半导体测试设备（Automatic Test Equipment, ATE）是用于检测集成电路功能完整性的电子测量仪器 [12] [15]。主要设备包括测试机、探针台和分选机，其中测试机实现测试功能，探针台和分选机实现机械功能。探针台针对晶圆级检测（CP），分选机针对封装芯片级检测（FT） [14]。在后道测试设备中，测试机价值量占比比较高，约63%，分选机约占17%，探针台约占15% [30]。根据测试对象不同，测试机可细分为SoC测试机、存储器测试机、模拟测试机和RF测试机等，其中SoC测试机与存储器测试机技术难度较大 [14]。在测试机市场中，SoC测试机占比约68%，存储器测试机占比约20% [30]。P型半导体与N型半导体结合形成PN结，具有单向导电性，是二极管、晶体管等器件的基础。闵行区节能半导体设备制定
半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信 号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件（即晶体二极管）的基本结构是一个PN结。半导体器件（semiconductor device）通常利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极，晶体二极管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波松江区常规半导体设备销售厂家海外针对先进制程设备的出口管制政策持续收紧，可能影响设备获取与技术合作，同时也倒逼国产替代加速。
两个结之间的一薄层半导体材料称为基区。接在发射结一端和集电结一端的两个电极分别称为发射极和集电极。接在基区上的电极称为基极。在应用时，发射结处于正向偏置，集电极处于反向偏置。通过发射结的电流使大量的少数载流子注入到基区里，这些少数载流子靠扩散迁移到集电结而形成集电极电流，只有极少量的少数载流子在基区内复合而形成基极电流。集电极电流与基极电流之比称为共发射极电流放大系数。在共发射极电路中，微小的基极电流变化可以控制很大的集电极电流变化，这就是双极型晶体管的电流放大效应。双极型晶体管可分为NPN型和PNP型两类。
半导体发光二极管半导体发光二极管的结构是一个PN结，它正向通电流时，注入的少数载流子靠复合而发光。它可以发出绿光、黄光、红光和红外线等。所用的材料有 GaP、GaAs、GaAs1-xPx、Ga1-xAlxAs、In1-xGaxAs1-yPy等。半导体激光器如果使高效率的半导体发光管的发光区处在一个光学谐振腔内，则可以得到激光输出。这种器件称为半导体激光器或注入式激光器。**早的半导体激光器所用的PN结是同质结，以后采用双异质结结构。双异质结激光器的优点在于它可以使注入的少数载流子被限制在很薄的一层有源区内复合发光，同时由双异质结结构组成的光导管又可以使产生的光子也被限制在这层有源区内。因此双异质结激光器有较低的阈值电流密度，可以在室温下连续工作。半导体设备是指在集成电路（芯片）制造过程中所使用的各类精密仪器和装置。
华峰测控成立于1993年，是国内**早进入半导体测试设备行业的企业之一。长川科技成立于2008年 [16]。加速科技等新兴厂商选择以数模混合信号测试设备为切入点，在硬件平台、通信架构、算法软件等方面实现自主化，并相继突破高速测试技术节点 [15]。根据行业报告，2023年全球测试机市场规模约45亿美元，市场主要由泰瑞达、爱德万等国外厂商主导，国内厂商如长川科技、华峰测控等正逐步提升市场份额 [21]。以Keithley 4200A-SCS参数分析仪为例，其关键规格包括直流电流-电压测量范围可达10 aA至1A，电压范围0.2 µV至210 V，电容-电压测量范围覆盖1 kHz至10 MHz，偏置电压范围±30V，脉冲I-V测量范围达±40 V，电流±800 mA，采样率为200 MSa/s [2]。主机**多可支持9个源测量单元通道，SMU通道的A/D转换器分辨率不低于22位，电压测量分辨率可达0.2μV，电压源设定分辨率为5μV [7]。半导体设备技术更新极快，企业需要持续投入高额研发费用以保持竞争力。松江区节能半导体设备价目
集成电路（IC）：将多个晶体管等元件集成在一块芯片上，如CPU、存储器。闵行区节能半导体设备制定
测试机的关键性能参数包括测试通道数、测试频率/速度、测试精度、测试深度以及支持的测试类型 [4] [13-14] [16]。例如，测试通道数指支持并行测试的通道数量 [13]；测试频率/速度指测试系统运行的比较高频率或单参数测试时间，如SC2010测试系统典型测试时间约为6~20ms；测试精度可达pA级电流分辨率与mV级电压分辨率 [16]；测试深度如向量深度可达64Mbit [4]；支持的测试类型涵盖直流参数、交流参数及功能测试 [14]。典型产品包括泰瑞达J750Ex-HD系列，它是高效率、低成本测试的行业标准平台，用于测试复杂度较低的混合信号芯片如汽车MCU，其软件环境为IG-XL™ [23]。华峰测控STS8300为多功能模拟和混合信号测试系统，STS8600为新一代测试系统，拥有更多的测试通道数以及更高的测试频率 [13] [24]。SC2010是半导体分立器件参数测试系统，测试电压范围0-2000V，测试电流范围0-100A，测试方式为程控脉冲式，脉冲宽度300us至5ms，电压分辨率1mV，电流分辨率0.1nA [16]。闵行区节能半导体设备制定
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