铜陵格林达剥离液

本发明涉及半导体制造领域，特别是涉及一种用于包括但不限于半导体生产工艺中光刻胶去除步骤的光刻胶剥离去除方法。背景技术：光刻胶是一大类具有光敏化学作用(或对电子能量敏感)的高分子聚合物材料，是转移紫外曝光或电子束曝照图案的媒介。光刻胶的也称为光致抗蚀剂、光阻等，其作用是作为抗刻蚀层保护衬底表面。光刻胶广泛应用于集成电路(ic)、封装(packaging)、微机电系统(mems)、光电子器件光子器件(optoelectronics/photonics)、平板显示其(led、lcd、oled)和太阳能光伏(solarpv)等领域。在半导体制造领域，离子注入层光刻胶(参考图2)在经过高剂量或大分子量的源种注入后(参考图3)，会在光刻胶的外层形成一层硬壳(参考图4)本发明命名为主要光刻胶层。现有的离子注入层光刻胶在经过氧气灰化干法剥离时，由于等离子氧与光刻胶反应速率很高，会有一部分等离子氧先穿透主要光刻胶层到达第二光刻胶层，在与第二光刻胶层反应后在内部产生大量气体，第二层光刻胶膨胀(参考图5)，主要光刻胶层终因承受不住内层巨大的气压而爆裂，爆裂的光刻胶有一定的概率掉落在临近的光刻胶上(参考图6)，导致此交叠的光刻胶不能法剥离干净。在经过后续批作业的湿法剥离后会产生残余物。剥离液可用于去除光刻胶；铜陵格林达剥离液

本发明涉及化学制剂技术领域：，特别涉及一种用于叠层晶圆的光刻胶剥离液。背景技术：：随着半导体制造技术以及立体封装技术的不断发展，电子器件和电子产品对多功能化和微型化的要求越来越高。在这种小型化趋势的推动下，要求芯片的封装尺寸不断减小。3d叠层粉妆技术的封装体积小，立体空间大，引线距离短，信号传输快，所以能够更好地实现封装的微型化。晶圆叠层是3d叠层封装的一种形式。叠层晶圆在制造的过程中会对**外层的晶圆表面进行显影蚀刻，当中会用到光刻胶剥离液。南京格林达剥离液配方技术上海和辉光电用的哪家的剥离液？

能够除去抗蚀剂。用本发明剥离液处理施加有抗蚀剂的基材的条件没有特别限定，例如，可以举出在设为10～80℃的本发明剥离液中浸渍基材1～60分钟左右的条件、将设为10～80℃的本发明剥离液向基材喷雾1～60分钟左右的条件。需要说明的是，浸渍时，可以摇动基材，或对本发明剥离液施加超声波。抗蚀剂的种类没有特别限定，可以是例如干膜抗蚀剂、液体抗蚀剂等中的任一种。干膜抗蚀剂的种类也没有特别限定，例如推荐碱可溶型的干膜抗蚀剂。作为这样的碱可溶型的干膜抗蚀剂，例如，可以举出rd-1225(sap用25μm厚)(日立化成株式会社制)等。施加抗蚀剂的基材没有特别限定，例如，可以举出印刷布线板、半导体基板、平板显示器、引线框中使用的各种金属、合金所形成的、薄膜、基板、部件等。按照上述方式本发明剥离液能够从施加有抗蚀剂的基材除去抗蚀剂，因此能够在包括除去这样的抗蚀剂的工序的印刷布线板、半导体基板、平板显示器、引线框等的制造方法中使用。上述制造方法之中推荐包括从施加有抗蚀剂的基材除去抗蚀剂的工序的印刷布线板的制造方法，特别推荐基于半加成法的印刷布线板的制造方法。本发明剥离液能够除去的线/间距(l/s)没有特别限定。

上述组分中，酰胺是用于溶解光刻胶；醇醚是用于润湿、膨润、溶解光刻胶的；环胺与链胺，用于渗透、断开光刻胶分子间弱结合力；缓蚀剂，用于降低对金属的腐蚀速度；润湿剂，能够增强亲水性，使得剥离液亲水性良好，能快速高效地剥离溶解光刻胶。进一步技术方案中，所述的步骤s3中重新制备剥离液新液，制备过程中加入酰胺化合物或醇醚化合物，其中重新制备新液时，加入的纯化液体质量分数为：70％-95％，加入的添加剂质量分数为：5％-10％；加入的酰胺化合物质量分数为：0-15％；加入的醇醚化合物质量分数为0-5％。在制备过程中额外加入酰胺化合物以及醇醚化合物是为了调节中心制备的剥离液新液中各组分的质量分数，将配比调节到更优的比例，使得剥离液新液的效果更好。经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：本发明对剥离液废液进行加压、蒸馏等处理，得出纯化液体，该纯化液体中所含的物质是剥离液新液中所含有的某些组分，而通过预先制备添加剂，可以在得出纯化液体后直接加入添加剂以及原材料，重新配备剥离液新液，使得剥离液废液得以循环再生，减少资源的浪费以及对环境的危害。剥离液分为溶剂型和水系两种类别；

每一所述第二子管道502与所述公共子管道501连通，所述公共子管道501与所述下一级腔室102连通。其中，阀门开关60设置在每一子管道301上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一***子管道401及每一所述第二子管道502上。在一些实施例中，阀门开关60设置在每一第二子管道502上。具体的，阀门开关60的设置位置可以设置在连接过滤器30的任意管道上，在此不做赘述。在一些实施例中，请参阅图4，图4为本申请实施例提供的剥离液机台100的第四种结构示意图。第二管道50包括多个第三子管道503，每一所述第三子管道503与一子过滤器连通301，且每一所述第三子管道503与所述下一级腔室连通102。其中，阀门开关60设置在每一第三子管道503上。本申请实施例提供的剥离液机台，包括：依次顺序排列的多级腔室、每一级所述腔室对应连接一存储箱；过滤器，所述过滤器的一端设置通过管道与当前级腔室对应的存储箱连接，所述过滤器的另一端通过第二管道与下一级腔室连接；其中，至少在管道或所述第二管道上设置有阀门开关。通过阀门开关控制连接每一级腔室的过滤器相互独立，从而在过滤器被阻塞时通过阀门开关将被堵塞的过滤器取下并不影响整体的剥离进程，提高生产效率。剥离液可适用不同制程光刻胶的剥离；东莞银蚀刻液剥离液销售价格

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光刻作为IC制造的关键一环常常被人重视，但是光刻胶都是作为层被去掉的，如何快速、干净的去除工艺后的光刻胶是一个经常被疏忽的问题，但是很重要，直接影响了产品质量。如何快速有效的去除光刻胶。笔者**近就碰到一些去胶的问题，比如正胶和负胶去除需要的工艺有差别。去胶工艺还和光刻胶受过什么样的工艺处理有关，比如ICPRIE之后的光刻胶、还有湿法腐蚀后的光刻胶。市面上针对光刻胶去除的特殊配方的去胶液有很多种，但需要根据自身产品特性加以选择。在做砷化镓去除光阻的案例，砷化镓是一种化合物半导体材料，分子式GaAs。立方晶系闪锌矿结构，即由As和Ga两种原子各自组成面心立方晶格套构而成的复式晶格，其晶格常数是。室温下禁带宽度，是直接带隙半导体，熔点1238℃，质量密度，电容率。在其中掺入Ⅵ族元素Te、Se、S等或Ⅳ族元素Si，可获得N型半导体，掺入Ⅱ族元素Be、Zn等可制得P型半导体，掺入Cr或提高纯度可制成电阻率高达107～108Ω·cm的半绝缘材料。铜陵格林达剥离液