晶圆测试经过上面的几道工艺之后,晶圆上就形成了一个个格状的晶粒。通过针测的方式对每个晶粒进行电气特性检测。一般每个芯片的拥有的晶粒数量是庞大的,组织一次针测试模式是非常复杂的过程,这要求了在生产的时候尽量是同等芯片规格构造的型号的大批量的生产。数量越大相对成本就会越低,这也是为什么主流芯片器件造价低的一个因素。封装将制造完成晶圆固定,绑定... 【查看详情】
基尔比之后半年,仙童半导体公司的罗伯特·诺伊斯开发了一种新的集成电路,比基尔比的更实用。诺伊斯的设计由硅制成,而基尔比的芯片由锗制成。诺伊斯将以下原理归功于斯普拉格电气的库尔特·利霍韦克p–n绝缘结,这也是集成电路背后的关键概念。[17]这种绝缘允许每个晶体管**工作,尽管它们是同一片硅的一部分。仙童半导体公司也是***个拥有自对齐栅极的... 【查看详情】
基尔比之后半年,仙童半导体公司的罗伯特·诺伊斯开发了一种新的集成电路,比基尔比的更实用。诺伊斯的设计由硅制成,而基尔比的芯片由锗制成。诺伊斯将以下原理归功于斯普拉格电气的库尔特·利霍韦克p–n绝缘结,这也是集成电路背后的关键概念。[17]这种绝缘允许每个晶体管**工作,尽管它们是同一片硅的一部分。仙童半导体公司也是***个拥有自对齐栅极的... 【查看详情】
空间电荷区:扩散到P区的自由电子与空穴复合,而扩散到N区的空穴与自由电子复合,所以在交界面附近多子的浓度下降,P区出现负离子区,N区出现正离子区,它们是不能移动,称为空间电荷区。电场形成:空间电荷区形成内电场。空间电荷加宽,内电场增强,其方向由N区指向P区,阻止扩散运动的进行。漂移运动:在电场力作用下,载流子的运动称... 【查看详情】
IC由很多重叠的层组成,每层由视频技术定义,通常用不同的颜色表示。一些层标明在哪里不同的掺杂剂扩散进基层(成为扩散层),一些定义哪里额外的离子灌输(灌输层),一些定义导体(多晶硅或金属层),一些定义传导层之间的连接(过孔或接触层)。所有的组件由这些层的特定组合构成。在一个自排列(CMOS)过程中,所有门层(多晶硅或金属)穿过扩散层的地方形... 【查看详情】
分类: 基础仪器和通用仪器:数字多用表、电源、函数发生器、计数器...射频和微波仪器及系统:频谱分析仪、网络分析仪、信号发生器、功率计、噪声系数分析仪示波器、逻辑分析仪和数字测试:示波器、逻辑分析仪、仿真迹线端口分析仪、BERT…EDA 软件:电子设计自动化软件...测试和测量软件和连通性:测试和测量工具集,VEE, TestE... 【查看详情】
**早的集成电路使用陶瓷扁平封装,这种封装很多年来因为可靠性和小尺寸继续被军方使用。商用电路封装很快转变到双列直插封装,开始是陶瓷,之后是塑料。20世纪80年代,VLSI电路的针脚超过了DIP封装的应用限制,***导致插针网格数组和芯片载体的出现。表面贴着封装在20世纪80年代初期出现,该年代后期开始流行。它使用更细的脚间距,引脚形状为海... 【查看详情】
对于正、负极标志不明的电解电容器,可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。即先任意测一下漏电阻,记住其大小,然后交换表笔再测出一个阻值。两次测量中阻值大的那一次便是正向接法,即黑表笔接的是正极,红表笔接的是负极。D 使用万用表电阻挡,采用给电解电容进行正、反向充电的方法,根据指针向右摆动幅度的大小,可估测出电解电容的容量。3 可变电容器的检测... 【查看详情】
被测色码电感器直流电阻值的大小与绕制电感器线圈所用的漆包线径、绕制圈数有直接关系,只要能测出电阻值,则可认为被测色码电感器是正常的。2 中周变压器的检测A 将万用表拨至R×1挡,按照中周变压器的各绕组引脚排列规律,逐一检查各绕组的通断情况,进而判断其是否正常。B 检测绝缘性能 将万用表置于R×10k挡,做如下几种状态测试:(1)初级绕组与... 【查看详情】
晶圆测试经过上面的几道工艺之后,晶圆上就形成了一个个格状的晶粒。通过针测的方式对每个晶粒进行电气特性检测。一般每个芯片的拥有的晶粒数量是庞大的,组织一次针测试模式是非常复杂的过程,这要求了在生产的时候尽量是同等芯片规格构造的型号的大批量的生产。数量越大相对成本就会越低,这也是为什么主流芯片器件造价低的一个因素。封装将制造完成晶圆固定,绑定... 【查看详情】
技术发展趋势新型元器件将继续向微型化、片式化、高性能化、集成化、智能化、环保节能方向发展。市场需求分析随着下一代互联网、新一代移动通信和数字电视的逐步商用,电子整机产业的升级换代将为电子材料和元器件产业的发展带来巨大的市场机遇。“十一五”发展重点我国《电子基础材料和关键元器件“十一五”专项规划》重点强调新型元器件、新型显示器件和电子材... 【查看详情】