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X射线衍射仪基本参数
  • 品牌
  • Bruker XRD
  • 型号
  • D6,D8系列
  • 类型
  • 晶格
X射线衍射仪企业商机

Bruker X射线衍射仪在高分子材料领域的应用越来越范围广,高分子材料的结晶度、晶体结构、织构等对材料的力学性能、热性能、加工性能等具有重要影响。通过Bruker粉末衍射仪,可测定高分子材料的结晶度,分析结晶度对材料性能的影响;通过晶体结构分析,可研究高分子材料的晶型转变行为;通过织构分析,可优化高分子材料的加工工艺,改善材料的取向性能。此外,该设备还可用于高分子复合材料的物相分析,研究填料与基体之间的相互作用,为高分子复合材料的研发提供技术支持。Bruker XRD 7分钟完成常规样品测试,高效采集不妥协,批量检测更省心。定性和定量相分析X射线衍射仪供应

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D8ADVANCE系列即一系列用于X射线衍射和散射分析的硬件和软件解决方案,包括相鉴定、定量相分析、微观结构和晶体结构分析、残余应力和织构研究、X射线反射法、小角散射分析和对分布函数分析以及微区衍射。无论面对何种应用,DIFFRAC.DAVINCI都会指引用户选择比较好的仪器配置。而DIFFRAC.SUITE软件包可通过精简的分析方法制定与执行,来对新手用户进行指导,同时以低调的方式为提供协助。借助强大的分析软件,那些希望获取比较好结果的人员,只有需按下按键,就可获得深入的分析结果。D8ADVANCE系列包括ECO、ADVANCE和PLUS版本,它们分别针对比较好经济性、比较好的粉末衍射数据质量和非常丰富的材料研究能力进行了优化。定性和定量相分析X射线衍射仪供应Bruker XRD 适配水泥半导体多行业,预设专属模板精确匹配行业需求。

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样品制备的质量直接影响Bruker X射线衍射仪的检测结果,因此需要严格遵循样品制备规范。对于粉末样品,首先需将样品研磨至合适的颗粒尺寸,通常要求颗粒尺寸在1-5微米之间,以避免颗粒过大导致衍射峰宽化或强度降低;然后将研磨均匀的样品平铺在样品架上,确保样品表面平整、无裂痕,且样品量充足,以覆盖X射线的照射区域。对于单晶样品,需挑选尺寸在0.1-0.5毫米之间、结晶度良好、无缺陷的晶体,用胶水固定在样品杆上,确保晶体能够被X射线精细照射。对于薄膜样品,需保证样品表面清洁、平整,厚度均匀,避免表面污染或损伤。

在有机材料研究领域,Bruker X射线衍射仪发挥着重要作用。有机材料通常具有复杂的分子结构,其晶体结构对材料的物理性能、化学性能等具有影响。通过Bruker单晶衍射仪,可精确测定有机化合物的分子结构,包括原子的空间排列、键长、键角等参数,为有机合成反应的机理研究、新型有机材料的设计提供重要依据;通过粉末衍射仪,可对有机材料的物相组成、结晶度等进行分析,优化有机材料的制备工艺。该设备在药物研发、高分子材料、有机光电材料等领域的应用尤为范围广。Bruker XRD 安全连锁防护到位,辐射剂量<1μSv/h,操作更放心。

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DAVINCI.DESIGN是布鲁克推出的采用开创性设计的衍射仪,可实现真正意义上的“即插即用”,面对不断变化的需求、多用户环境以及研究,它将是您的理想之选。借助DAVINCI设计,您将能轻松切换包括X射线管、光学器件、样品台和探测器在内的光路组件,而无需对准。而通过自动识别所有组件,您还可以实现配置实时调整与验证。DIFFRAC.DAVINCI软件插件是一的虚拟测角仪软件解决方案,它可显示真实测角仪的所有光路组件及其状态,并对存在的任何配置进行报告。有了DAVINCI设计加持,D8ADVANCE成为了真正意义上的通用系统,不论是当前还是未来的任何X射线衍射和散射应用,它都具有的适应能力。带有DAVINCI设计的D8ADVANCE:操作轻松、直观、畅通无阻且支持失效保护,适合任何用户(包括新手和)使用。Bruker X射线衍射仪 内置温湿度传感器,40℃/80%RH工况误差仍≤±0.1%。定性和定量相分析X射线衍射仪供应

Bruker X射线衍射仪 EIGER2 R探测器加持,高帧速采集,2D数据获取更精确。定性和定量相分析X射线衍射仪供应

Bruker X射线衍射仪的粉末衍射模式是应用非常非常广的检测模式之一,主要用于粉末样品的物相分析、晶体结构测定等研究。在该模式下,样品被研磨成均匀的粉末状,平铺在样品台上,X射线通过准直器照射到样品表面,样品中的晶体颗粒随机取向,能够产生多面的衍射信号。Bruker粉末衍射仪通过高精度的角度扫描系统,实现衍射角的精确控制,可获取清晰的衍射峰图谱。该模式适用于无机材料、有机材料、金属材料等多种粉末样品的检测,在材料合成、质量控制等领域发挥着重要作用。定性和定量相分析X射线衍射仪供应

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