典型产品：真空泵（干泵、分子泵）、气体流量计（MFC）、真空阀。技术难点：真空泵耐腐蚀性（如CF4气体）、MFC响应速度（<100ms）。国产化进展：新莱应材突破高纯气体管路，汉钟精机干泵进入中微公司供应链，但**真空阀仍依赖瑞士VAT。光学类功能：控制和传输光源（如EUV光刻机需13.5nm波长）。典型产品：光学镜头、激光源、光栅。技术... 【查看详情】

光电探测器光电探测器的功能是把微弱的光信号转换成电信号，然后经过放大器将电信号放大，从而达到检测光信号的目的。光敏电阻是**早发展的一种光电探测器。它利用了半导体受光照后电阻变小的效应。此外，光电二极管、光电池都可以用作光电探测元件。十分微弱的光信号，可以用雪崩光电二极管来探测。它是把一个PN结偏置在接近雪崩的偏压下，微弱光信号所激发的少... 【查看详情】

20世纪70年代爱德万推出首台10MHz IC测试系统，1976年研制全球首台DRAM测试机T310/31 [2]。泰瑞达J750系列于1998年***推出，并成为低成本芯片大批量测试的行业标准 [23]。爱德万V93000测试机于1999年**初上市 [33]，2011年爱德万通过收购惠瑞杰进入SoC测试市场 [2]。进入21世纪，爱德... 【查看详情】

半导体耗材是指在半导体制造和测试过程中所使用的各种材料和工具。这些耗材在半导体产业中扮演着重要的角色，直接影响到芯片的性能、良率和生产效率。常见的半导体耗材包括：光刻胶：用于光刻工艺中，形成电路图案的光敏材料。清洗剂：用于清洗硅片和设备，去除杂质和污染物。化学气体：如氟化氢、氨气等，用于化学气相沉积（CVD）和刻蚀等工艺。硅片：作为半导体... 【查看详情】

因为投入者众，竞争也剧烈，进展迅速，造成良性循环。一个普遍现象是各大学电机、电子方面的课程越来越多，分组越细，并且陆续从工学院中**成电机电子与信息方面的学院。其它产业也纷纷寻求在半导体产业中的应用，这在全世界已经变成一种普遍的趋势。总而言之，半导体技术已经从微米进步到纳米尺度，微电子已经被纳米电子所取代。半导体的纳米技术可以**以下几层... 【查看详情】

光电池当光线投射到一个PN结上时，由光激发的电子空穴对受到PN结附近的内在电场的作用而向相反方向分离，因此在PN结两端产生一个电动势，这就成为一个光电池。把日光转换成电能的日光电池很受人们重视。较早应用的日光电池都是用硅单晶制造的，成本太高，不能大量推广使用。国际上都在寻找成本低的日光电池，用的材料有多晶硅和无定形硅等。其它利用半导体的其... 【查看详情】

在MOS器件的基础上,又发展出一种电荷耦合器件 (CCD)，它是以半导体表面附近存储的电荷作为信息，控制表面附近的势阱使电荷在表面附近向某一方向转移。这种器件通常可以用作延迟线和存储器等；配上光电二极管列阵，可用作摄像管。中国半导体器件型号命名方法半导体器件型号由五部分（场效应器件、半导体特殊器件、复合管、PIN型管、激光器件的型号命名只... 【查看详情】

1958年，集成电路问世。1959年，赝势概念的提出，使得固体能带的计算大为简化。利用价电子态与原子**态正交的性质，用一个赝势代替真实的原子势，得到一个固体中价电子态满足的方程。用赝势方法得到了几乎所有半导体的比较精确的能带结构。1962年，半导体激光器发明。 [21]1968年，硅MOS（金属-氧化物-半导体）器件发明及大规模集成电路... 【查看详情】

全球半导体测试设备市场高度集中，爱德万与泰瑞达两家占据约70%的市场份额 [15]。根据行业报告，2023年全球测试机行业市场规模约45亿美元，其中SoC测试机和存储测试机是主要组成部分 [21]。中国半导体测试设备市场增长迅速，但国产化率仍不足20%，**测试设备几乎全部依赖进口 [15]。国内已涌现出一批代表性厂商，如华峰测控、长川科... 【查看详情】

密度：5.31g/cm3熔点：1238℃折射率：3.57相对介电常数：13.18电子亲和能：4.07 eV晶格能：5.65×10-10m禁带宽度：1.424e（300K）电子迁移率：8500 cm2/(V·s) （300 K）外观：黑灰色固体GaAs拥有一些较Si还要好的电子特性，使得GaAs可以用在高于250 GHz的场合。如果等效的G... 【查看详情】

1958年，集成电路问世。1959年，赝势概念的提出，使得固体能带的计算大为简化。利用价电子态与原子**态正交的性质，用一个赝势代替真实的原子势，得到一个固体中价电子态满足的方程。用赝势方法得到了几乎所有半导体的比较精确的能带结构。1962年，半导体激光器发明。 [21]1968年，硅MOS（金属-氧化物-半导体）器件发明及大规模集成电路... 【查看详情】

半导体参数分析仪的**技术主要围绕对半导体器件电学特性的精细测量与表征，涵盖直流特性、电容特性、瞬态特性等关键领域 [2-3]。直流电流-电压（I-V）测量直流电流-电压（I-V）测量是半导体参数测试的基础，用于表征器件的静态电学特性 [17]。源测量单元（SMU）是实现该技术的**，其测量范围可覆盖从10 aA（阿安培）至1A的电流以及... 【查看详情】