑调整、电子束流调整、电子束曝光对准标记检测、电子束偏转校正、电子扫描场畸变校正等一系列调整,***通过扫描透镜根据电子束曝光程序的安排,在涂布有电子抗蚀剂(光刻胶)的基片表面上扫描写出所需要的图形。常州购买光刻系统五星服务颗粒控片(Particle MC):用于芯片上微小颗粒的监控,使用前其颗粒数应小于10颗;

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b、接近式曝光(Proximity Printing)。掩膜板与光刻胶层的略微分开,大约为10~50μm。可以避免与光刻胶直接接触而引起的掩膜板损伤。但是同时引入了衍射效应,降低了分辨率。1970后适用,但是其最大分辨率*为2~4μm。c、投影式曝光(Projection Printing)。在掩膜板与光刻胶之间使用透镜聚集光实现曝光。一般掩膜板的尺寸会以需要转移图形的4倍制作。优点:提高了分辨率;掩膜板的制作更加容易;掩膜板上的缺陷影响减小。投影式曝光分类:

电子束光刻基本上分两大类,一类是大生产光掩模版制造的电子束曝光系统,另一类是直接在基片上直写纳米级图形的电子束光刻系统。电子束光刻技术起源于扫描电镜,**早由德意志联邦共和国杜平根大学的G.Mollenstedt等人在20世纪60年代提出。电子束曝光的波长取决于电子能量,电子能量越高,曝光的波长越短,大 体在10-6nm量级上,因而电子束光刻不受衍射极限的影响,所以电子束光刻可获得接近于原子尺寸的分辨率。但是,由于电子束入射到抗蚀剂及基片上时,电子会与固体材料的原子发生“碰撞”产生电子散射现象,包括前散射和背散射电子,这些散射电子同样也参与“曝光”,前散射电子波及范围可在几十纳米,从基片上返回抗蚀剂中背散射电子可波及到几十微米之远。缺点:光刻胶污染掩膜板;掩膜板的磨损,寿命很低(只能使用5~25次);1970前使用,分辨率〉0.5μm。

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扫描投影曝光(Scanning Project Printing)。70年代末~80年代初,〉1μm工艺;掩膜板1:1,全尺寸;步进重复投影曝光(Stepping-repeating Project Printing或称作Stepper)。80年代末~90年代,0.35μm(I line)~0.25μm(DUV)。掩膜板缩小比例(4:1),曝光区域(Exposure Field)22×22mm(一次曝光所能覆盖的区域)。增加了棱镜系统的制作难度。01:13步进扫描光刻机 芯片工程师教程扫描步进投影曝光(Scanning-Stepping Project Printing)。90年代末~至今,用于≤0.18μm工艺。采用6英寸的掩膜板按照4:1的比例曝光,曝光区域(Exposure Field)26×33mm。优点:增大了每次曝光的视场;提供硅片表面不平整的补偿;提高整个硅片的尺寸均匀性。但是,同时因为需要反向运动,增加了机械系统的精度要求。目的:a、除去表面的污染物(颗粒、有机物、工艺残余、可动离子);太仓耐用光刻系统规格尺寸

光刻是平面型晶体管和集成电路生产中的一个主要工艺。常熟比较好的光刻系统选择

所有实际电子束曝光、显影后图形的边缘要往外扩展,这就是所谓的“电子束邻近效应。同时,半导体基片上如果有绝缘的介质膜,电子通过它时也会产生一定量的电荷积累,这些积累的电荷同样会排斥后续曝光的电子,产生偏移,而不导电的绝缘体(如玻璃片)肯定不能采用电子束曝光。还有空间交变磁场、实验室温度变化等都会引起电子束曝光产生“漂移”现象。因此,即使拥有2nm电子束斑的曝 光 系统,要曝光出50nm以下的图形结构也不容易。麻省理工学院(MIT)已经采用的电子束光刻技术分辨率将推进到9nm。电子束直写光刻可以不需要常熟比较好的光刻系统选择

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