原位X射线成像

SKYSCAN2214功能光源00:00/01:47高清1xSKYSCAN2214采用全新一代的开放型X光源。该光源可达到优于500nm的实际空间分辨率，高达160keV的X光能量，以及高达16W的功率。因为拥有极其简单的预先配准的灯丝更换程序，该光源几乎不需要维护。SKYSCAN2214拥有带金刚石窗口的开放型（泵式）纳米焦点X光源。它能产生峰能量从20kV到160keV不等的X光束，并提供有两种类型的阴极。钨（W）阴极适用于较高达到160kV的完整加速电压范围，光斑尺寸小达到800nm。六硼化镧（LaB6）阴极适用于从20kV到100kV的加速电压，X光束的光斑尺寸可以小于500nm，从而确保在成像和三维重建中达到最高分辨率。JIMA分辨率测试卡显示，它能轻松解析出500nm的结构。为了确保焦斑尺寸和发射源的位置能够长期保持稳定，X光源还能配备水冷系统，该系统含有一个循环装置，能准确地控制冷却液体的温度以维持温度的稳定。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像,并且之后可以完好取回样本品!原位X射线成像

ROIShrink-wrap功能可以完美的解决复杂形态ROI的自动选取，并且可以与CTAn的另一个功能PrimitiveROI相结合，可以ROI包含我们感兴趣的边界。高分辨率X射线三维成像系统可以应用在多孔介质渗流特性的研究中，与入口和出口表面相连通的孔隙在其中起到关键作用，高精度三维成像系统如何在错综复杂的孔隙网络中选取其中起关键作用的区域对于多孔介质渗流机理的研究就至关重要了。下图展示了X射线三维纳米显微镜中ROIShrink-wrap与PrimitiveROI相结合所获取与上下表面相通的孔隙网络。原位X射线成像二维/三维数据分析，面/体绘制软件实现三维可视化，结果可输出到手机或者平板电脑上。

多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达60纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸<500nm■创新的探测器模块化设计，可支持4个探测器、可现场升级。■全球速度很快的3D重建软件（InstaRecon®）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析

SKYSCAN1273的大样品室能容纳的样品，比通过单个探测器视场所能扫描的范围还要大。通过分段式扫描和探测器偏置扫描，SKYSCAN1273可以扫描直径达到250mm和长度达到250mm的大型物体。3D.SUITE可自动和无缝地将超大尺寸的图像拼接到一起。SKYSCAN1273医疗器械和药品包装设计和检测包装对于确保药品能以正确和安全的方式送达患者非常重要。XRM能以无损的和无菌条件下进行快速检测以实现质量控制，确保生产过程中和生产出的产品都能符合要求。1.医疗器械的高通量扫描，以实现质量控制。2.检查比较大尺寸达到20cmx20cmx20cm的药品包装的完整性3.监测和控制内部金属和塑料组件的质量及一致性4.测量内部和外部尺寸，并检测缺陷。XRM可在无损情况下实现内部结构的可视化，避免切片造成的微观结构的改变。

SKYSCAN1272CMOS凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下，即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。而且，由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源，它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因，SKYSCAN1272CMOS的扫描速度比探测器位置固定的常规系统多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS泡沫材料重建数据的多体积图像和彩色编码结构分离同时显示了泡沫泡孔的直径以及开孔泡沫镍支柱的中空特征。像素大小1.0µm泡沫材料在工业上有许多的应用。根据泡沫的材质和结构特性，可以用作隔热或隔音材料，也可以用作保护或过滤装置中的减震结构……XRM可以无损地实现泡沫内部结构的三维可视化。1.确定局部结构的厚度2.确定结构间隔以实现空隙网络的可视化3.通过压缩和拉伸台进行原位力学试验4.确定开孔孔隙度和闭孔孔隙度。封闭式X射线管支持全天候工作,不存在因更换破损的灯丝而停机的情况,为您节约大量时间和成本。福建特殊显微CT哪里好

多量程纳米CTSkyScan 2214，完美的解决了从微米到分米尺寸样品的高分辨率扫描。原位X射线成像

岩石圈是地球外层具有弹性的坚硬岩石，平均厚度约达100公里。它是万物赖以生存和发展的基础环境，同时，人类的各种活动又不断改变着这个环境。而岩石作为当中基本的组成物质，对其物理、力学等性质的认知是一个漫长、重要的过程。250万年前，人类就开始了利用岩石的历程。从初的石刀，石斧到装饰、建材，人类的生活已与岩石密不可分。通常，组成岩石的矿物颗粒都很小，人们靠肉眼很难准确地辨认里面的矿物并确定岩石的结构，所以很长时间以来，人们对岩石的认识只停留在表面阶段。直到1867年，欧洲科学家把偏光显微镜用于鉴定岩石薄片，才为岩石学研究开拓了新的眼界，这也成为岩石学发展史上的一个转折点。原位X射线成像

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