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Tecnai-F30场发射高分辨透射电子显微镜企业商机

主要附件: Gatan电子能量过滤系统(GIF) EDAX X-射线能谱仪 STEM-HAADF高角环形暗场探头 Gatan894Ultriscan相机 Gatan994Ultriscan相机 Lorentz 电磁透镜上海销售Tecnai-F30场发射高分辨透射电子显微镜哪家强

样品台:计算机控制、全对中、侧插式5轴马达台(CompuStage);x, y移动范围2mm;可存储和回复无数各维或5维位置,回复精度≤ 300nm,样品漂移≤ 1nm/min 样品真空度≤ 2.7×10-5Pa EDX分析元素范围:铍Be~铀U92 能谱仪探头分辨率:≤ 138 ev; 峰背比20000:1 794CCD相机:1024×1024像素图像峰辨率上海销售Tecnai-F30场发射高分辨透射电子显微镜哪家强

Schottky 场发射灯丝 加速电压范围: 50kV~300kV 点分辨率: 0.20nm;线分辨率:0.10nm;信息分辨率:0.14nm 物镜球差系数Cs:1.2mm; 物镜色差系数Cc:1.4mm 聚焦长度:2.3mm;相当小聚焦步长:0.3nm 相当小束斑尺寸:0.3nm;比较大会聚角:±12º TEM放大倍数: 60×~1000,000× 选区衍射相机常数:35mm~2300mm STEM放大倍数;50×~3000,000×(+8× zoom) STEM图象分辨率:0.17 nm 样品台比较大倾角:±40 º

主要技术指标: 加速电压:300KV 电子枪:肖特基场发射电子枪 分辨率: 点分辨率:0.205 nm 线分辨率:0.102 nm 信息分辨率:0.14nm HR STEM分辨率:0.16nm EELS分辨率:0.65eV EDX分辨率:136eV 放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX HAADF STEM模式 200X—100M

利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析,因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相,界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。 利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。上海销售Tecnai-F30场发射高分辨透射电子显微镜哪家强

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