南京单晶衍射仪检测分析

药物制剂生产过程中除需添加各种辅料外，往往还需要经过溶解、研磨、干燥(温度)、压片等工艺过程，在此过程中API的晶型有可能发生改变，进而可能影响到药物的疗效。国内外FDA规定多晶型药物在研制、生产、贮存过程中必须保证其晶型的一致性，固体制剂中使用的晶型物质应该与API晶型一致。因此药物制剂中的晶型分析是非常重要的。由于辅料的存在对药物制剂中API的晶型分析增加了干扰，特别是API含量非常少的制剂样品，检测更加困难。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先进检测器，为制剂中微量API的晶型检测提供了有利工具。配备了UMC样品台的DISCOVER，优势在于对大型机械零件残余应力和织构分析以及残余奥氏体或高温合金表征。南京单晶衍射仪检测分析

二维材料，如石墨烯、二硫化钼等，因其独特的原子结构和优异性能，成为材料科学研究的热点。XRD 衍射仪在二维材料研究中发挥着关键作用。由于二维材料的原子呈平面层状排列，其晶体结构与传统三维材料有明显差异，XRD 衍射仪可精确测定二维材料的层间距、层间堆垛方式等结构参数。通过分析衍射图谱，研究人员能判断二维材料的层数，例如，单层石墨烯与多层石墨烯的 XRD 图谱特征不同，有助于准确鉴别材料。在二维材料的生长过程中，XRD 衍射仪可实时监测其晶体结构的演变，优化生长工艺，实现高质量二维材料的可控制备。对二维材料与其他材料复合形成的异质结构，XRD 衍射仪能清晰分辨不同材料的衍射峰，研究界面处的结构变化和相互作用，为开发基于二维材料的高性能器件奠定基础 。湖南微观应变分析XRD衍射仪配件凭借RapidRSM技术，能在 短的时间内，测量大面积倒易空间。在DIFFRAC.LEPTOS中，进行倒易点阵转换和分析。

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残余应力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法，用Cr辐射进行测量，对钢构件的残余应力进行分析。使用了2D检测器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,测定小区域结构特性。通过积分2D图像，进行1D扫描，来进行定性相分析和微观结构分析。定性相分析：候选材料鉴别（PMI）为常见，这是因为其对原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。高通量筛选（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，进行半定量分析，以现实孔板上不同相的浓度。非环境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中显示结果。小角X射线散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，对EIGER2R500K通过2D模式手机的NISTSRM80119nm金纳米颗粒进行粒度分析。孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选。

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