SGTMOSFET基本参数
  • 品牌
  • SJ
  • 型号
  • SJZ011N04
  • 类型
  • SGT
  • BV
  • 40
SGTMOSFET企业商机

近年来,SGT MOSFET的技术迭代围绕“更低损耗、更高集成度”展开。一方面,通过3D结构创新(如双屏蔽层、超结+SGT混合设计),厂商进一步突破了RDS(on)*Qg的物理极限。以某系列为例,其40V产品的RDS(on)低至0.5mΩ·mm²,Qg比前代减少20%,可在200A电流下实现99%的同步整流效率。另一方面,封装技术的进步推动了SGT MOSFET的模块化应用。采用Clip Bonding或铜柱互连的DFN5x6、TOLL封装,可将寄生电感降至0.5nH以下,使其适配MHz级开关频率的GaN驱动器。SGT MOSFET 通过与先进的控制算法相结合,能够实现更加智能、高效的功率管理.安徽40VSGTMOSFET产品介绍

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与竞品技术的对比相比传统平面MOSFET和超结MOSFET,SGT MOSFET在中等电压范围(30V-200V)具有更好的优势。例如,在60V应用中,其R<sub>DS(on)</sub>比超结器件低15%,但成本低于GaN器件。与SiC MOSFET相比,SGT硅基方案在200V以下性价比更高,适合消费电子和工业自动化。然而,在超高压(>900V)或超高频(>10MHz)场景,GaN和SiC仍是更推荐择。在中低压市场中,SGT MOSFET需求很大,相比Trench MOSFET成本降低,性能提高,对客户友好。安徽100VSGTMOSFET客服电话工业烤箱的温度控制系统采用 SGT MOSFET 控制加热元件的功率,实现准确温度调节.

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SGTMOSFET(屏蔽栅沟槽MOSFET)是在传统沟槽MOSFET基础上发展而来的新型功率器件,其关键技术在于深沟槽结构与屏蔽栅极设计的结合。通过在硅片表面蚀刻深度达3-5倍于传统沟槽的垂直沟槽,并在主栅极上方引入一层多晶硅屏蔽栅极,SGTMOSFET实现了电场分布的优化。屏蔽栅极与源极相连,形成电场耦合效应,有效降低了米勒电容(Ciss)和栅极电荷(Qg),从而减少开关损耗。在导通状态下,SGTMOSFET的漂移区掺杂浓度高于传统沟槽MOSFET(通常提升50%以上),这使得其导通电阻(Rds(on))降低50%以上。此外,深沟槽结构扩大了电流通道的横截面积,提升了电流密度,使其在相同芯片面积下可支持更大电流。

SGT MOSFET在消费电子中的应用主要集中在电源管理、快充适配器、LED驱动和智能设备等方面:快充与电源适配器:由于SGT MOSFET具有低导通损耗和高效开关特性,它被广泛应用于手机、笔记本电脑等设备的快充方案中,提升充电效率并减少发热。智能设备(如智能手机、可穿戴设备):新型SGT-MOSFET技术通过优化开关速度和降低功耗,提升了智能设备的续航能力和性能表现。LED照明:在LED驱动电路中,SGT MOSFET的高效开关特性有助于提高能效,延长灯具寿命3D 打印机的电机驱动电路采用 SGT MOSFET对打印头移动与成型平台升降的精确控制提高 3D 打印的精度与质量。

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多沟槽协同设计与元胞优化

为实现更高功率密度,SGTMOSFET采用多沟槽协同设计:1场板沟槽,通过引入与漏极相连的场板,平衡体内电场分布,抑制动态导通电阻(RDS(on))的电流崩塌效应;2源极接触沟槽,缩短源极金属与硅片的接触距离,降低接触电阻(Rcontact)3栅极分割沟槽,将栅极分割为多个单一单元,减少栅极电阻(Rg)和栅极延迟时间(td)。通过0.13μm超细元胞工艺,元胞密度提升50%,RDS(on)进一步降低至33mΩ·mm²(100V产品)。 SGT MOSFET 电磁辐射小,适用于电磁敏感设备。广东40V SGTMOSFET批发

智能电网用 SGT MOSFET,实现电能高效转换与分配 。安徽40VSGTMOSFET产品介绍

优异的反向恢复特性(Q<sub>rr</sub>)

传统MOSFET的体二极管在反向恢复时会产生较大的Q<sub>rr</sub>,导致开关损耗和电压尖峰。而SGTMOSFET通过优化结构和掺杂工艺,大幅降低了体二极管的反向恢复电荷(Q<sub>rr</sub>),使其在同步整流应用中表现更优。例如,在48V至12V的汽车DC-DC转换器中,SGTMOSFET的Q<sub>rr</sub>比超结MOSFET低50%,减少了开关噪声和损耗,提高了系统可靠性。 安徽40VSGTMOSFET产品介绍

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深沟槽工艺对寄生电容的抑制SGTMOSFET的深沟槽结构深度可达5-10μm(是传统平面MOSFET的3倍以上),通过垂直导电通道减少电流路径的横向扩展,从而降低寄生电容。具体而言,栅-漏电容(Cgd)和栅-源电容(Cgs)分别减少40%和30%,使得器件的开关损耗(Eoss=0.5×Coss×V²...

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