中红外光谱技术的***进展单光子计算光谱:曾和平教授和黄坤研究员团队创新结合频率上转换探测技术和波长编码计算光谱技术,实现了单光子水平的中红外单像素计算光谱仪。特点:在低至0.01 photons/nm/pulse的单光子照度下实现了0.5 cm⁻¹的光谱分辨率,探测灵敏度相较此前记录有数量级提升。...
材料科学与工程材料特性表征:对新型发光材料、半导体材料等进行光谱分析,获取材料的光学性质,如吸收光谱、发射光谱等,进而评估材料的性能和质量。快速元素分析:通过光谱仪对材料进行元素分析,快速确定材料的成分组成,为材料的研发和改进提供依据。环境监测大气污染监测:利用光谱仪测量大气中的气溶胶等污染物的光谱特征,分析其成分和浓度,为大气环境质量评估和污染治理提供数据支持。水质监测:检测水体中的污染物,如重金属离子、有机物等,通过对水样的光谱分析,快速判断水质状况。HR 系列光谱仪可以用于监测水生生态系统的健康状况,如藻类生长、水生植物分布等。江西超微型光谱仪海洋光学网站

海洋光学光谱仪校准光源海洋光学提供多种光谱仪校准光源,适用于紫外、可见光和近红外波段的光谱仪校准。这些校准光源基于气体放电灯,能够发射具有明确波长的光谱线,用于光谱仪的波长校准。校准光源型号及特点海洋光学的校准光源包括以下几种型号,每种型号都具有特定的波长范围和发射谱线:表格复制型号光源类型波长范围发射谱线HG-2汞氩灯253-1704 nm多条明确的发射线,适用于紫外到近红外波段的校准KR-2氪灯427-893 nm适用于可见光波段的校准NE-2氖灯540-754 nm适用于可见光波段的校准AR-2氩灯696-1704 nm适用于近红外波段的校准XE-2氙灯916-1984 nm适用于近红外波段的校准发射光谱:这些光源通过原子发射光谱实现光谱仪波长校准,数据准确可靠。远程开关控制:支持远程操控光源启停,避免干扰实验装置。振幅稳定性:所有校准光源的振幅稳定性均在1分钟内。光源寿命:典型值为3500小时。光纤接口:所有校准光源均配备SMA 905光纤接口。湖北SR4海洋光学网站SR2 系列: 特点:快速光谱采集,高信噪比,适用于激光表征、等离子体监测和吸光度测量等应用。

灵活性与多功能性灵活配置:用户可以根据具体应用需求选择不同的狭缝和光栅配置。多功能性:适用于紫外、可见光和近红外波段的测量,覆盖多种应用场景。4. 易于集成无缝集成:ST系列光谱仪易于集成到其他设备中,适合在线检测和手持仪器开发。软件支持:每台ST系列光谱仪都配有OceanDirect跨平台软件开发工具包(SDK),用户可以通过API调整光谱仪参数并访问关键数据。5. 应用***生物医学:用于低浓度吸收光谱测量和荧光测量。环境监测:实时监测水质和大气成分。工业检测:在线监测化学反应,确保产品质量。食品安全:快速检测食品成分,确保食品质量。
NIRQuest 光谱仪的特点1. 高性能探测器探测器类型:采用高性能的 Hamamatsu InGaAs 线阵探测器,具有高灵敏度和低噪声。制冷功能:集成热电制冷系统,温度可低至 -20℃,有效降低暗电流,提高稳定性。2. 多种配置选项波长范围:提供多种波长范围选择,包括 900-1700 nm、900-2200 nm 和 900-2500 nm。分辨率:分辨率范围从 3.1 nm 到 25.6 nm,具体取决于型号和配置。狭缝和光栅选择:用户可根据具体应用需求选择不同的狭缝和光栅,以优化分辨率和光通量。材料表征:用于分析材料的化学成分和结构,帮助优化材料性能。

半导体与工业检测等离子体监测:在半导体制造过程中,使用光学发射光谱技术监测等离子体刻蚀和等离子体增强化学气相沉积(PECVD)过程,优化工艺参数,提高生产效率和产品质量。工业在线检测:将光谱仪嵌入生产流水线,对生产过程中的原料纯度、反应进度、产品质量进行全程实时监测,如在化工行业可帮助提升反应控制精度和产品合格率。教育与科研教学实验教学:为高校和科研机构提供教育与科研光谱解决方案,帮助学生和科研人员开展实验,获取准确的实验结果,培养实验技能和科研能力。科研项目支持:与高校和科研机构合作,为其提供先进的光谱仪设备,支持科研项目的开展,推动科研成果的产出。SR4 系列波长范围:190-1100 nm。分辨率:0.42 - 11.34 nm(取决于配置)。湖北SR4海洋光学网站
HR系列光谱仪适用于原子发射线检测、高吸光度线性度测量、蛋白质浓度测量。江西超微型光谱仪海洋光学网站
古玩鉴定MX2500+激光诱导等离子体光谱分析仪:北京古玩城古玩珠宝检测修复中心的**将海洋光学的MX2500+激光诱导等离子体光谱分析仪引进到古玩鉴定中,以实现更快、更准确地鉴定古玩真伪的目的。4.半导体器件加工过程检测LIBS系统:海洋光学的LIBS系统由三大部分组成:脉冲纳秒激光器、MX2500+八通道光谱仪以及密闭稳定仓式结构样品仓。该系统可用于检测硅晶片表面的污染物成分。实验中,将硅晶片放入样品仓样品台上,Nd:YAG脉冲激光器输出的脉冲光束经聚焦透镜聚焦到硅晶片表面,在样品表面形成高温高电子密度的等离子体的火花,等离子体火花发射出包含原子和离子特征谱线的光谱,将等离子体信号通过光纤导入到MX2500+八通道光谱仪平台中进行信号处理,并使用海洋光学LIBS软件进行污渍元素成分分析。江西超微型光谱仪海洋光学网站
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